排序方式: 共有110条查询结果,搜索用时 31 毫秒
11.
12.
采用甚高频等离子体增强化学气相沉积技术制备了系列微晶硅薄膜太阳电池,指出了气体总流量和背反射电极的类型对电池性能参数的影响.电池的I-V测试结果表明:随反应气体总流量的增加,对应电池的短路电流密度、开路电压和填充因子都有很大程度的提高,结果使得电池的光电转换效率得以提高.另外,ZnO/Ag/Al背反射电极能明显提高电池的短路电流密度,进而也提高了电池的光电转换效率.对气体总流量和背反射电极类型影响电池效率的原因进行了分析.
关键词:
微晶硅薄膜太阳电池
气体流量
ZnO/Ag/Al背反射电极 相似文献
13.
在高压快脉冲放电装置中,为了启动主回路的火花隙开关,必须有一个幅值高、前沿上升时间小及脉冲宽度足够宽的高压触发脉冲。这样的脉冲常可由闸流管电路或由闸流管电路和高压脉冲发生器组成的联合电路产生。不管在哪种情况下,闸流管电路一般总是不可缺少的。为了解闸流管电路产生的脉冲波形与电路形式及元件参数之间的关系,专门作了实验研究。 相似文献
14.
研究了衬底温度对MOCVD技术制备的ZnO薄膜的微观结构和光电特性影响. XRD和SEM的研究结果表明,衬底温度对ZnO薄膜的微观结构有显著影响,明显的形貌转变温度大约发生在175℃,低于175℃,薄膜呈镜面结构,晶粒为球状,高于177℃的较高温度范围,薄膜从“类金字塔”状的绒面结构演化为“岩石”状显微组织;随着温度增加,薄膜的晶粒尺寸明显增大.绒面结构的未掺杂ZnO薄膜具有17.96 cm2/V·s的高迁移率和3.28×10-2 Ω·cm的低电阻率,对ZnO薄膜的进一步掺杂和结构优化有望应用于Si薄膜太阳电池的前电极.
关键词:
MOCVD
ZnO薄膜
透明导电氧化物
太阳电池 相似文献
15.
使用光发射谱(OES)对甚高频等离子增强化学气相沉积(VHF-PECVD)技术沉积硅薄膜时的等离子体发光基团的空间分布进行了在线监测和研究. 研究表明:等离子体的不同发光基团都存在着一个中间强度较大的区域和两边电极附近的暗区;增大硅烷浓度和提高辉光功率都会增大SiH*峰强度;硼烷的加入,使得SiH*和Hα*峰强度增大,但硼烷流量变化的影响很小;硼烷流量增大,材料的晶化率下降,而I[Hα*]关键词:
甚高频等离子增强化学气相沉积
等离子体
发光基团
空间分布 相似文献
16.
17.
Al2O3介质薄膜与纳米Ag颗粒构成的复合结构,被应用于表面增强Raman散射探测实验中,其中Al2O3介质薄膜对纳米Ag颗粒的吸收谱及增强Raman散射光谱的影响被特别关注.该复合结构的光学特性表征出纳米Ag颗粒的偶极振荡特性.从光吸收谱中可以看到,其共振吸收谱随Al2O3介质薄膜厚度增加而在整个谱域上发生红移,表明纳米Ag颗粒的周围介电常数随Al2O3介质薄膜厚度的增加而增大.采用罗丹明6G作为探针原子,6个Raman特征峰的平均增益值作为表征表面增强Raman散射衬底增益程度的量度.实验结果表明,Al2O3介质薄膜层的引入提高了纳米Ag颗粒的衬底介电常数,并引起了散射共振的增强,从而使表面增强Raman散射强度提高. 相似文献
18.
19.
We propose a new type of Y-branch power splitter and beam expander with scales of microns in two- dimensional (2D) photonic crystals (PCs) by drilling air holes in a silicon slice. Its functionality and performance are numerically investigated and simulated by finite-difference time-domain (FDTD) method. Simulation results show that the splitter can split a TE polarized light beam into two parallel sub-beams and the distance between them is tunable by changing the parameters of the splitter, while the expander can expand a narrow beam into a wider one, which is realized in an integrated optical circuit. The proposed device is based on the avoiding of anomalous reflection effect and the coupling transmission of defect modes of the interfaces. 相似文献
20.