在硅酸盐矿物,玻璃和熔体中Si和Al的配位与局部结构：K—边 …

本文采用步辐射的ＳｉＫ－边Ｘ－射线吸收近边结构（ＸＡＮＥＳ）谱研究了Ｓｉ在ＳｉＯ２－Ｐ２Ｏ５和Ｎａ２Ｏ－ＳｉＯ２－Ｐ２Ｏ５的低压磷硅酸盐玻璃中结构与配位,以及Ｓｉ的配位几何随玻璃中Ｐ２Ｏ５含量而变化：同步辐射的Ａｌ Ｋ－边ＸＡＮＥＳ谱研究了Ａｌ在铝硅酸盐成分为ＮａＡｌＳｉ２Ｏ６－ＮａＡｌＳｉ３Ｏ８的玻璃和熔体中的配位和局部结构,并提供了直接的实验证据该成分的玻璃体系中由于压力的变化所诱导Ａｌ配位的     

ICP-AES法同时测定氯化锂和氢氧化锂中七种杂质元素

本文报导了用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定ＬｉＣｌ和ＬｉＯＨ·Ｈ２Ｏ中７种杂质元素Ａｌ、Ｂａ、Ｃａ、Ｆｅ、Ｍｇ、Ｓｉ、Ｚｎ的分析方法。研究了基体元素锂对被测元素的基体效应，采用基体匹配法与背景扣除法进行校正。被测元素的检出限为０．１－９．４ｎｇ／ｍＬ，加标试验回收率为９２％－１０９％，当杂质元素含量为０．０００１％－０．０２８％时，相对标准偏差小于７％。方法简便、快速、准确，用于样品分析，取得了满意的结果。     

ICP—AES法同时测定硼铁中的主要成分及杂质

本文研究了用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定硼铁中的主要成分Ｂ、Ｆｅ及杂质元素、Ａｌ、Ｍｎ，Ｓｉ的方法。采用碱熔融法分解样品，选Ｃｄ作为内标元素。     

ICP—AES法测定高纯二氧化锆中痕量杂质

介绍了高纯二氧化锆中痕量杂质元素Ｆｅ，Ｎａ，Ｓｉ，Ｔｉ的ＩＣＰ－ＡＥＳ测定方法。样品以浓Ｈ２ＳＯ４及（ＮＨ４）２ＳＯ４溶解，采用空白背景校正法消除基体Ｚｒ的光谱干扰，以基体匹配法补偿基体效应。各元素平均回收率为９５％－１０６％，相对标准偏差为１．３％－３．０％。     

掺Cr3+玻璃陶瓷光谱特性

采用分析纯原料,利用分相成核制备了利用性良好的掺Ｃｒ＾３＋Ｂ２Ｏ３－Ａｌ２Ｏ３－ＳｉＯ２系透明玻璃陶瓷;测定了材料的吸收光谱和发射光谱,分析了讨论了光谱特性。     

彩色水晶的形成机理

本文研究了人工彩色水晶籽晶取向与水晶结构之间的关系，提出了Ｓｉ－Ｏ 四面体沿晶轴Ｚ方向的共轭螺旋孔道和沿Ｘ轴Ｓｉ－Ｏ四面体褶叠螺旋环孔道对掺杂有重要作用．首次发现Ａｌ３＋与Ｃｏ２＋在水晶中共存时Ａｌ３＋色心吸收谱具有新的效应．Ａｌ３＋色心很容易饱和，可使辐照剂量大幅度降低．     

X射线荧光法对镁铬砂成分的定量测定

本文利用Ｘ射线荧光光谱仪同时测定镁铬砂中的ＳｉＯ２、ＣａＯ、Ｆｅ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３、Ｃｒ２Ｏ３、ＭｇＯ等主要成分的含量,采用合理的制片方法消除了矿物效应和颗粒效应,采用基体校正法基本上消除了基体效应。实验表明：该方法简便快速、精密度高、准确好,结果较为满意。     

多孔玻璃微珠的研制

本文作者把研制的Ｎａ２Ｏ－Ｂ２Ｏ３－Ａｌ２Ｏ３－ＳｉＯ２系统玻璃放在自己设计的设备中制成了１～２ｍｍ粒径的玻璃珠，经分相处理、酸溶、水洗，得到了气孔率为２４％左右的多孔玻璃微珠。     

PdO引入对CuO／γ—Al2O3催化剂结构与性能的影响

运用ＰＴＲ,ＳＥＭ,ＸＲＤ阶梯扫描及ＣＯ和ＣＨ４氧化活性测定表征技术研究了ＣｕＯ／γ－Ａｌ２Ｏ３催化剂及负载ＰｄＯ对催化剂性能的影响。结果表明,ＣｕＯ／γ－Ａｌ２Ｏ３催化剂上引入不同含量的ＰｄＯ,使ＴＰＲ还原峰温欠下降。对载体上ＣｕＯ平均晶粒大小的测定表明随ＰｄＯ含量的增加,ＣｕＯ平均晶粒逐渐减小;ＳＥＭ对ＰｄＯ－ＣｕＯ／γ－Ａｌ２Ｏ３催化剂上Ｃｕ元素分布的面扫描测定亦证实了随ＰｄＯ含量的增加,催     

应用小型X射线荧光光谱仪快速测定钾长石的化学成份

本文采用粉末压片法制样,用小型多道波长色散Ｘ射线荧光光谱仪测定钾长石中的ＳｉＯ２Ａｌ２Ｏ３、ＣａＯ、ＭｇＯ、Ｆｅ２Ｏ３、Ｋ２Ｏ、Ｎａ２Ｏ。测定准确度、精密度较好,所得结果满足化学分析误差要求,能完全替代化学分析,将一个钾长石作全分析整个过程只需３０ｍｉｎ,本法快速、简便、结果令人满意。     

X射线荧光光谱法测定钒铁冶炼炉渣中的主要成分

利用X射线荧光光谱仪测定钒铁冶炼炉渣中的TV、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、SiO2等主要化学成分的含量。采用自制标样绘制校准曲线,利用光谱干扰校正系数和基体效应校正系数消除光谱干扰和基体效应。试验结果表明:该方法简便快速、有良好的精密度和准确度,所得结果与湿法化学结果一致,能及时指导钒铁冶炼生产。     

高纯La-Ni-Al合金成分及杂质元素的分析方法研究

叙述了镧－镍－铝（La-Ni-Al)合金分镍、铝及微量杂质元素锌、铁、锰、镁、硅、铜和钙的ICP－AES测定方法。样品以HNO3（1＋1）溶解,稀释后直接测定主量元素镍和铝;用基体匹配法补偿基体效应测定其他杂质元素。各元素回收率在95％－106％,相对标准偏差优于5％。     

X射线荧光光谱法测定烧结锰矿中的主次量成分

采用四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂熔融法制样,X射线荧光光谱法测定了烧结锰矿中的MnO、Fe2O3、SiO2、Al2O3、TiO2、CaO、MgO、SO3和P2O59个主次量成分。以12个锰矿石标准样品建立校准曲线,用理论α系数法校正基体效应。测定烧结锰矿样品各成分的相对标准偏差(RSD,n=10)在0.26%—3.94%之间。用实际样品验证,测定结果与化学方法的测定值相符。与化学法相比,该方法具有快速、简便、精密度好和准确度高等优点。     

X射线荧光光谱法同时测定煤灰中的12种成分

采用熔融制样法,用X射线荧光光谱法同时测定煤灰中的常量、少量和微量成分SiO₂,Al₂O₃,Fe₂O₃,CaO,SO₃,TiO₂,K₂O,Na₂O,P₂O₅,Mg_O,MnO,BaO。选用混合熔剂并加入氧化剂的方式降低熔融温度,解决了硫的准确测量问题。同时通过选用土壤等标准样品解决了煤灰成分标准样品不足的问题。应用可变理论α系数及固定α系数法进行基体效应校正,所得结果与化学法的分析结果相符合。     

ICP-AES分析超导粉中杂质元素的干扰系数矩阵校正法

利用ICP-AES法测定了铋系超导前驱粉（BSCCO）中Fe,Cr,Ni,Si,Al和Ba等微量杂质元素,优化了仪器测定参数并研究了酸的种类及浓度对测定结果的影响。系统研究了BSCCO基体元素Bi,Sr,Pb,Ca和Cu对微量杂质元素测定的干扰,分别测定了每个基体元素对测定元素的校正系数并组成交互干扰校正矩阵,采用全选主元高斯消去法计算出基体元素产生的背景等效浓度,再计算出样品的真实浓度。用此方法对合成标样中的上述微量杂质元素进行了测定,分析结果的回收率99.5％～100.5％,测定了实际样品中的杂质元素,并与ICP-MS法进行了对比,二者结果一致。     

硝化后熔融制样法——X射线荧光光谱同时测定锰矿中主、次元素

采用X射线荧光光谱法同时测定锰矿中Mn,SiO₂,Fe,P,Al₂O₃,CaO,MgO和S等8个组分。因锰矿熔融制样过程中产生气泡现象严重,影响到测定的准确性和重现性,文章提出了先加硝酸破坏锰矿样品中的有机物,然后用12∶22混合熔剂在1 000 ℃熔融制样的方法,解决了锰矿熔融制样过程中有机物挥发产生大量的气泡导致熔剂飞溅的问题,消除了试样的粒度效应和矿物效应,同时也解决了硫元素在制样过程中容易挥发的难题。对熔剂、熔融时间、硝酸加入量等制样条件进行了选择,并采用可变理论α系数法校正基体的吸收增强效应,扩大了测定线形范围,进行了方法的精密度及准确度试验。与化学法对比,本法测定锰矿中各组分的定量分析结果令人满意,方法准确、快速、简便。     

ICP-AES法快速测定球团铁矿中的总铁、二氧化硅、氧化钙、氧化镁及三氧化二铝

应用ICP-AES法快速测定球团铁矿中的总铁、二氧化硅、氧化钙、氧化镁及三氧化二铝的含量。对测试仪器条件及元素谱线等相关参数进行实验和优化，对3种样品前处理方法所能达到的测试目标进行实验对比，对基体干扰及方法的准确度和精密度进行研究，并用标准物质验证。     

4H-SiC基底Al_2O_3/SiO_2双层减反射膜的设计和制备

在4H-SiC基底上设计并制备了Al2O3SiO2紫外双层减反射膜,通过扫描电镜(SEM)和实测反射率谱来验证理论设计的正确性.利用编程计算得到Al2O2和SiO2的最优物理膜厚分别为42.0 nm和96.1 nm以及参考波长λ=280 nm处最小反射率为0.09%.由误差分析可知,实际镀膜时保持双层膜厚度之和与理论值一致有利于降低膜系反射率.实验中应当准确控制SiO2折射率并使Al2O3折射率接近1.715.用电子束蒸发法在4H-SiC基底上淀积Al2O3SiO2双层膜,厚度分别为42 nm和96 nm.SEM截面图表明淀积的薄膜和基底间具有较强的附着力.实测反射率极小值为0.33%,对应λ=276 nm,与理论结果吻合较好.与传统SiO2单层膜相比,Al2O3SiO2双层膜具有反射率小,波长选择性好等优点,从而论证了其在4H-SiC基紫外光电器件减反射膜上具有较好的应用前景.     

加氢催化剂中稀土及钼、钴含量的X-射线荧光光谱测定方法的研究

使用X 射线荧光光谱仪 ,采用人工合成标样 ,粉末直接压片和经验系数校正基体效应的方法 ,建立了加氢催化剂中稀土氧化物及氧化钼、氧化钴含量的测定方法。研究了制样方法、光谱条件 ,讨论了元素间的相互影响。测定范围MoO3:7%～ 13% ,CoO :2 %～ 7% ,RE2 O3:3%～ 6 %。该方法不仅快速、简便 ,而且准确度和精密度较好 ,在上述范围内 ,测定各元素的RSD均小于 2 %。此方法已用于大量样品的分析 ,测定结果与其他方法相符。     

ICP－AES浓度比可变内标法测定出口镁砂

本文以单道中阶梯米栅ＩＣＰ光谱仪，用浓度比可变内标法，辅以灼烧减量，测定镁砂中氧化镁．二氧化硅，三氧化二铝，三氧化二铁，氧化钙以及二氧化钛等成分。其精密度和准确度都可满足出口镁砂规范要求。