例谈物理过程分析对解题的作用

论述了分析物理过程对解题的作用,包括挖掘隐含条件、了解各物理量的变化、确定物理模型、排除干扰因素找到临界状态和条件等.     

双杆架导轨问题的再讨论

通过建立“双杆架导轨”的物理模型,对“双杆架导轨问题”进行了较为深入的讨论．     

液态结构与性质关系Ⅲ——剩余键理论模型

利用剩余键的思想, 通过数学推导, 建立定量描述金属熔体结构与黏度关系的物理模型, 提出黏度的微观结构变化特性为熔体剩余键结构尺寸d的演变; 应用建立的模型理论计算液相线以上一定温区镁熔体和铝熔体的运动黏度, 得到函数关系式分别为v_Mg=3.17×10^-7+3.04×10^-7· d和v_Al=1.65×10^-7+1.05×10^-7·d, 这与采用坩埚扭摆振动法的实验测量结果相符合. 该模型从化学结合键角度揭 示了金属熔体的结构微观不均匀性及其黏度的微观物理本质, 为金属熔体黏度的理论计算提供了一种新的途径. 这对于深入认识液态金属的微观结构及其与宏观物性之间的关系具有重要意义.     

金属氧化物半导体场效应管热载流子退化的1/fγ噪声相关性研究

研究了金属氧化物半导体(MOS)器件在高、中、低三种栅压应力下的热载流子退化效应及其1/fγ噪声特性.基于Si/SiO2界面缺陷氧化层陷阱和界面陷阱的形成理论,结合MOS器件1/f噪声产生机制,并用双声子发射模型模拟了栅氧化层缺陷波函数与器件沟道自由载流子波函数及其相互作用产生能级跃迁、交换载流子的具体过程.建立了热载流子效应、材料缺陷与电参量、噪声之间的统一物理模型.还提出了用噪声参数Sfγ表征高、中、低三种栅应力下金属氧化物半导体场效应管抗热载流子损伤能力的方法.根据热载流子对噪声影响的物理机制设计了实验并验证这个模型.实验结果与模型符合良好.     

并联稳压电源和串联稳压电源的内在关系探悉

直流稳压电源的电路经典、应用广泛，因而要求必须较好的掌握其原理及应用．按其工作原理的不同将其分为并联型、串联型和开关型三种形式，各立篇章孤立介绍，学习有些难度，不利于理解掌握．然而笔者从电路系统设计的角度出发，经研究发现并联型和串联型直流稳压电源之间有着较强的内在联系，它们实际上是同一个物理模型下的两个派生电路．     

横看成岭侧成峰 仔细品味各不同——一次“同课异构”引发的思考

2015年12月2日,我校举行了“基于大数据分析实施精准化教学”为主题的公开课展示活动.笔者有幸聆听了盐城中学李老师和梅村中学范老师教授的“函数f(x) =Asin(ωx+φ)的图像”同课异构课程.通过这两节课的学习,笔者受益匪浅,在思维的碰撞中引发对同课异构的进一步思考.     

一个最值问题的物理模型

题 1　已知ａ >0 ,ｂ >0 ,0 <ｘ <π2 ,求函数ｆ(ｘ) =ａｓｉｎｘ ｂｃｏｓｘ的最小值 .图 1　题 1图解　如图 1,ＡＰＢ为一以 |ＡＢ|=1为直径的半圆 ,设Ａ点有带电为ａ的点电荷 ,Ｂ点有带电为ｂ的点电荷 .对于弧上一点Ｐ ,令∠ＰＡＢ =ｘ ,则ＡＰ =ｓｉｎｘ ,ＰＢ =ｃｏｓｘ ,根据点电荷Ｕ =ｋ Ｑｒ 及电势叠加原理 .则Ｐ点电势ＵＰ=ｋａｓｉｎｘ ｋｂｃｏｓｘ=ｋ(ａｓｉｎｘ ｂｃｏｓｘ) (ｋ为静电常数 ) .这样 ,原问题便转化为在ＡＰＢ上找一点Ｐ0 ,使ＵＰ0 为最小值 .设想有一单位正电荷ｅ从Ｂ点沿圆弧自由运动 ,由其总能量守恒可知 ,当…     

光诱导纳米二氧化钛超新水薄膜SPM图像分析和氧空位浓度理论探讨

选用典型的二氧化钛纳米超亲水薄膜,用扫描探针显微镜（SPM）和电化学测试系统进行了一般性的表征。着重运用固体化学和纳米力学的原理,对SPM图像、氧空位浓度和超亲水性的机理进行理论分析;进一步解释了作者于1999年底提出的,与润湿性能有关的二氧化钛缺陷生成反应方程、普通表面物理模型、两憎（amphiphobic)表面概念和材料表面设计问题。     

导弹贮存可靠性评估

本文针对导弹上不同部件在长期贮存中、所受影响不同及可修性不同等特点 ,将弹上部件分为五类 .在此基础上、研究给出了该类导弹的贮存可靠性物理模型和相应的数学模型 ,可称作配套系统模型 ,并通过一个简单实例介绍了具体计算方法