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在物体变形场的测量中,云纹干涉的载频调制技术有重要作用.在云纹干涉中,对称光照明产生的衍射光沿试件栅表面的法线传播并产生干涉.通过改变照明光的入射角度,可实现变形条纹场的空间调制.通过光程差的分析说明了载波条纹产生的机理,得出了载波频率与照明光入射角度变化之间的关系式.利用三点弯曲加载结合二维载频调制实验,给出了实验结果.证明了在初始条纹较少的情况下,载频调制技术能有效地测量物体的位移场. 相似文献
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作为试件变形传感元件的云纹光栅的制作是云纹干涉法的关键技术。本文提出了在120~200℃高温下使用的光刻胶光栅模板的制作及在此温度下试件栅的复制工艺,并利用此技术研究了新型微电子封装组件在125~20℃温度载荷下的热变形。实验结果表明:采用该方法可以获得高质量的试件栅,云纹条纹质量好,可用于试件微小区域内热变形的精确测量 相似文献
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本文详细讨论了试件在空间六个自由度中产生刚体运动时所形成的云纹图特性,定量地分析了各种刚体运动形式对云纹干涉法的影响。经分析表明:在用云纹干涉法测量变形位移场时,只有当试件绕坐标轴刚体转动时才会影响所测变形位移场。 相似文献
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运用光的干涉与衍射理论,导出了对称入射光路云纹干涉法面内位移计量的基本公式。针对云纹干涉法在实际应用中易引入刚体位移对真实面内位移干扰这一棘手问题,设计了定量补偿面内位移和变形的非对称光栅补偿光路系统。由于采用高灵敏度基准光栅调节的方法,比螺旋测微器等纯机械方法具有众多优越性。本文分析了该补偿方法对面内正应变条纹梯度和面内剪应变条纹梯度的补偿原理和具体实施过程。本方法大大提高了云纹干涉法面内位移计量和补偿的可靠性。 相似文献
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介绍了一种用于测试面内三个应变分量的应变测量技术,在试件表面预先压制三个压痕,通过激光照射压痕,经衍射后干涉,产生干涉图。通过分析变形前后干涉斑点的光强值的变化来对待测位置进行应变测量。实验表明该方法对待测试件表面损伤小,且压痕应变花尺寸小,是一种新的光学应变测试技术,不仅可以用来进行普通应变测量,尤其对解决小空间应变测试问题有其独特的优点。 相似文献
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平行式向列液晶实现相移剪切电子散斑干涉术的研究 总被引:1,自引:1,他引:0
研究了向列型液晶的相位调制特性,采用平行式向列液昌作为相移器建立了相移剪切电子散斑干涉计量系统。该方法将相移技术引入到剪切电子散斑干涉术中,提高了检测精度,采用了相关条纹法求解相位,简化了计算;相移方法简单,可靠。用该系统进行应变场的测量实验,取得了满意的效果。 相似文献
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云纹干涉法面内位移测量的光栅补偿方法研究 总被引:2,自引:0,他引:2
分析导致云纹干涉法面内位移和应变测量的根本原因,给出对称入射光路云纹干涉法面内位移计量的基本公式,设计定量补偿面内位移和变形的非对称光栅补偿光路系统。最后证明基准光栅补偿方法的可行性和可靠性。 相似文献