全文获取类型
收费全文 | 549篇 |
免费 | 229篇 |
国内免费 | 114篇 |
专业分类
化学 | 215篇 |
晶体学 | 16篇 |
力学 | 64篇 |
综合类 | 15篇 |
数学 | 87篇 |
物理学 | 495篇 |
出版年
2024年 | 1篇 |
2023年 | 12篇 |
2022年 | 17篇 |
2021年 | 13篇 |
2020年 | 17篇 |
2019年 | 16篇 |
2018年 | 26篇 |
2017年 | 11篇 |
2016年 | 15篇 |
2015年 | 19篇 |
2014年 | 28篇 |
2013年 | 28篇 |
2012年 | 22篇 |
2011年 | 29篇 |
2010年 | 41篇 |
2009年 | 67篇 |
2008年 | 56篇 |
2007年 | 52篇 |
2006年 | 49篇 |
2005年 | 80篇 |
2004年 | 35篇 |
2003年 | 22篇 |
2002年 | 25篇 |
2001年 | 22篇 |
2000年 | 19篇 |
1999年 | 14篇 |
1998年 | 13篇 |
1997年 | 15篇 |
1996年 | 19篇 |
1995年 | 11篇 |
1994年 | 21篇 |
1993年 | 10篇 |
1992年 | 10篇 |
1991年 | 12篇 |
1990年 | 16篇 |
1989年 | 13篇 |
1988年 | 2篇 |
1987年 | 4篇 |
1985年 | 1篇 |
1984年 | 2篇 |
1983年 | 3篇 |
1982年 | 1篇 |
1975年 | 1篇 |
1965年 | 1篇 |
1957年 | 1篇 |
排序方式: 共有892条查询结果,搜索用时 15 毫秒
81.
Structure and Photoluminescence of Nano-ZnO Films Grown on a Si (100) Substrate by Oxygen- and Argon-Plasma-Assisted Thermal Evaporation of Metallic Zn 下载免费PDF全文
Nano-ZnO thin films were prepared by oxygen- and argon-plasma-assisted thermal evaporation of metallic Zn at low temperature, followed by low-temperature annealing at 300℃ to 500℃ in oxygen ambient. X-ray diffraction patterns indicate that the nano-ZnO films have a polycrystalline hexagonal wurtzite structure. Raman scattering spectra demonstrate the existence of interface layers between Zn and ZnO. Upon annealing at 400℃ for i h, the interface mode disappears, and photoluminescence spectra show a very strong ultraviolet emission peak around 381 nm. The temperature-dependent PL spectra indicate that the UV band is due to free-exciton emission. 相似文献
82.
Effect of Alumina and Chromium Interlayers on Microstructures and Optical Properties of Thin Ag Films on Glass Substrates 下载免费PDF全文
Effects of alumina and chromium interlayers on the microstructure and optical properties of thin Ag films are investigated by using spectrophotometry, x-ray diffraction and AFM. The characteristics of Ag films in Ag/glass, Ag/l2O3/glass and Ag/Cr/glass stacks are analysed. The results indicate that the insertion of an Al2O3 or Cr layer decreases the grains and influences the reflectance of Ag films. The reflectance of the Ag film can be increased by controlling the thickness of alumina interlayer. The stability of Ag films is improved and the adhesion of Ag films on glass substrates is enhanced by alumina as an interlayer. 相似文献
83.
84.
85.
A series of thin Ag films with different thicknesses grown under identical conditions are analyzed by means of spectrophotometer. From these measurements the values of refractive index and extinction coefficient are calculated. The films are deposited onto BK7 glass substrates by direct current (DC) magnetron sputtering. It is found that the optical properties of the Ag films can be affected by films thickness. Below critical thickness of 17 nm, which is the thickness at which Ag films form continuous films, the optical properties and constants vary significantly with thickness increasing and then tend to a stable value up to about 40 nm. At the same time, X-ray diffraction measurement is carried out to examine the microstructure evolution of Ag films as a function of films thickness. The relation between optical properties and microstructure is discussed. 相似文献
86.
利用Nd∶YAG调Q单脉冲激光和自由脉冲激光对硬膜窄带干涉滤光片进行激光损伤阈值的测试,并且采用表面热透镜技术测量了滤光片的吸收率。实验发现:窄带干涉滤光片的吸收率和激光损伤阈值强烈依赖于辐照激光波长与窄带干涉滤光片通带的相对位置;在调Q单脉冲激光作用下,不同中心波长的滤光片损伤形貌存在明显的差别,而在自由脉冲激光作用下,各滤光片的损伤形貌则趋于相同,均表现为典型的热熔烧蚀破坏。根据实验结果,结合损伤形貌,通过驻波场理论对激光作用下滤光片内电场分布的分析与模拟,探讨了两种激光模式作用下滤光片的损伤特征和损伤机理的不同特点。 相似文献
87.
用电子束蒸发方法制备了HfO2薄膜,根据镀膜前后基片曲率半径的变化,用Stoney公式计算了薄膜应力,讨论了沉积温度对薄膜残余应力的影响。结果发现,HfO2薄膜的残余应力均为张应力,应力值随沉积温度的升高先增大后减小,在280 ℃左右出现极大值。对样品进行了XRD测试,从微观结构上对实验结果进行了分析,发现微结构演变引起的内应力变化是引起薄膜残余应力改变的主要因素,HfO2薄膜在所选沉积温度60~350 ℃内出现了晶态转变,堆积密度随温度升高而增大。 相似文献
88.
It is well known that conventional multi-layers are oftenused for antireflective coatings[1,2]. There are, however,only a handful of optical materials available, thus limit-ing the performance that could ideally be achieved. Onthe other hand, sub-wavelength structure surfaces, whichare surface-relief gratings with periods smaller than theincident wavelength, have been researched and foundto have antireflective properties[3,8]. Compared withstandard optical thin-film coating technologies, the h… 相似文献
89.
将函数Laurent展开定理及留数概念应用于有理分式得到将有理分式化为部分分式的一种行之有效的方法. 相似文献
90.