柔性透明导电薄膜(ITO)简介

柔性透明导电薄膜 (ＩＴＯ)是一种新型半导体材料 ,目前主要依赖进口 ,但价格昴贵 ,国内生产厂家较少。深圳市北庆薄膜技术有限公司经多年研制、开发 ,形成了年产 50 ,0 0 0ｍ2 透明导电膜 (ＩＴＯ)的能力 ,产品质量完全可以替代同类进口产品。北庆公司所生产的导电膜具有重量轻、体薄、导电性能好、附着力强、透过率高、耐冲击、可弯曲、可任意冲裁加工等优点。该产品可以用作光电子器件的透明电极、电磁静电屏蔽的透明视窗、观察窗以及防霜加热膜 ,还可以用在特殊要求的透明器件上作防静电包装。在某些方面它可以取代导电玻璃 ,并且可以开…     

直齿园锥齿轮背锥上齿廓测量座标的计算

本文提出了直齿圆锥齿轮背锥上齿廓测量座标的一种新的计算公式,用该公式计算出一批直齿圆锥齿轮齿廓座标数据。同老公式的计算数据进行比较以及实测表明,在少齿数时,老公式计算出的数据偏大。     

一种抗生育有效成份-芫花酯丁的1H NMR结构鉴定

本文报道了用¹H NMR法测定瑞香科植物芜花的花蕾中提取的一种抗生育有效成份-芜花酯丁的结构。以同核相关谱及自旋去偶实验确定部分谱峰的归属,结果表明其结构为I。     

分子烙印技术进展

本文系统地介绍了分子烙印技术的发展现状及其在各个方面的应用。共引用文献91 篇。     

气相色谱保留指数通用数据库的研究（三）不同柱温模式下保留指数的相互转换

由于升温模式（Ｔ_０，ｒ）、色谱柱和操作参数（Ａ，Ｔ_ｂ，β）的差别，使得Ｔ_Ｒ不同而影响Ｉ_（ＴＰ）的可比性，其影响的大小随恒温保留指数ＲＩ的温度系数的增加而增加。同时，由于Ｔ_Ｒ与ｎ偏离了线性关系，采用保留温度线性插值方法计算Ｉ_（ＴＰ），方法本身就在一定程度上会使Ｉ_（ＴＰ）的可比性差，即使恒温ＲＩ的温度系数为零，Ｉ_（ＴＰ）也会随ＧＣ条件而改变。根据恒温与线性程升的保留值方程建立的各种柱温模式下的保留指数相互转换方法能准确快速地预测不同柱温模式下的保留指数，以此来建立通用数据库以适应不同的分析条件的需要，特别是从２种升温模式出发预测其它柱温模式下的保留值能更方便地对复杂样品的分离条件进行优化。     

仪器分析实验教学改革初探

针对大循环仪器分析实验学生上机时间少、积极性不高、教学效果不佳的情况,对仪器分析实验进行分阶段教学改革。阐述了分阶段教学的做法和效果,讨论了改革的体会。     

毛细管电泳直接分析与水不互溶溶液中痕量物质的新方法

本文采用在线反萃取-场放大进样方法实现了毛细管电泳与溶剂微萃取的直接联用.     

水溶性有机溶剂中痕量阴离子的离子色谱测定及机理研究

采用阴离子交换分离,化学抑制模式,对甲醇、乙腈、异丙醇等有机溶剂中的阴离子进行测定.各有机溶剂稀释1倍直接进样可以测定Cl-、NO3-、SO42-,在所采取的色谱条件下,三种阴离子都具有很好的线性和较低的检测限.比较采用自动再生循环模式,利用化学抑制模式的离子色谱法是一种检测有机物中阴离子的高效、准确的方法.     

具有离散和分布时滞的Lotka-Volterra竞争系统

In this paper.the Lotka-Volterra competition system with discrete and distributed time delays is considered.By analyzing the characteristic equation of the linearized system,the local asymptotic stability of the positive equilibrium is investigated.Moreover,we discover the delays don't effect the stability of the equilibrium in the delay system.Finally,we can conclude that the positive equilibrium is global asymptotically stable in the delay system.     

磁控溅射法制备极紫外6.8～11.0nm波段Mo/B_4C横向梯度多层膜（英文）

用直流磁控溅射法结合掩模板控制膜厚的方法在Si衬底上制备了工作于6.8～11.0nm波段的[Mo/B_4C]60横向梯度多层膜。利用X射线掠入射反射测试以及同步辐射反射率测试对梯度多层膜的结构及性能进行了测试。X射线掠入射反射测试结果表明,多层膜周期厚度沿着长轴方向从4.39nm逐渐增加到7.82nm,周期厚度平均梯度为0.054nm/mm。对横向梯度多层膜沿长轴方向每隔5mm进行了一次同步辐射反射率测试,结果显示,横向梯度多层膜在45°入射角下的反射率约为10%,反射峰的半高全宽介于0.13nm到0.31nm之间。