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991.
992.
Synthesis and Structural Characterization of [Mn(sapn)(H2O)2]Br 总被引:1,自引:0,他引:1
1 INTRODUCTION Many of the recent advances in the coordination chemistry of manganese have been driven by the involvement of the manganese in several biological redox-active systems[1,2], of which the most important is the oxygen-evolving complex (EOC) of photosystem II (PS II) in green plants [3]. Since the preparations and structural characterizations of the complexes containing N,O-donor ligands have been studied extensively as simple active-site models for the photosystem II[4,5]… 相似文献
993.
稀土氨基酸固体络合物的合成及结构分析进展 总被引:16,自引:2,他引:16
本文综述了稀土氨基酸络合物的合成,以及应用红外、核磁、X-射线衍射、热分析等方法进行结构分析研究的进展情况。 相似文献
994.
116例冠心病患者血清中铜铬锰钴镍钒含量的探讨 总被引:1,自引:0,他引:1
测定了116例冠心病患者血清中铜、铬、锰、钴、镍、钒的含量并与正常值比较,显示含量升高才是有铬和镍,降低者有钴和钒、无差异者有铜和锰。 相似文献
995.
用FTIR和UV-Vis研究了2个系列不同V和K负载量的VOx/TiO2和K-VOx/TiO2催化剂结构的变化;并使用程序升温氧化反应技术对这两种催化剂催化柴油炭黑燃烧活性进行了考察.结果表明,当VOx/TiO2催化剂中n(V)∶n(Ti)=0.04时,催化剂活性最好(tm=389℃).添加K能显著改善VOx/TiO2催化剂活性,n(K)∶n(V)∶n(Ti)=0.04∶0.04∶1时,炭黑燃烧的反应温度最低(tm=343℃).FTIR和UV-Vis结果表明,当VOx/TiO2催化剂n(V)∶n(Ti)>0.04∶1时,催化剂表面有V2O5形成,由于V2O5氧化能力较弱,因而催化剂的活性反而降低.而当K-VOx/TiO2催化剂中n(K)∶n(V)达到1∶1时,由于形成的KVO3物种与TiO2载体有很好的协同作用,所以催化剂活性最好. 相似文献
996.
997.
998.
999.
1000.
Frequency and voltage-dependent electrical and dielectric properties of Al/Co-doped PVA/p-Si structures at room temperature 下载免费PDF全文
In order to investigate of cobalt-doped interracial polyvinyl alcohol (PVA) layer and interface trap (Dit) effects, A1/p- Si Schottky barrier diodes (SBDs) are fabricated, and their electrical and dielectric properties are investigated at room temperature. The forward and reverse admittance measurements are carded out in the frequency and voltage ranges of 30 kHz-300 kHz and -5 V-6 V, respectively. C-V or er-V plots exhibit two distinct peaks corresponding to inversion and accumulation regions. The first peak is attributed to the existence of Dit, the other to the series resistance (Rs), and interfacial layer. Both the real and imaginary parts of dielectric constant (er and err) and electric modulus (Mr and Mrr), loss tangent (tan~), and AC electrical conductivity (aac) are investigated, each as a function of frequency and applied bias voltage. Each of the M~ versus V and Mrr versus V plots shows a peak and the magnitude of peak increases with the increasing of frequency. Especially due to the Dit and interfacial PVA layer, both capacitance (C) and conductance (G/w) values are strongly affected, which consequently contributes to deviation from both the electrical and dielectric properties of A1/Co-doped PVA/p-Si (MPS) type SBD. In addition, the voltage-dependent profile of Dit is obtained from the low-high frequency capacitance (CLF-CHF) method. 相似文献