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991.
本文在77至573K温区研究了Ar~ 诱导的Au-Si<111>界面的原子混合现象。温度对混合结果有强烈的影响。Q_((S)_i)—T曲线的特征与Cr-Si等体系是不同的;得到了具有确定组份比的Au_(48)Si_(51)(≈AuSi)均匀混合层;T>32℃时,深入到Si中的Au原子呈指数衰减的尾巴,为解释此指数尾巴,提出了填隙原子增强扩散机制及方程。 相似文献
992.
用光电子能谱研究了(Bi.Cd)Sr_2(Ln,Ce)_(?)Cu_2O_y的电子结构,以及其与铝之间的反应.芯能级结果表明:(Bi,Cd)Sr_2(Ln,Ce)_(?)Cu_2O_y系列中n=1,2和3三种材料的结果基本一致,并且类似其它超导材料中相同元素的芯能级结果.在(Bi,Cd)Sr_2(Ln,Ce)_(?)Cu_2O_y与铝的界面处,铝与(Bi,Cd)Sr_2(Ln,Ce)_(?)Cu_2O_y中的元素发生强烈反应,Bi—O,Sr—O和Cu—O键受到破坏,铜的价态从+2变为+1,并且同时伴随着超
关键词: 相似文献
993.
994.
995.
996.
金属中表面和界面散射的量子力学处理 总被引:1,自引:0,他引:1
通过建立量子力学散射模型,运用格林函数的解析方法,分别研究电子在两种金属模型中的传播机制,并相应得到电子在粗糙界面处的透射系数、镜面反射系数及在粗糙表面处的镜面反射系数. 相似文献
997.
A continuous method is presented to deal with the discontinuous physical properties on both sides of solid/liquld interface during the solidification process. Then single dendrite evolution in two and three dimensions is simulated by using this method. Multi-grain evolution is also simulated during solidification by the method. The method is easy to be understood and does not need all details of dendrite. The simulated results can reflect the random characteristic of dendrite evolution and the micro-segregation of solute. 相似文献
998.
By the application of the theory of complex functions, asymmetrical dynamic propagation problems on mode Ⅲ interface crack are studied. The universal representations of analytical solutions are obtained by the approaches of self-similar function. The problems researched can be facilely transformed into Riemann-Hilbert problems and analytical solution to an asymmetrical propagation crack under the condition of point loads and unit-step loads, respectively, is acquired. After those solutions were used by superposition theorem, the solutions of arbitrarily complex problems could be attained. 相似文献
999.
本文将刚性线夹杂与弹性圆夹杂的相互作用,归为解一个标准的柯西型奇异积分方程,获得了刚性夹杂端点的应力强度因子及夹杂的界面应力. 相似文献
1000.
软X射线Mo/Si多层膜反射率拟合分析 总被引:12,自引:5,他引:7
由于多层膜的表界面粗糙度和材料之间的相互扩散等因素,导致多层膜的实际反射率小于理论计算的反射率,因此,多层膜结构参量的确定对镀膜工艺参量的标定具有重要意义。由于描述单个非理想粗糙界面散射的Stearns法适用于软X射线短波段区域,采用它的数学模型来描述软X射线多层膜的粗糙度,利用最小二乘法曲线拟合法对同步辐射测得的Mo/Si多层膜的反射率曲线进行拟合,得到了非常好的拟合结果,从而确定了多层膜结构参量,同时分析了多层膜周期厚度,厚度比率,界面宽度以及仪器光谱分辨率对多层膜反射特性的影响,这些工作都为镀膜工艺改进提供了一定的理论依据。 相似文献