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131.
本文用XRD,IR,Raman,SEM和ESR等方法研究了系列氧化物Bi_2Mo_(3-3x)Nb_(2x)O_(12-4x)(X=0.00,0.02,0.05,0.10,0.15,0.20,0.25)的结构和对丙烯氧化的催化活性,结果表明,在X≤0.25范围内,催化剂基本保持典型的α-Bi_2Mo_3O_(12)结构,少量Nb~(5+)的掺杂,可取代晶格中的Mo~(6+),产生氧空位,无序分布的氧空位的浓度先随X值的增加而增加,当X=0.15时达最大值,催化剂对丙烯氧化的催化活性与这种氧空位的浓度成正比,反应遵循Redox机理. 相似文献
132.
用Hückel-Hubbard理论及作者所建议的参数化方法,对碱金属团簇AH、AH+An-(A=Li,Na,K;n≤5)的结构和碎化进行计算和分析.结果表明:n≤5时团簇呈平面结构,几率大的碎化对应着中性单原子或中性二聚物的生成,团簇的稳定性随n的变化呈现出奇偶性,中性簇与离子簇的奇偶性相反,这些定性结果与实验及其它更精确算法的结果基本一致. 相似文献
133.
使用Cu-ZnO体系催化剂可使CO和H_2在250—300℃和6MPa的温和条件下生成较多的C_2—C_4醇。实验表明,醇的生成是在Cu-ZnO双组份上进行的,产物中C_2—C_(?)醇的含量与催化剂的Cu/Zn比值有关,最佳值是4:5。添加少量K_2O可提高C_2—C_(?)醇的生成量。在K_2O存在下,采用CO:H_2=1:2的原料气,当空速为7000h~(-1)时,液体产物中的C_2-C_(?)醇可达15%。实验结果还表明,催化剂各组份之间有一最佳比值,以Cu:Zn:Al=4:5:1最佳。 相似文献
135.
136.
基于半经典电子转移理论,结合量子化学计算,城HF/DZP水平上,研究外电场作用下平行的苯分子-苯正离子自由基体系(C6H4)2^+的分子内电子转移问题。在给体和受体几何构型优化的基础上,用线性反应坐标确定电子转移过渡态,分别用两态变分方法和基于Koopmans定理的分子轨道跃迁能方法计算电子转移矩阵元VAB,讨论了VAB对给体和受体中心距d的指数衰减关系,取中心距为0.6nm,研究了外电场对反应热 相似文献
137.
在市场无套利、无摩擦和无风险利率为常数假定下,分别讨论了无红利配发和有红利配发情形时,一种新型期权—双重看涨期权的定价问题,主要利用套期保值策略对期权定价进行了若干估计,给出了上下界. 相似文献
138.
We report the spectroscopic properties and thermal stability of Tm^3+-doped Ga2O3-GeO2-Bi2O3-PbO(PbF2) glasses for 1.47-μm optical amplifications. Effects of PbF2 doping on the optical properties and thermal stability of Tm^3+ -doped gallate-germanium-bismuth-lead glass are inestigated. The measured peak wavelength and full width at half-maximum of the fluorescence are 1465nm and - 120 nm, respectively: Siguificant enhancement of the 1.47-μm emission and the lifetime of a a^3H4 level with increasing PbF2 doping have been observed. The presence of GeO2 provides two potentials of increasing the thermal stability and shortening the ultraviolet cutoff band of host glasses. 相似文献
139.
针对卫星轨道上的空间环境辐射引起电子元器件参数退化问题, 为了研究光电器件空间辐射效应、损伤机理以及参数退化规律, 对某国产埋沟科学级电荷耦合器件(charge-coupled devices, CCD)进行了10 MeV质子辐照试验、退火试验及辐射效应理论模型研究. 试验过程中重点考察了器件的暗信号和电荷转移效率特性的变化. 试验结果表明, 器件的主要性能参数随着质子辐照注量的增大明显退化, 在退火过程中这些参数均有不同程度的恢复. 通过对CCD敏感参数退化规律及其与器件工艺、结构的相关性进行分析, 并根据半导体器件辐射效应理论, 推导了器件敏感参数随质子辐照注量变化的理论模型, 得到了暗信号及电荷转移效率随辐照注量退化的半经验公式. 上述工作可为深入开展CCD抗辐射性能预测、抗辐射工艺改进与结构优化提供重要参考. 相似文献
140.