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一、前言近年来,X射线光电子能谱(简称XPS)已成为表面科学研究中主要的物理方法之一。此法用X射线作为激发源,测量自由分子及固态物质中元素的轨道电子结合能。当某种元素的原子与其他元素的原子化合成分子时,如果原子的键合状态和价态结构不同,所得到的XPS谱图通常会发生不同的化学位移。由于谱仪分辨能力的限制以及这种化学位移一般较小,常常是若干个能谱峰迭加在一起,形成了一个“包络峰”。为了获得物质中某些特定元素的化学状态信息,必须将“包络峰”解析为组分峰。因此,在XPS谱图原始数据数学处理过程中,选择适宜的解迭方法,是谱图理论解析的重要步骤之一。 相似文献
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X射线光电子能谱法分析爆炸残留物 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了用X射线光电子能谱法(XPS)对某爆炸案件的爆炸残留物进行定性、定量分析,同时以X射线荧光光谱仪(XRF)、扫描电镜能谱仪(SEM/EDX)为辅助测试手段,判断为氯酸盐类炸药,所用炸药为烟火剂。结果表明:XPS可以无损、快速地检测出无机爆炸残留物的元素成分及含量,并确定主要爆炸成分的化学式,进而确定罪犯所用炸药的种类,为侦破案件提供线索。 相似文献
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X射线光电子能谱仪的开放使用与管理 总被引:1,自引:1,他引:0
X射线光电子能谱仪(XPS)是材料表面元素定性和半定量分析的重要手段之一,是表面分析科研工作的必备仪器.为提高测试效率,实施了大型仪器设备开放共享优化,总结了在推动XPS开放过程中管理的经验和体会. 相似文献
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采用Al靶微聚焦单色器光电子能谱仪进行XPS测试时,如果样品高度选择不好,会导致测得的光电子峰强度降低. 而对于一些电子结合能较高的元素,其光电子峰会变宽,有时出现双峰. 分析了该现象的原因是X射线光斑、电子中和枪中和区域以及光电子能量接收区域没有聚焦于同一点. 相似文献
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用X射线光电子能谱(XPS)测定了五种铬化合物、六种磷化合物的2p光电子结合能值,记录了制备条件相同但焙烧温度不同的一系列P-SiO_2,Cr-SiO_2,Cr-P-SiO_2催化剂样品的XPS谱图。由这些谱图可以看出催化剂的Cr_(2p),P_(2p),O_(1s),Si_(2p)光电子峰结合能的变化和谱峰强度的变化与焙烧温度有关;在焙烧过程中,催化剂的活性组分铬由Cr(Ⅵ)变为Cr(Ⅲ),P_(2p),0_(1s),Si(2p)光电子峰的强度也发生变化。我们还观察到在X射线辐照下或Ar~+离子刻蚀下的催化剂中活性组分铬的还原现象。 相似文献
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X射线光电子能谱仪是材料表面元素定性和半定量分析,尤其是元素化学态分析的重要手段之一. X射线光电子能谱仪的分析腔连接质谱仪进行分析,可有效获得样品表面元素变化及气体产物,实现原位同步分析. 基于炸药CL-20在光作用下存在着明显的分解现象,采用X射线光电子能谱-气体质谱同步分析方法(XPS-MS)获得CL-20在电子束作用下的表面元素及气体产物的变化. 试验结果表明,随着辐照时间增加,N、O元素峰峰强迅速下降,同时质谱仪可以有效获得气态产物峰,证实XPS-MS同步分析技术能够有效地实现对固态光降解反应的原位同步追踪. 相似文献
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X-射线光电子能谱仪(XPS)是表面分析领域的重要工具,其快速发展促进了表面化学领域研究的深入.正确的使用和良好的维护不仅可以确保XPS始终保持良好的运行状态,还可以延长它的使用寿命.结合作者在实验室的工作经验和体会,从测试和维护仪器等方面介绍了管理和维护的经验,为相关人员提供参考. 相似文献
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X射线光电子能谱(XPS)广泛应用于材料表面分析表征,因XPS分析方法的主观性相对较强,谱图测试及分析水平会对数据分析质量产生很大影响。为获得更好的数据质量,文章根据国际标准和实际测试经验总结出一种通用于不同类型材料表面分析表征的XPS数据采集和预处理分析思路,以方便测试人员能够更加系统的进行数据采集和分析,为材料研发人员提供更加全面的元素组成信息和谱图解析注意事项,从而更有效地助力材料表面分析研究,该方法对科研工作者分析准确度的提高具有重要的理论意义和实际应用价值。 相似文献
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通过物理混合法可控合成了分级混晶TiO2微纳米材料, 采用扫描电子显微镜(SEM)、 透射电子显微镜(TEM)、 X射线衍射仪(XRD)、 X射线光电子能谱仪(XPS)和固体紫外-可见分光光度计(UV-Vis)等对该微纳米材料进行了表征, 并评价了不同混晶比材料的光催化性能. 结果表明, 所得材料是由均匀负载金红石纳米颗粒的锐钛矿纳米片组装的三维分级结构. 其具有很高的光催化活性, 分级结构和混晶异相结的同时引入是提高材料光催化活性的关键. 相似文献
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筒镜分析器(CMA)是俄歇电子能谱(AES)装置或AES同X射线光电子能谱(XPS或称ESCA)联合装置的关键部件。本文以ESCA/SAM550电子能谱仪中由于CMA故障,造成仪器没有AES和ESCA信号响应为例,介绍一种基本故障分析方法以及CMA和同轴电子枪等部件的维修保养经验。 相似文献
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样品表面污染对X射线光电子能谱定量分析的影响 总被引:2,自引:0,他引:2
用X射线光电子能谱(XPS)研究了表面碳污染物对样品的元素相对定量误差的影响。结果表明,样品表面含有碳污染物能引起光电子动能较低的元素的相对定量分析结果偏低,而且样品中两种元素的光电子动能差越大,相对误差越大。在用元素灵敏因子法进行XPS定量分析时,样品表面污染是不可忽略的误差来源。 相似文献
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