钼蓝分光光度法测定钼铝与钒铝合金中的硅

采用硝酸、氢氟酸分解试样,钼蓝分光光度法测定钒铝、钼铝合金中的硅量。对试样分解、光度法测定条件及共存元素的干扰等进行了试验。将该法应用于6个钒铝、钼铝试样中硅量(0.04%~0.46%)的测定,结果的相对标准偏差(n=11)在1.2%~4.6%之间,加标回收率为97.4%~102.2%。同时进行了多家实验室间数据比对,结果一致。     

电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法测定锌-铝-镉牺牲阳极中多种元素含量

利用稀王水溶解试样,建立了电感耦合等离子体原子发射光谱法测定锌-铝-镉牺牲阳极中铝、镉、铁、铅、铜和硅6种元素的分析方法。各元素的精密度均小于5%,检出限及回收率分别在0.0012%～0.016%和94.6%～105%。对实际样品进行分析,检测结果与其它实验室结果一致。     

脉冲加热-热导法测定高锌铝合金中氢含量

对含锌铝合金中氢分析的取样量、取样方法和加热释氢功率等方面进行了探索性试验,建立了脉冲加热-热导法测定铝合金中氢含量的测定方法.经过条件试验和对比试验,确定了最佳取样量为2.0～4.0 g,表面氢加热功率为850～900W,体积氢加热功率为1250～1350 W.试样9次重复测定结果的相对标准偏差小于6%.用该法对标准...     

硫脲络合–火焰原子吸收光谱法测定低硅铝合金中的银含量

采用硫脲络合–火焰原子吸收光谱法测定低硅铝合金中的银元素含量。实验探讨了酸度及硫脲用量对银测定的影响及铝合金中基体元素与共存元素对银元素分析线的干扰情况。结果表明:选用9%的盐酸和3%的硝酸溶解试样最好,加入5 mL 50 g/L硫脲溶液可消除氯离子对试验结果的影响,基体铝元素和其它共存元素不干扰银的测定。根据低硅铝合金中银元素的含量范围,合成系列标准溶液,建立工作曲线,工作曲线的线性范围为0.05%~0.50%。银元素含量为0.30%的样品测定结果的相对标准偏差为0.15%(n=8),标准加入回收率为96.8%~98.5%。该方法操作简便、重现性好、测量结果准确可靠。     

萃取分离 ICP-AES 法测定含铪铀中微量杂质元素

用盐酸-硝酸-氢氟酸溶解含铪的铀试样,以磷酸三丁酯为萃取剂,分离铀、铪与待测杂质元素.用 ICP-AES 法同时测定了试样中钼、钨、铁、硼、锰、铍、铜、镁、钙、铝和镍等11种杂质元素的含量.将 0.0900 g～0.1100 g 试样制成 6 mL 溶液时,各杂质元素测量范围为 1.0×10-3%～1.0×10-1%,回收率在 94%～105% 之间,相对标准偏差优于 10%.     

离心浇铸制样-X射线荧光光谱法测定钼铁中钼硅磷铜

为克服钼铁中元素的偏析,应用了离心浇铸工艺制成蘑菇状的片样供X射线荧光光谱法用,对制样的过程作了详细的叙述.为制作工作曲线用了5个国外内钼铁标准样品及3个内控标准样品,用同一钼铁样品制备6个片样,按试验条件分别进行钼、硅、磷、铜4元素的测定,并对方法的精密度进行了试验,测得相对标准偏差(n=6)在0.24%～5.41%之间.在分析4个钼铁试样时,所得上述4元素的测定值与用化学方法所测得结果一致.     

电感耦合等离子体–原子发射光谱法同时测定铝合金中9种元素

建立电感耦合等离子体原子发射光谱同时测定铝合金中9种元素含量的方法。铝合金样品采用碱溶法预处理,以质量分数为40%的氢氧化钠溶液溶解,再用盐酸-硝酸混合酸酸化,然后用电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定样品中铁、硅、铜、镁、锰、锌、钛、镍、铬9种元素的含量。各元素的含量与对应的发射强度呈良好的线性关系,相关系数不小于0.9990;各元素检出限为0.0001%~0.0012%。应用该方法测定2个铝合金标准样品,测定结果与标示值一致,相对标准偏差为0.46%~2.14%(n=8)。将该法应用于试样测定时,加标回收率为92%~106%。该方法精密度和准确度高,操作简便、快速,适用于实验室铝合金多元素含量的检测。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镁钕合金中3种杂质元素的含量

采用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镁钕合金中硅、铝及铜3种杂质元素的含量。选择盐酸(1+1)溶液10mL溶解试样(0.1g),以克服合金的基体元素及其他共存元素的干扰为目标,选择测定上述3种元素的分析谱线依次为251.611,237.313,224.700nm。用0.1g高纯镁及与试样中含钕量近似的钕标准溶液作为基体,加入一定量的硅、铝和铜的标准溶液后,按试样相同的溶解方法处理并定容至100mL。按所选仪器工作条件进行光谱测定,并制作各元素的工作曲线。硅、铝、铜的检出限(3s)依次为0.006,0.002,0.01mg·L-1。对2个样品中的3种元素各测定6次,测定值的相对标准偏差均不大于3.7%。用标准加入法进行回收试验,测得回收率在92.0%~108%之间。     

ICP-AES法测定钽铝合金中铁和硅的含量

介绍了用ICP-AES法测定钽铝合金中微量铁和硅的方法.本文从测量条件的选择谱线选择、基体影响等几个方面进行了试验.精密度和准确度结果表明,本方法快速、准确,可以满足钽铝合金中铁和硅的测定要求.RSD＜2%,回收率在99%～100%.     

电感耦合等离子体光谱法测定镍基高温合金中的硅、锰、磷

建立了电感耦合等离子体光谱测定镍基高温合金中硅、锰、磷元素的方法,优化了试样前处理方法,对前处理所用酸的酸度进行不同比例试验,确定了仪器测量条件及分析谱线.在一定浓度范围内,各元素的浓度与谱线强度呈线性关系,相关系数大于0.9999.加标回收率为93.3%～106.7%,测定结果的相对标准偏差小于3.0%(n=10)....     

电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定5XXX系铝合金中的高镁含量

采用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定5XXX系铝合金中的高镁含量,选择20mL稀王水溶液溶解试样,以消除合金中的基体元素及其它共存元素的干扰为目标,选择测定镁含量的分析谱线为280.270nm。分别称取与分析试样基体近似的三种铝合金标准物质0.100 0g,按试样相同的溶解方法处理并定容至100mL,选择仪器工作条件,制作分析曲线,进行曲线校准,按照同样的方法对4个样品各测定6次,测定值的相对标准偏差均不大于0.59%,用标准加入法测得加标回收率在94.0%~104.0%,测定值和环己二胺四乙酸分离络合滴定法测定的5XXX系铝合金中的镁量结果一致。     

Ellipsometric and IR spectroscopic study of the surface interaction of binary Al-REM alloys with water

The effect of Al-REM binary alloys’ composition on the kinetics of their surface oxidation by water is studied by means of ellipsometry and IR spectroscopy. Intermetallides with ～21 at % rare-earth metal in aluminum are oxidized in distilled water at 100°C, along with alloys of eutectic composition (Al-～2 at % REM) in solid and disperse state. It is found that the kinetic dependences of the thickness of films formed on pollycrystalline alloy samples and the IR transmission spectra of dispersed samples show that increasing the quantity of dopant REM in aluminum lowers the reactive capability of aluminum under certain conditions. It is found that the experimental ellipsometric results are described by a two-layer model consisting of a substrate, an inner oxide layer and an outer layer of hydroxide.     

铝合金锭光电光谱分析的误差

在用光电直读光谱仪分析铝合金时,在不同激发点所取得的合金元素的测定结果,特别是硅的测定值,之间存在明显偏差,并证实系由合金的偏析所引起。通过改进取样方法,即将原来从铝合金锭的中间及两端截取块样,改为在铝锭的任意位置纵断面切块取样,有效地克服了不同激发点所得结果存在明显偏差的问题,使所得分析结果相互之间的偏差值很小而合理。     

电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法测定铝合金中高含量硅

采用混合酸直接消解样品,不分离析出的残渣硅元素,将残渣直接溶解到原液中,以电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法测定铝合金中高含量的硅,通过基体匹配法配制标准溶液系列,实验结果相对标准偏差小于0.3%,回收率在95%～105%,方法简化样品处理步骤,适用于快速高效地测定铝合金中高含量的硅。     

Simultaneous direct determination of aluminum, calcium and iron in silicon carbide and silicon nitride powders by slurry-sampling graphite furnace AAS.

A fast and accurate analytical method was established for the simultaneous direct determination of aluminum, calcium and iron in silicon carbide and silicon nitride powders by graphite furnace atomic absorption spectrometry using a slurry sampling technique and a Hitachi Model Z-9000 atomic absorption spectrometer. The slurry samples were prepared by the ultrasonication of silicon carbide or silicon nitride powders with 0.1 M nitric acid. Calibration curves were prepared by using a mixed standard solution containing aluminum, calcium, iron and 0.1 M nitric acid. The analytical results of the proposed method for aluminum, calcium and iron in silicon carbide and silicon nitride reference materials were in good agreement with the reference values. The detection limits for aluminum, calcium and iron were 0.6 microg/g, 0.15 microg/g and 2.5 microg/g, respectively, in solid samples, when 200 mg of powdered samples were suspended in 20 ml of 0.1 M nitric acid and a 10 microl portion of the slurry sample was then measured. The relative standard deviation of the determination of aluminum, calcium and iron was 5 - 33%.     

X射线荧光光谱法快速测定FeSiB非晶薄带中Si,B,Fe的含量合金薄带中硅硼铁

提出了以自制的标准样品,采用单点法绘制校准曲线,利用X射线荧光光谱仪测定FeSiB非晶薄带样品中硅、硼和铁的含量。对于4个FeSiB非晶合金薄带样品中硅、硼和铁进行了10次测定,其分析结果的相对标准偏差分别为0.4~0.5%,1.3~4.2%和0.2~0.4%。本方法的分析结果与火花源原子发射光谱法、化学重量法和ICP-AES的测定值吻合较好。本方法快速、简便,薄带样品无需制样,适用于FeSiB非晶合金薄带的快速成分分析。     

片呐醇电合成的研究

以铝合金为电极在酸性条件下电合成片呐醇, 探讨了电压、反应时间等对产率的影响. 最佳反应条件为: 电解电压为12 V, 反应时间60～80 min, 甲醇和盐酸(36%)用量各5 mL, 片呐醇的产率可达31%～81%.     

电感耦合等离子体发射光谱法测定高纯铝中硅

建立电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)法测定高纯铝中硅元素的分析方法。样品采用碱溶法进行预处理,以氢氧化钠溶液溶解,再加入盐酸、硝酸酸化。选取了硅251.611 nm分析谱线进行分析。硅的质量分数在0.001%~0.01%范围内与光谱强度具有良好的线性关系,线性相关系数为0.9991。该方法检出限为0.00012%,测定结果的相对标准偏差不大于10.2%(n=8),加标回收率为93.2%~104.2%。该方法操作简便,测定结果准确、可靠,适用于快速检测高纯铝中硅元素,具有推广价值。     

X射线荧光光谱法快速测定FeSiB非晶合金薄带中硅、硼、铁

提出了以自制的标准样品,采用单点法绘制校准曲线,利用X射线荧光光谱仪测定FeSiB非晶薄带样品中硅、硼和铁的含量。对于4个FeSiB非晶合金薄带样品中硅、硼和铁进行了10次测定,其分析结果的相对标准偏差分别为0.4%~0.5%、1.3%~4.2%和0.2%~0.4%。方法的分析结果与火花源原子发射光谱法、化学重量法和电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法的测定值吻合较好。方法快速、简便,薄带样品无需制样,适用于FeSiB非晶合金薄带的快速成分分析。