镍、铜、铅锌矿选矿流程中X射线荧光光谱分析

本法制样简单,只需要粉碎和压片。粉末试样的强度测量常常受到影响。为了减少颗粒度效应,5克矿样于T-100型振动磨样机中粉碎2分钟。用硼酸垫底,在500Kg/cm~2的压力下加压成型。102个实际迭矿试样经化学法标定后作为标样。在选矿分析中X荧光分析结果依赖于标样数目。因选矿样主要是硫化物和脉石组成,矿物学效应降低到最小程度。本法不仅适合于恒     

钒基多元超导合金的X射线荧光光谱分析

X射线荧光光谱法已广泛用于合金分析。本文分析的对象为钒基多元超导合金,从分析的角度看,试样有以下特点:1.某些化学性质很相近的元素共存,用化学方法分析困难较大;2.试样组成多变,但都以钒为基本成份,分别同锆、铪、铌、钽、钛冶炼成二元、三元或四元多种不同体系的合金。因此,试样组成不固定,含量变化也比较大。针对上述特点,为了及时配合材料研究部门的工作,采用了溶液滤纸片法制备薄试样以克服基体效应,加入内标元素以减小制样误差,用人工合成方法制备一套包含全部六种成份的标准快速分析多种不同体系的钒基合金。     

X射线荧光光谱分析中经验系数的求取及其在镍矿贫矿分析中的应用

本文编制的XRFB-15计算程序。是采用BASIC语言设计的。其中存放九种模式的校正元素间影响的方法,有利于进行比较。并能按照不同的情况选择其中最为适宜的一种模式。同时提出了一个新的强度型有色数模。     

X荧光“NRLXRF”程序在薄膜分析中的应用

本法用X荧光“NRLXRF”程序,仅需一个固体薄膜标准或滤纸片薄样混合标准就可测定原子比从0.x—8范围的Nb-Ge超导薄膜试样,其准确度能达到经验系数法的水平。用纯元素块状标样测定了Nb Ge薄膜及高温合金Ae-Cr-Si和Ti-Cr Si薄膜试样,也得到了满意的结果。方法均已投入了实际试样的配合分析。     

罗丹明B类衍生物荧光光谱法分析酸性pH

以罗丹明B为原料，通过两步法合成化合物N-(3’,6’-双（二乙基氨基）-3-氧杂螺环[异二氢吲哚-1,9’-氧杂蒽]-2-酰基)-4-甲氧基苯甲酰胺（RHL）。通过罗丹明B酰肼（RA）与对甲氧基苯甲酰氯反应的单因素考察，得到最优合成条件：反应溶剂为乙酸乙酯，反应温度80℃，三乙胺作为缚酸剂，反应时间10 h，投料比n(RA)∶n（对甲氧基苯甲酰氯）=1.0∶1.3。通过测定溶剂、 pH、金属离子对化合物RHL荧光强度的影响，发现RHL在乙醇-水（1∶1, V/V）体系中，pH在1.50～7.02范围内发射出新的强烈的橙红色荧光，RHL对pH的荧光传感具有良好的选择性和重复性，且绝大多数金属离子对体系无干扰。