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本法制样简单,只需要粉碎和压片。粉末试样的强度测量常常受到影响。为了减少颗粒度效应,5克矿样于T-100型振动磨样机中粉碎2分钟。用硼酸垫底,在500Kg/cm~2的压力下加压成型。102个实际迭矿试样经化学法标定后作为标样。在选矿分析中X荧光分析结果依赖于标样数目。因选矿样主要是硫化物和脉石组成,矿物学效应降低到最小程度。本法不仅适合于恒 相似文献
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在X射线荧光光谱分析中,采用理论α系数对基体效应进行校正已被人们所重视,因其具有所需标样少、分析范围广、通用性强、手续简便等优点。笔者先假设若干组二元体系用NLRXRF程序计算理论相对强度,再由Lachance-Traill模式求得基本α系数,进而推算混合α系数和修正α系数。本文对地质岩石样品中硅酸盐系列的理论α系数作了计算,取得了满意的结果。一、理论α系数的计算 相似文献
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本文对NRLXRF程序进行了开发应用,利用该程序具有计算全部组分都已定义的任何样品的理论X射线相对强度的功能,使该程序在a NIVAC1100/10计算机上运行后,先计算出给定组分的理论相对强度(设定多组二元体系),然后利用Lachance数学校正模型推出的计算公式计算基本α系数、混合α和修正α系数。本文对地质岩石样品中硅酸盐系列的理论α系数作了计算,取得了较满意的结果。 相似文献
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