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1.
本文概要叙述了对引进的美国海军研究实验室X射线荧光分析程序(称NRLXRF程序)的开发和应用情况。本工作对该程序的基本结构、主要功能、调用方法及进行未知试样分析时的主要步骤等,作了探讨性的开发,並在此基础上将其应用于超导薄膜、高温合金膜、高温合金钢、钛白等试样的分析,效装较好,可满足工艺分析的要求。对多元复杂体系的稀土、水泥试样作了较广泛的分析对照,为实现单标样或少标样进行X射线荧光分析,开辟了一个很好的途径。  相似文献   
2.
本法制样简单,只需要粉碎和压片。粉末试样的强度测量常常受到影响。为了减少颗粒度效应,5克矿样于T-100型振动磨样机中粉碎2分钟。用硼酸垫底,在500Kg/cm~2的压力下加压成型。102个实际迭矿试样经化学法标定后作为标样。在选矿分析中X荧光分析结果依赖于标样数目。因选矿样主要是硫化物和脉石组成,矿物学效应降低到最小程度。本法不仅适合于恒  相似文献   
3.
在X射线荧光光谱分析中,采用理论α系数对基体效应进行校正已被人们所重视,因其具有所需标样少、分析范围广、通用性强、手续简便等优点。笔者先假设若干组二元体系用NLRXRF程序计算理论相对强度,再由Lachance-Traill模式求得基本α系数,进而推算混合α系数和修正α系数。本文对地质岩石样品中硅酸盐系列的理论α系数作了计算,取得了满意的结果。一、理论α系数的计算  相似文献   
4.
本文对NRLXRF程序进行了开发应用,利用该程序具有计算全部组分都已定义的任何样品的理论X射线相对强度的功能,使该程序在a NIVAC1100/10计算机上运行后,先计算出给定组分的理论相对强度(设定多组二元体系),然后利用Lachance数学校正模型推出的计算公式计算基本α系数、混合α和修正α系数。本文对地质岩石样品中硅酸盐系列的理论α系数作了计算,取得了较满意的结果。  相似文献   
5.
本文在“乳剂特征曲线的数模形式”一文的基础上,进一步对特征曲线的数模进行了研究,使之能描绘出完整的曲线,包括曝光不足部分、正常部分和过度部分。并进一步对光谱分析中常用的增量法数学解进行了研究。对本文所用的数学模型及其解,曾设计了程序,并用实验数据进行了运算,说明数模和程序可行。  相似文献   
6.
X射线荧光光谱分析中理论 系数的快速计算   总被引:1,自引:1,他引:0  
  相似文献   
7.
本法用X荧光“NRLXRF”程序,仅需一个固体薄膜标准或滤纸片薄样混合标准就可测定原子比从0.x—8范围的Nb-Ge超导薄膜试样,其准确度能达到经验系数法的水平。用纯元素块状标样测定了Nb Ge薄膜及高温合金Ae-Cr-Si和Ti-Cr Si薄膜试样,也得到了满意的结果。方法均已投入了实际试样的配合分析。  相似文献   
8.
X-荧光α系数法测定稀土氧化物中15个稀土元素   总被引:4,自引:1,他引:3  
采用粉末稀释直接压片,在PW1400顺序式X-荧光光谱仪上测定了 15个稀土元素。通过电子计算机采用干扰系数扣除严重的谱线干扰,应用α系数校正复杂的基体效应,取得满意的结果。本文研究重点是选择了最佳仪器测量条件;测量出元素间的干扰系数及校正了背景影响;比较了三种基体校正数学模型的效果。分析精度:当含量小于2%时,优于 5%;含量大于2%时,优于?2%。分析速度较文献[5]提高三倍。  相似文献   
9.
近年来国外已广泛采用x射线荧光光谱分析作为有色金属采矿、选矿、冶炼的流程控制分析。本文所研究的对象为干法矿样,其组成复杂,元素在其中所呈现的状态各不相同,试样的粒度不一致,而各元素的含量变动范围又很大。因此,如何消除试样的颗粒度影响,克服共存元素的基体效应,快速而准确地配合流程分析便是本法讨论的重点。为此采取了如下措施:以实际试样作标准试样;用振动磨样机计时磨样;采用经验系数法对共存元素  相似文献   
10.
标准物质均匀性检验和定值计算的统计程序   总被引:1,自引:1,他引:0  
  相似文献   
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