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Tb-doped Zinc oxide (ZnO:Tb) films were prepared by RF reactive magnetron sputtering of a Zn target with some Tb-chips attached. The results show that the appropriate Tb ions incorporated into ZnO films can improve the structural and electrical properties of ZnO films. Photoluminescence (PL) measurements show that the characteristic emission lines correspond to the intra-4f^n-shell transitions in Tb^{3+} ions at room temperature. Under the optimal conditions, the ZnO:Tb films were prepared with the lowest resistivity (ρ) of 9.34×10^{ -4}Ωcm, transmittance over 80% at the visible region and the strong blue emission. 相似文献
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通过射频反应溅射法在Si(111)衬底上制备了不同Cu掺杂量的ZnO薄膜.室温下测量了样品的光致发光(PL)谱,所有样品的PL谱中均观察到435?nm左右的蓝光发光带,该发光带的强度与Cu掺杂量和溅射功率有关.当溅射功率为150?W,Cu掺杂量为2.5%时,ZnO薄膜的PL谱中出现了较强的蓝光双峰,而溅射功率为100?W,Cu掺杂量为1.5%时,出现了位于437nm(2.84eV)处较强的蓝光峰,后者的取向性较好.还研究了掺杂量和溅射功率对发光特性的影响,并对样品的蓝光发光机制进行了探讨.
关键词:
ZnO薄膜
Cu掺杂
光致发光谱
射频反应共溅射 相似文献
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采用溶胶凝胶法,结合旋转涂敷技术在石英衬底上制备了210—240nm厚度的ZnO∶In薄膜.使用掠角入射X射线衍射(GI_XRD)、常规X射线衍射、傅里叶变换红外光谱、原子力显微镜、光致发光谱以及不同入射角GI_XRD谱(α=1,2,3和5°)等手段,对不同掺杂浓度的ZnO∶In薄膜进行了结构分析.发现ZnO∶In薄膜内部是由大尺寸(002)晶向的无应力ZnO晶粒堆积而成,而薄膜表面主要是小尺寸的(002)和(103)晶粒,并且适量的In掺杂能有效改善ZnO薄膜内部的晶体结构特性. 相似文献
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采用溶胶凝胶法,结合旋转涂敷技术在石英衬底上制备了210—240nm厚度的ZnO∶In薄膜.使用掠角入射X射线衍射(GI_XRD)、常规X射线衍射、傅里叶变换红外光谱、原子力显微镜、光致发光谱以及不同入射角GI_XRD谱(α=1,2,3和5°)等手段,对不同掺杂浓度的ZnO∶In薄膜进行了结构分析.发现ZnO∶In薄膜内部是由大尺寸(002)晶向的无应力ZnO晶粒堆积而成,而薄膜表面主要是小尺寸的(002)和(103)晶粒,并且适量的In掺杂能有效改善ZnO薄膜内部的晶体结构特性.
关键词:
ZnO∶In薄膜
晶体结构
掠角入射X射线衍射
溶胶凝胶法 相似文献
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在多孔硅衬底上用射频溅射法沉积了非晶的SiC:Tb薄膜. 对样品在N2中进行了不同温度的退火处理. 用傅里叶红外变换谱分析了样品的结构.用荧光光谱仪测试了样品的光致发光,在紫外、可见光区域观测到了强的发光峰.发现随着衬底加热温度和样品退火温度的变化,发光峰有明显的强度变化和微弱的蓝移现象.分析了产生这种现象的机理,得出了紫外区域的发光峰是由于氧缺乏中心引起的,而可见区的发光是由于Tb离子产生的.
关键词:
碳化硅
光致发光
氧缺乏中心
多孔硅 相似文献
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用等离子体增强化学气相淀积(PECVD)生长了200nm的SiGe薄膜,然后将C离子注入SiGe层,经两步热退火处理制备了Si1-x-yGexCy三元合金半导体薄膜.应用卢瑟福背散射(RBS),傅里叶变换红外光谱(FTIR)和高分辨率x射线衍射(HRXRD)研究了薄膜的结构和外延特性.发现C原子基本处于替代位置,C原子的掺入缓解了SiGe层的压应变
关键词:
Si1-x-yGexCy薄膜
离子注入
固相外延 相似文献
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Influence of HF catalyst on the microstructure properties of ultra low-k thin films prepared by sol-gel method 下载免费PDF全文
This paper reports that by using the hydrofluoric acid (HF) as the acid catalyst, F doped nanoporous low-k SiO2 thin films have been prepared by means of sol-gel method. The characterization of atomic force microscopy and Fourier transform infrared spectroscopy demonstrates that the HF catalyzed films are more hydrophobic. The N2 adsorption/desorption experiments show that the suited introduction of HF increases the porosity and decreases the pore size distribution (about 10 nm) in the films. The above results indicate that the hydrofluoric acid is the more suitable acid catalyst than the hydrochloric one for preparing nanoporous ultra low-k SiO2 thin films. 相似文献