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71.
钯合金膜分离氢同位素是基于氕、氘、氚在钯中的溶解度、扩散系数和表面反应动力学特征的差异而进行的。与目前聚变堆燃料循环中广泛采用的低温精馏方法相比,钯合金膜分离方法的原料是气态,而且在分离过程中氢同位素气体以原子形态存在,具有原料滞留量小,装置设计简单等优点。然而对于钯合金膜来说,单位面积上透过的气体体积有限,在保持钯合金膜氢同位素选择性透过能力的前提下,在一定反应器规模下尽可能的增大钯合金膜的面积,从而提高钯合金膜分离氢同位素的能力就成了钯合金膜大规模应用时要解决的首要问题。在前期实验工作的基础上设计了钯合金膜分离器,但是单级分离器的氢同位素分离能力是有限的。为实现H2/T2混合气体的完全分离,可以将多级钯合金膜分离器以一定方式串接起来,构成一个具有连续分离特性的氢同位素分离系统。 相似文献
72.
73.
微通道板及其发展趋势 总被引:2,自引:1,他引:1
回顾微通道板发展历史及各阶段的主要技术特征。综述自90年代以来国内外微通道板的研发和生产情况. 相似文献
74.
强酸性条件下 ,钯 (Ⅱ )与 5 [( 5 氯 2 吡啶 )偶氮 ] 2 ,4 二氨基甲苯 ( 5 Cl PADAT)生成紫红色螯合物 ,该螯合物可与十二烷基苯磺酸钠 (SDBS)生成离子缔合物 ,离子缔合物经 0 .3μm孔径的硝化纤维微孔滤膜富集后 ,于小体积 ( 0 .5mL)的浓硫酸中溶膜 ,用石墨炉原子吸收法 (GFAAS)测定 ,富集倍数可达 2 0 0倍 ,钯含量在 4.69× 1 0 - 1 2 ~ 7.0 9× 1 0 - 9mol/L范围内线性良好 ,检出限为 1 .78×1 0 - 1 2 mol/L。方法用于海水中痕量钯的测定。 相似文献
75.
76.
77.
采用微波电子回旋共振等离子体化学气相沉积(MWPECRCVD)方法,使用不同的源气体(CHF3CH4,CHF3C2H2,CHF3C6H6)体系制备了aC∶F∶H薄膜.由于CH4,C2H2,C6H6气体在等离子体中的分解反应不同导致了薄膜的沉积速率和结构上的差异.红外吸收谱的结果表明,用C6H6CHF3作为源气体沉积的薄膜中几乎不含H,而用C2H2CHF3所沉积的薄膜中的含氟量最高,其相应的CF振动峰位向高频方向偏移.薄膜的真空退火结果表明,aC∶F∶H薄膜的热稳定性除了取决于薄膜的CC键浓度外,还与CC键
关键词:
氟化非晶碳膜
电子回旋共振化学气相沉积
红外吸收光谱 相似文献
78.
聚丙烯微孔膜的等离子体接枝聚合改性 总被引:2,自引:1,他引:1
利用拉伸时的晶型转变致孔特性,从β晶相聚丙烯经单向或双向拉伸制得了新型聚丙烯微孔膜、用等离子体接枝聚合技术接上了亲水性聚合物如聚丙烯酸、聚丙烯腈等。研究了等离子体处理时间、单体性质对得到的亲水膜的亲水性、离子/溶质渗透性的影响。发现接枝聚丙烯酸的双向拉伸膜对Na~+、Mg~(++),尿素有较大的渗透性,并具有优良的形状稳定性。 相似文献
79.
NongYueHE JianXinTANG SongLI HongCHEN AnCunZHOU 《中国化学快报》2005,16(3):397-400
Polypropylene microporous membranes were treated with plasma in a mixture of N2 and H2 (1:2 in volume). Attenuated total reflectance Fourier transform infrared spectroscopy (ATR-FTIR), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and ultra-violet (UV) spectra demonstrated the success of grafting amino groups. The density of the polar amino groups on the membrane surface is about 0.59 μmol/cm^2. The as-treated membranes were successively applied to the in situ synthesis of oligonucleotides and an average coupling yield was more than 98%. The surface feature of the treated membrane is suggested to be responsible for its advantage over a glass slide. 相似文献
80.
椭偏法测膜厚的直接计算方法 总被引:15,自引:1,他引:14
改进了椭偏法测薄膜折射率和膜厚的迭代计算方法,由测量得到的起偏角A和检偏角P直接算出薄膜折射率和膜厚. 相似文献