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41.
新型高效催化剂乙烯/1-丁烯气相齐聚和共聚制备弹性体及其结构与性能关系 总被引:1,自引:0,他引:1
用新型催化体系TiCl4,Ti(OBu)4/MgCl2,SiO2和ZnCl2/醇/AlR3催化乙烯与1-丁烯气相均聚及共聚,制得两种共聚物弹性体,发现新型催化剂体系具有独特的齐聚和原位共聚性能.采用13CNMR测定了共聚物链序列分布结构,观察到共聚单体在聚合物链中分布不均匀,存在较长的乙烯链段和较多的1-丁烯嵌段.产物DSC谱图表现出复杂的结晶熔融行为,存在多种结晶形态,出现熔融肩峰及双峰,与通常制得的LLDPE的结晶熔融行为有很大差别;结晶度和密度较低,并具有弹性体性质. 相似文献
42.
以CH3COOLi·2H2O、(CH3CO2)2Mn·4H2O、氧化物和柠檬酸为原料,采用流变相法经过2次灼烧后得到了不同氧化态离子掺杂的尖晶石化合物LiMn1.95M0.05O4(M:Li,Mg,Co,Ti,V)。通过X射线衍射测试技术对合成的产物物相进行表征,所得产物均具有纯相尖晶石结构。同时应用软件计算了其晶格常数,结果发现金属离子的掺杂不同程度地减少晶格大小。通过循环伏安法研究发现,在4V区域有2步可逆过程发生,对应于锂离子的脱嵌。掺杂的金属离子对于峰电位以及峰面积都有影响。Mn3 的含量越低,峰的面积越小。金属离子与氧的键能越大,峰电位越高。50次充放电循环测试表明,通过掺杂改性来改善尖晶石LiMn2O4的电化学性能时,在掺杂相同量阳离子的尖晶石化合物中,以选择氧化态为Co3 掺杂的化合物具有最佳的充放电容量和循环性能。 相似文献
43.
钒氧化物纳米管的合成、结构及电化学性能 总被引:2,自引:0,他引:2
采用流变相-纳米自组装新方法合成了钒氧化物纳米管(VOx-NTs),并通过XRD,SEM,TEM,Raman,ESR,TG-DTA,XPS及模拟电池等技术手段对产物的结构和性能进行了表征和测试.结果表明,产物主要由钒氧化物纳米管组成,纳米管长为1~10μm,直径为30~100nm.纳米管壁由3~10个VOx层构成,层间距为3.53nm.Raman光谱反映了V-O的伸缩或弯曲振动,层状微结构的晶格振动及模板剂的有机基团振动.无明显精细结构的室温ESR谱证明了V4+的存在,根据TGA和XPS求得产物中V的平均化合价约为+4.30.VOx-NTs正极材料初始充电容量达到404mA.h/g,放电容量为383mA.h/g,50次循环后放电容量衰减至180mA.h/g,可归因于充放电过程中VOx-NTs正极材料在电解液中的溶蚀作用及复合电极中“孤岛效应”的产生. 相似文献
44.
超支化聚醚的支化度对玻璃化转变温度的影响 总被引:2,自引:0,他引:2
聚合物的分子结构对聚合物性能影响很大.支化度不同的同种聚合物,必须通过不同的催化体系合成,很难得到既具有相近分子量又具有不同支化度的系列聚合物样品,因此对聚合物性能与支化度的依赖关系的研究报道不多. 相似文献
45.
46.
以5-偶氮四唑水杨酸(H3ASA)和CdCl2·2.5H2O为原料,通过常规溶液法合成了一个镉配合物[Cd(H2ASA)2(H2O)2]n(1).通过X-射线单晶衍射、X-射线粉末衍射、元素分析、红外光谱、热重分析、紫外光谱进行结构解析和性质表征.结果 表明配合物1属于三斜晶系,Pi空间群,晶胞参数为a =0.702 39(5) nm,b=0.735 15(6) nm,c=1.229 41(7)nm,α =82.557(5)°,β=75.453(6)°,γ =61.882(8)°,V=0.541 90(8) nm3,Z=1,μ=1.083 mm-1,Dc=1.884g/cm3.配合物1中具有H2ASA-,作为μ2-桥联配体连接两个不同的Cd(Ⅱ)离子形成无限一维链结构,相邻直链通过O…O、O…N氢键和π-π堆积作用形成三维超分子框架.紫外光谱测试表明配合物1在365 nm紫外光照射下具有光致异构性质. 相似文献
47.
48.
本文给出了带及圆柱面上的自同胚与平移拓扑共轭(从而可嵌入连续流)的几个充要条件,简化了E. Sperner的一个关于平面自同胚的定理的证明方法并给出了与平面上的位似变换或球面上的标准移动拓扑共轭的自同胚的一些特征。 相似文献
49.
利用我们设计的一套光学变换传输系统实现了激光束在超导靶上一定范围内扫描消融来淀积高Tc超导薄膜。实验表明用这种激光扫描消融方法可使大尺寸超导薄膜的厚度均匀性得到较大的改善。我们采用激光扫描半径为9mm在12mm×33mm的Y-ZrO2基片上淀积出零电阻温度Tc≥90K,临界电流密度Jc(零磁场,77K)≥1×106A/cm2,薄膜c轴择优取向,厚度均匀性较好的YBa
关键词: 相似文献
50.
用X射线双晶衍射摇摆曲线以及双晶X射线形貌对两个SrTiO3基片的单晶质量进行了对比研究,并用X射线掠入射镜面反射及漫散射研究了它们的表面粗糙结构.结果表明,两个SrTiO3基片中都存在镶嵌缺陷,其中一个样品的晶体质量相对较高.两个样品的表面粗糙结构相差很大,包括均方根粗糙度σ和横向相关长度ξ.σ分别为(0.5±0.1)和(1.3±0.1)nm,ξ分别为(1200±200)和(300±20)nm.样品的表面粗糙将增加X射线的漫散射强度而降低镜面反射的强度.晶体质
关键词: 相似文献