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1.
第五届全国固体缺陷学术会议于1989年8月1日至5日在青岛市召开.来自全国科研机构、高等院校共39个单位的110余名代表参加了这次学术盛会.我国著名物理学家钱临照教授致开幕词. 会上,我国著名固体缺陷专家冯端教授作了题为“结构相变中的缺陷问题”的报告.青年博士朱星副教授作了题为“纳米晶体材料”的报告.大会收到论文106篇,在两个分组会上宣读了69篇,并进行了热烈的讨论. 这次会议是1986年第四届全国固体缺陷学术会议以来,我国固体缺陷研究成果的一次大交流.会议反映了我国在固体缺陷的基础研究、实验技术、计算机模拟等领域均有较大进展…  相似文献   
2.
国家自然科学基金委员会数理科学部“筹划未来,努力创新攀高峰”座谈会发言选登(Ⅰ)编者按国家自然科学基金委员会数理科学部于1996年3月18日至19日召开了“筹划未来,努力创新攀高峰”座谈会,现将参加会议的物理学方面的知名专家的发言选登如下.本期刊登冯...  相似文献   
3.
同步辐射讲座第四讲同步辐射光50年   总被引:1,自引:0,他引:1  
麦振洪 《物理》2002,31(10):670-675
自1946年Blewett首次观察到同步辐射光至今已经55年,文章回顾了同步辐射光源的发展历史,着重介绍了同步辐射光源的性质,并简要介绍了同步辐射在生命科学、材料科学、原子分子科学、地球科学和环境科学以及工业等领域中的应用。  相似文献   
4.
应用X射线三晶衍射对LaAlO3衬底上生长的YBa2Cu3Oy薄膜中的应力水平、存在的主要缺陷,以及薄膜与衬底的失配和取向关系等进行了研究。结果表明,薄膜在衬底上几乎完全松弛,应力很小,薄膜存在较严重的晶格取向差缺陷,这是影响薄膜晶体结构完整性的主要因素。此外,衬底与薄膜在垂直于表面和平行于表面方向都存在取向差。 关键词:  相似文献   
5.
用X射线衍射动力学理论,模拟计算InP衬底上InGaAs/AllnAs超晶格和InGaAs单层膜的X射线双晶摇摆曲线,计算结果表明:薄膜界面粗糙对单层膜的衍射峰和超晶格的零级衍射峰影响较小,但却明显影响单层膜衍射干涉条纹和超晶格的±1级卫星峰,随着平均界面粗糙度的增大,单层膜衍射干涉条纹强度减弱并趋于消失;超晶格的±1级卫星峰变弱并逐渐展宽,理论计算的模拟双晶摇摆曲线与超晶格实验曲线比较表明:高质量匹配In0.53Ga0.47As(85?)/Al0.4 关键词:  相似文献   
6.
晶体X射线衍射的发现及其深远影响   总被引:6,自引:0,他引:6  
 2002年和2003年分别是劳厄(MaxVonLaue)发现晶体X射线衍射和布喇格(W.L.Bragg)建立布喇格方程90周年。劳厄和布喇格的发现是20世纪物理学意义深远的大事。一、X射线的发现1895年11月8日德国维尔茨堡大学校长伦琴在做阴极射线实验时,发现了一种看不见的射线从管中阴极射线轰击的那个电极发射出来,经过一个多月全神贯注的实验探索,终于确认这是一种新的射线---X射线。  相似文献   
7.
 我是《现代物理知识》的一名热心记者。它是一份融科学性、知识性、趣味性为一体,雅俗共赏的好杂志。  相似文献   
8.
3.4 横向周期结构薄膜制备工艺的不断发展,目前已能制备几个原子层厚度的超薄结构,因此人们越来越关注这些低维结构中的量子限制效应,如量子线、量子点等.它们不仅具有丰富的物理内涵,而且具有巨大的应用潜力.表面周期结构的周期可以应用光学干涉方法来测定,但其分辨率受到光波波长的限制,高分辨X射线衍射提供了一种对低维材料横向周期结构高精度、非破坏的测定方法.3.4.1皱折的表面近年来,Tapfer等人对皱折表面的X射线衍射在理论上和实验上都作了研究[9,10].他们应用光刻和腐蚀方法,在GaAs表面刻出…  相似文献   
9.
硬X射线位相衬度成象   总被引:15,自引:2,他引:13       下载免费PDF全文
常规X射线成象技术是建立在吸收衬度和几何光学基础上.介绍了“in-line”位相衬度成象 技术和成象理论.以生物样品为例,说明常规X射线吸收衬底成象与位相衬度成象的差别,并 对X射线源尺寸对成象衬度的影响进行了研究.此外,对吸收衬底象和位相衬度象的关键参量 进行了计算模拟和讨论. 关键词: 位相衬度 成象 硬X射线  相似文献   
10.
用直流磁控溅射法在Si(001)衬底上制备了以Ta为缓冲层、含有15周期的Ni80Fe20(4nm)/Cu(6nm)多层膜.样品分别在150,250,350℃进行了真空退火处理.用低角和高角X射线衍射法研究了多层膜的微结构.结果表明,所有样品均有较好的[111] 取向,而且随退火温度或时间的增加,[111]取向程度变得更高.超晶格周期、平均面间距在退火后略有减小,表明多层膜结构在退火后变得更为致密.多层膜界面粗糙度随退火温度或时间的增加而增大,平均相关长度随退火温度或时间的增加而减小,分析认为这是由于Ni80Fe20/Cu界面存在严重的互扩散所导致的.模拟Ni80Fe20/Cu多层膜高角X射线衍射谱,发现在Ni80Fe20/Cu蜀面有非常厚的混合层存在,而且混合层厚度随退火温度或时间的增加而增大.模拟结果还表明,随退火温度或时间的增加,Ni80Fe20层面间距几乎保持不变,Cu层面间距则随退火温度的增加而略有减小. 关键词:  相似文献   
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