共价氢化物发生-光度分析法高选择性的研究与应用——Ⅰ.锗、砷、硒共价氢化物性质初探及其分别测定时其它氢化物干扰的消除

本文采用氢化物发生-银溶胶光度分析法探讨了GeH_4、AsH_3和H_2Se的性质,并利用共价氢化物气体分离柱分别建立了测定锗、砷时消除其它可生成氢化物元素干扰的简便、高效方法。测定1.0μg Ge(Ⅳ),5000μg As(Ⅴ)、Bi(Ⅱ)、Pb(Ⅰ)、1000μg Sb(Ⅱ)、Sn(Ⅰ)、500μg As(Ⅱ)和100μg Se(Ⅳ)、Sn(Ⅳ),Te(Ⅳ)不产生干扰。对砷的测定,其它共价氢化物元素的允许倍数分别为:Sb(Ⅱ)(5000)、Pb(Ⅰ)(5000)、Bi(Ⅱ)(5000)、Sn(Ⅰ)(1000)、Se(Ⅳ)(100)、Te(Ⅳ)(100)和Ge(Ⅳ)(15)。     

氢化物发生-原子荧光光谱法在金属材料痕量元素分析中的最新进展

综述了2007年以来氢化物发生-原子荧光光谱法在金属材料中痕量元素分析方面的最新进展,重点介绍了氢化物发生-原子荧光光谱分析法在测量As、Sb、Bi、Sn、Pb、Se、Ge、Te、Hg 9种痕量元素中的应用,并展望了该分析技术在未来的发展趋势。     

萃取法-氢化物发生无色散原子荧光法直接测定有机相中痕量碲

氢化物发生-无色散原子荧光光谱法(HGAFS)用于水相中As、Bi、Ge、Pb、Se、Sb、Sn、Te等元素的测定,具有检出限低,方法简便快速等特点,已为许多分析工作者所熟悉。文献报道了在有机相中应用氢化物发生-原子吸收光谱法测定钢中锑。但在有机相中应用HGAFS测定痕量元素尚未见报道。本文用N,N-二甲基甲酰胺(DMF)溶解硼氢化钠,用冰乙酸调节有机相酸度,将HGAFS应用于有机相分析中,成功地测定     

气相氢化物原子化法在测定某些痕量元素中的应用

周期系中某些元素如Ge、Sn、Pb、As、Sb、Bi、Se、Te等,在通常雾化火焰原子吸收测定中灵敏度很低,不能满足微量测定要求。近年发展起来的用气相氢化物原子化测定这些元素的方法,经不断改进,灵敏度有些已达到ppb级。由于它在环境监测及材料检验等各种分析中发挥了重要作用,该法几乎已成为原子吸收分光光度法的一个小分支而发展着,这里,我们仅就它的原理,应用及评价予以讨论。一、方法的化学原理     

巯基棉分离原子吸收光谱法测定铅锑合金中硒

近年来,氢化物发生原子吸收光谱法,已被用于As、Sb、Bi、Se和Te等元素的测定,其中以As和Se的研究最多,并已用于冶金地质、环境保护等各个部门。铅锑合金中Se的测定文献报道不多,一些作者只是就Pb或Sb对Se的干扰情况作过探讨,并指出:Pb对Se的影响不明显,而Sb对Se的干扰却十分严重。本文利用巯基棉对多种微量元素的吸附性质,采用巯基棉分离,消除了Sb对Se的干扰。方法特征量为0.0008μg/ml,工作曲线线性范围为0.06μg/ml,相对标准偏差为5％左右,回收率在97—101％之间。     

氢化物无色散原子荧光法测定地球化学样品中的锗

目前,测定地质样品中的锗。多采用分光光度法。使用氢化物原子吸收法测定锗在文献中曾有报导,所用的原子化器为氮氢焰、氩氢焰、氧化亚氮-乙炔焰或石墨炉。采用原子荧光法测定一些可形成氢化物的元素时,具有较高的灵敏度,干扰少,速度快以及仪器装置比较简单。我们曾报导过As、Sb、Bi、Se、Te、Sn等元素的氢化物无色散原子荧光测定法。由于锗同样可生成低沸点的氢化物以及在本实验室试制出微波激发的无电极     

激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱对高温合金中17种痕量元素的测定

建立了镍基高温合金中Sc、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Ag、Cd、In、Sn、Sb、Te、Ce、Hf、Tl、Pb、Bi17种痕量元素的激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱测定方法。对激光剥蚀进样及质谱分析条件进行了优化,通过激光对样品表面的层层剥蚀顺利完成了对低沸点杂质元素的测定。采用格栅扫描采样,严格控制样品的聚焦位置和散焦距离以保证采样的准确性,由高温合金系列标准物质建立了18种痕量元素的校正曲线,其中14种痕量元素的线性相关性较好(r2≥0.99),In、Sn、Sb、Ce、Tl、Pb、Bi等超痕量元素的检出限和气体空白分别低于或接近0.000 005%和0.000 001%。方法对镍基高温合金样品中Cu、Ga、Ag、Cd、In、Sn、Sb、Te、Hf、Tl、Pb和Bi等痕量元素的测定结果与参考值吻合较好,且大部分元素的RSD(n=4)小于或接近30%。     

在线双毛细管-氢化物火焰原子吸收光谱法测定砷、锑、铋、汞、硒和锡

1引言使用氢化物原子吸收光谱(HG-AAS)法测定As、Sb、B、iHg、Se和Sn已有报道。但将氢化物在线引入空气乙炔焰,用火焰法快速测定这些元素的方法少见报道。本实验利用双毛细管装置,建立了在线HG-AAS测定As、Sb、B、iHg、Se和Sn的方法,该方法具有简便、快速、灵敏度高,干扰少和KBH4用量少的优点。2实验部分2.1仪器及试剂GGX-9型原子吸收分光光度计;微型多功能进样装置(自制专利产品);空心阴极灯;盐酸(1 1);硫脲溶液(5%);抗坏血酸溶液(5%);KBH4溶液(1%,2%);邻二氮菲溶液(1%);As、Sb、B、iHg、Se、Sn的标准溶液;蒸馏水;其余试剂…     

还原气化—无色散原子荧光光谱法连测土壤样中痕量砷、锑、汞

应用氢化法—无色散原子荧光技术分析痕量As、Sb、Bi、Se、Te、Sn已有报导。     

氢化物发生电感耦合等离子体原子发射光谱同时测定纯铜中氢化物和非氢化物形成元素

用新型氢化物发生喇叭口Ⅱ型同心雾化器替代Meinhard同心雾化器，溶液雾化为气溶胶和氢化物发生反应生成氢化物气体就可以在雾化系统中同时进行，选用L-巯基丙氨酸(L-cysteine)和硫脲(thiourea)作为基体铜的掩蔽剂，无需分离基体铜，实现了电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)同时测定纯铜样品中氢化物和非氢化物形成元素的目的。研究了酸度、NaBH4的浓度、载气流速及清洗时间对氢化物形成元素的影响，考察了铜基体对氢化物形成元素的化学干扰情况。用本方法测定了纯铜标准样品(NIST SRM400)，结果令人满意。在1000mg/L纯铜样品溶液中，其氢化物形成元素As、Bi、Sb、Sn、Se和Te的检出限分别为0．08、0．15、0．10、0．17、0．21和0．23μg／L。     

HG-ICP-MS法测定纯镍中痕量As、Sb、Bi、Se、Te、Sn

应用本实验室设计的雾室座作为接口，采用气动型流动注射氢化物发生(HG)装置与电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)联机。考察了各种介质条件及镍基体对生成氢化物的影响并应用氢氧化镧共沉淀分离富集，HG与ICP-MS联机测定纯镍中易于生成氢化物的As、Sb、Bi、Se、Te、Sn 6个元素，加标回收率为96．5％-102．2％，RSD为2．4％-5．8％，方法检出限为7．1-30ng／L。     

Carius管密封溶样-等离子体质谱法测定环境样品中镓、锗、砷、硒、镉、锡、锑、碲、汞、铅和铋

利用Carius管密封溶样技术,建立了王水分解-等离子体质谱直接测定环境样品中Ga,Ge,As,Se,Cd,Sn,Sb,Te,Hg,Pb和Bi的分析方法。在190℃下加热分解样品,稀释后可直接进行元素的分析测定。仪器测量时,乙醇不仅对As,Se和Te的检测信号有较明显的增敏作用,而且对复合离子ArCl+的形成还有一定的抑制作用。实验发现,3%乙醇增敏效果最好,分析信号强度可提高2～4倍。基于样品流程空白,所得方法检出限(3σ,DF=1000)为0.001μg/g(Cd)～0.281μg/g(Pb)。本方法应用于一系列土壤和水系沉积物国家标准物质,所得分析结果与推荐值相吻合,方法精度(RSD,n=3)优于5%。     

微型氢化物发生-原子吸收光谱法测定纺织品中的痕量砷和锑

采用三毛细管微型在线氢化发生技术和装置, 建立了氢化物发生-电热石英管原子吸收法测定纺织品中痕量As、 Sb的分析方法. 研究了共存离子对As、 Sb检测的干扰及消除方法. 结果表明: 该方法除Co、 Sn对As和Ni对Sb有干扰外, 其它干扰元素允许量都较大. 采用酒石酸和KI混合掩蔽剂可抑制Co、 Sn对As和Ni对 Sb的干扰. As和Sb的检出限分别为0.7和0.4 ng/L, 已用于测定纺织品中痕量As和Sb的分析.     

氢化物发生-原子荧光光谱法在中药微量元素分析中的应用

氢化物发生-原子荧光光谱法(HG-AFS)用于测定可生成氢化物的金属元素,具有仪器结构简单、灵敏度高、气相干扰少和可多元素同时分析等优点.该文对HG-AFS在中药中微量及痕量As、Hg、Se、Pb、Cd、Sb和Ge分析中的应用及研究进展进行了评述,包括中药样品的预处理技术、消解方法、元素含量及形态分析.探讨了HG-AFS在中药微量金属元素含量和形态分析中存在的问题及应用前景.     

XHn型气相分子的合成技术

近年来，分了局域模振动的光谱理论研究已成为分子光谱学引人入胜的前沿领域[1]，而研究分子局域模振动最具说服力的分子对象就是XHn型气相分子。Si、Ge、Sn、S、Se、Te、P、As、Sb等元素的氢化物都很活泼，容易分解，大部分属剧毒气体，必须在通风橱中处理这类气体。早期文献中介绍XHn型分子的合成比较多[2～4]，但适合普通实验室设备的简单、实用、安全的合成方法并不多见。     

硼氢化钾还原-无色散原子荧光测定化探样及水样中痕量汞

原子荧光光谱法目前已发展成为一种新的痕量分析技术。特别是氢化物法配合无色散原子荧光仪器,在分析As、Sb、Bi、Se、Te及Hg等其他化学手段感到困难的痕量元素时效果更好。本文对报导较少的硼氢化钾还原-无色散原子荧光测汞方法作了比较全面的介绍。经过近万个化探样品的分析,证明方法灵敏、快速、可靠,具有一定特点。     

化学蒸气发生-四通道原子荧光光谱法同时测定高纯金中的痕量As,Sb,Bi,Te

采用化学蒸气发生-四通道原子荧光光谱法测定了高纯金中的痕量砷、锑、铋和碲。用乙酸乙脂萃取分离金,水相还原后采用化学蒸气发生-四通道原子荧光光谱法测定高纯金中的痕量砷、锑、铋和碲。在最佳条件下,方法对As,Sb,Bi,Te的检出限分别为0.04,0.05,0.04,0.03 ng/mL(3σ);测定精密度分别为0.98,0.89,0.94,0.99%(对10 ng/mL As,Sb,Bi和Te混合标准,n=7)。方法对实际样品中的As,Sb,Bi,Te进行了同时测定,测定结果与标准方法无明显差异,各元素的加标回收率为95%～105%。     

土壤中十四种元素的ICP-AES和ISE的碱熔直接测定

报道了应用直读型电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)及离子选择电极(Ion-SelectiveElectrode,简称ISE)成功地测定土壤中十四种难测元素的方法及其精度。土壤样品经过NaOH高温熔融、用水定容后,直接在强碱性溶液中用ICP-AES测定通常较难测定的十三种元素;Se、Mo、B、As、Si、S、Pb、P、Ge、Sn、Sb、Cr、K。通过ISE亦能很好地测定F。     

熔片X射线荧光光谱法测定锡矿石中八种重金属元素

建立了X射线荧光光谱法测定锡矿石中8种重金属元素Fe,Cu,Zn,As,Sn,Sb,Pb,Bi的分析方法。通过固体纯物质机械混合研磨配制了校准曲线所用的标准样品。采用混合熔剂(Li2B4O7:Li BO2:Li F=10:2.5:1,质量比)加氧化剂Li NO3熔融制备了X射线荧光法所用玻璃片样品(混合熔剂:Li NO3:试样=20:3:1质量比)。在高温熔融过程中,易挥发元素As,Pb一直存在于熔体中,未随熔融时间的增加而出现挥发损失。使用外加内标元素法(In和Co)对元素Sn,Sb,Fe的吸收增强效应进行校正,其它元素使用Compton散射线内标法进行校正。采用干扰曲线法校正Pb Lα对As Kα以及Sn Lβ1背景峰对Sb Lα的谱线重叠干扰。各元素检出限分别为Fe 0.0074%,Cu 0.0043%,Zn 0.0025%,As 0.0036%,Sn 0.019%,Sb 0.010%,Pb 0.0039%,Bi 0.0026%。对国家一级标准物质锡精矿GBW07232和锡矿石GBW07281分别进行10次制样测量,各元素精密度(RSD)在0.11%~18%之间。     

预还原氢化物发生-原子荧光光谱法快速测定化探样品中的As、Sb、Bi、Hg

通过对化探样品进行王水密闭溶解,饱和的硫脲-抗坏血酸预还原,运用氢化物发生-原子荧光光谱法实现了地质样品中As、Sb、Bi、Hg元素的任意配对以及连续快速测定。实验确定了原子化器高度为14mm,最佳溶样时间为1h。在优化条件下,结果显示还原剂(硫脲-抗坏血酸)对Hg、Bi测定结果无影响,且Hg、Bi测定结果在预还原20min至48h内都很稳定,测定结果良好,Cu、Co、Ni、Au、Ag、Cd、As、Sb、Bi、Se、Ge等金属离子对预还原测定汞均无干扰,对比实验表明还原剂体系下汞荧光强度值基本不变。方法的检出限低、精密度好、准确度高、操作简便,有效避免了元素污染问题,可满足大批量地质样品分析测定的需要。