应用X射线定向仪测定晶面指数和取向的简便法

本文介绍在X射线定向仪上用cuK辐射的两种特征谱线,对同一晶面衍射所获得的θκα1-θκβ角差δ进行测定,并与已计算好的δ-d表进行对照,从而达到测定晶面指数和取向的目的. 一、原理和方法 X射线定向仪通常用来精确测定晶片表面与已知晶面的取向偏离.对于未知晶面,采用常规方法测定θhkl值是不可能的.然而利用X射线Kα1和Kβ对同一晶面的衍射角差δ来反推相应的θhkl值是方便的.因为不管实际晶片表面与衍射晶面有多大偏角,给定晶面的θ角差是一定的. Popovic曾提出过在X射线衍射仪上,用不同波长对某一晶面衍射测得的角差δ来计算d值的…     

用X射线粉末衍射法测定晶体结构

测定的晶体结构方法很多,不同方法可以相互补充和验证.X射线衍射是测定物质相结构最常用、最方便的一种方法.本文仅就多晶X射线衍射方法测定材料的晶体结构作一简要的叙述. 一、X射线粉末衍射方法 用于测定物质晶体结构的X射线粉末衍射的主要方法简述如下.1.德拜-谢乐照相法 光源用单色X射线,试样为多晶转动样品,用对X射线灵敏的胶片记录全部衍射线的位置、强度和形状.由于底片安装方式不同,有对称型正规法、对称型背射法和反对称法三种.此法只需 0.1mg试样,试样的吸收系数可以调节,使整个照片衍射强度比较均匀. 对于对称型的粉末照片,必…     

X射线双晶衍射技术

一、双晶衍射仪的原理 当一束入射X射线射入第一晶体A后,从A晶体出来的衍射线,又作为第二晶体B的入射线,从B晶体出来的衍射线用计数管或底片接收进行分析.双晶衍射仪中两个晶体通常处于(n,-n)平行衍射位置.仪罩工作时,第二晶体的转角θ稍微转动,用来记录它的摆动曲线(积分曲线),以测量试样表面层的微量应变或点阵常数的微小变化. 二、仪器的理论精度 分析了W.L.Bond[1]设计的多用途双晶X射线测角仪,就可绘出双晶衍射仪的衍射几何. 测量双晶衍射仪精度的方法,是用铜Ka1辐射作硅(111)面的摆动曲线,测量半峰高宽度(简称半峰宽),再和理论计…     

测定(hkl)面族中多级衍射等偏角的简易定向法

X射线定向仪,以往通常仅用于测定被测晶面与已知结晶面之间的偏差,因此它仅应用于晶体方位的修正测试.然而,要想利用它直接测定某未知晶面的真正θhkl,从而计算出d值并确定晶面指数,是很困难的.这是因为实测晶面往在与某结晶面有偏离,使未知晶面的θhkl无法确定.这样大大限制了它的应用. 为了解决上述问题,作者做过一些新的测试方法的摸索.本文仅对利用定向仪测定(hkl)面族中多级衍射等偏角的原理来确定晶面指数或取向的方法作一简要介绍. 一、原理与方法 因单晶体中同一(hkl)面族中不同级晶面的方向是严格一致的。因此不管晶面怎样偏离,同…     

X射线衍射φ旋转及其应用

介绍了Ｘ射线衍射φ旋转方法，结合具体实例说明了该方法在单晶片全方位定向、研究生长薄膜层与衬底的取向关系、研究生长薄膜层中缺陷、以及在该系统辅助下应用非对称θ－２θ衍射技术研究生长层与衬底界面晶格失配方的应用。     

在定向仪上用衍射线对法精密测定晶胞参数

一、原 理 在粉末照相或衍射法测定晶胞参数时,为了避免仪器的零点漂移,常采用线对法[1,2].将线对法应用于定向仪测定晶胞参数,不仅能避免零点漂移,而且能克服因实测面与结晶面间的偏离而造成的θhk1角不真问题.因定向仪上的样品实测面与某结晶面往往是很难重合一致的,因此实测的θhk1不能计算d值.而应用线对法就不存在这问题,因而线对法应用于定向仪测定晶胞参数更具实际意义. 文献[1,3]虽已推出粉末衍射法中利用线对法计算立方及非立方的晶胞参数的公式,但公式比较复杂.线对法应用于定向仪时,采用的是单晶样品,且都在相同波长条件下测定同…     

二维X射线衍射及其应用研究进展

介绍了三维、一维和二维X射线衍射的有关概念,给出二维X射线衍射的定义:在X射线衍射实验中使用二维探测器,并对由二维探测器记录的二维象、二维衍射花样的数据进行处理分析和解释的X射线衍射方法称为二维X射线衍射术。之后,分四部分综述二维X射线衍射(2D-XRD)和散射及其应用的进展。1)单晶样品的二维衍射包括经典的劳厄法定向和用二维探测器(带衰减底片组件、CCD和IP等)的劳厄法测定晶体结构的单晶样品现代二维衍射术;2)随后,评述多晶样品二维衍射的衍射几何、实验装置,以及在物相鉴定、应力测定和织构测定方面应用的方法和基本公式;3)二维小角散射(2D-SAXS)也作了简介。4)把一维和二维衍射术作了较全面的比较和综合评论。     

二维X射线衍射及其应用研究进展

介绍了三维、一维和二维X射线衍射的有关概念,给出二维X射线衍射的定义:在X射线衍射实验中使用二维探测器,并对由二维探测器记录的二维象、二维衍射花样的数据进行处理分析和解释的X射线衍射方法称为二维X射线衍射术。之后,分四部分综述二维X射线衍射(2D-XRD)和散射及其应用的进展。1)单晶样品的二维衍射包括经典的劳厄法定向和用二维探测器(带衰减底片组件、CCD和IP等)的劳厄法测定晶体结构的单晶样品现代二维衍射术;2)随后,评述多晶样品二维衍射的衍射几何、实验装置,以及在物相鉴定、应力测定和织构测定方面应用的方法和基本公式;3)二维小角散射(2D-SAXS)也作了简介。4)把一维和二维衍射术作了较全面的比较和综合评论。     

多晶X射线衍射图指标化的叠代修正法

本文提出了一种在粗略晶胞参数已知的情形下对化合物多晶衍射图进行指标化的叠代逼近法。当原始粗略晶胞参数误差不太大(关键词：     

用卢瑟福背散射/沟道技术及高分辨X射线衍射技术分析不同Al和In含量的AlInGaN薄膜的应变

利用卢瑟福背散射/沟道技术对在蓝宝石衬底上用金属有机化学气相沉积方法生长的有GaN缓冲层(>2μm)的一系列不同Al和In含量的AlInGaN薄膜进行组分及结晶品质的测量；并结合高分辨X射线衍射技术，通过对AlInGaN的对称(0002)面，及非对称(1015)面的θ—2θ扫描及倒空间扫描，可以精确测定AlInGaN外延层的晶格常数及水平和垂直方向的应变.实验结果表明AlInGaN 薄膜中不同含量Al和In对其应变有较大的影响，结合Vegard定理，对这一现象给出了理论的解释. 关键词： AlInGaN 高分辨X射线衍射 卢瑟福背散射/沟道 弹性应变     

层状结构铁电材料热压择优取向度的X射线测定法

本文提出了层状结构铁电陶瓷经热压后材料择优取向度的定义和X射线测定方法。只需测定任一或数条(00l)衍射线加压前后衍射强度比值,即可求出取向度。用含铋层优化合物pbBi₄Ti₄O₁₅作为测定实例,证明了这一方法的适用性。 关键词：     

透射式GaAs光电阴极的X射线衍射研究

本文介绍了高精度多晶多反射X射线衍射仪的一种新的应用.首次将其应用于研究高灵敏度第三代微光象增强器中由掺Zn的p型GaAs/GaAlAs、玻璃组成的光电阴极的材料特性；发展了用倒格子空间衍射图方法评价光电阴级组件晶体质量的方法.通过分析得知,衍射强度在倒格子空间沿。方向展宽主要起因于晶体中的嵌镶效应的增强.文中采用衍射动力学理论的计算方法并忽略初始条件,模拟后得到的曲线与衍射强度沿ω/θ方向的投影强度曲线符合的比较好.粘接良好的阴极样品表明,GaAs/GaAlAs晶格常数的变化基本上可以消除,但粘接引起的嵌镶效应的增强却不能完全消除.     

原级X射线谱强度分布的定量测定

本文提出了衍射或荧光分析用的X射线管原级X射线谱强度分布的定量测定方法。在带有正比、闪烁计数管的衍射仪上用LiF分光晶体进行展谱测定。实验测定强度经校正计算还原为X射线管窗口处的强度。对荧光X射线管还应测定几个射线束方向的原级谱加以平均求得有效原级谱。分析了原级X射线谱数据的误差及其对基本参数法等实际应用的影响。 关键词：     

一维Fibonacci系列的X射线衍射峰轮廓的计算

用简单原子层的Fibonacci系列模型,根据振幅-相位关系,计算了其X射线衍射图谱,衍射峰位置在k=2π((m+nτ)/(1+2τ))d^-1,d为平均面间距。衍射峰角宽度β与原子层总厚度D仍满足Scherrer公式:β=0.88λ/Dcosθ。并用振幅-相位图解释了弱衍射峰的强度随原子层数增大时产生起伏的现象。 关键词：     

同步辐射X射线和中子粉末衍射及Rietveld精化（1）

把Rietveld精化方法用于处理同步辐射X射线和中子粉末衍射数据，使得粉末试样的结构研究有很大发展。本文在简要介绍两种粉末衍射术和Rietveld方法之后，用实例描述它们在结构精化、解未知结构、沸石、有关微孔材料及磁结构材料测定中的应用。     

同步辐射X射线和中子粉末衍射及 Rietveld精化(I)

把Ｒｉｅｔｖｅｌｄ精化方法用于处理同步辐射Ｘ射线和中子粉末衍射数据，使得粉末试样的结构研究有很大发展．本文在简要介绍两种粉末衍射术和Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法之后，用实例描述它们在结构精化、解未知结构、沸石、有关微孔材料及磁结构材料测定中的应用．     

非均匀光栅的振幅分布和光强特性分析

从光栅自身的空间结构出发,用菲涅尔衍射公式推导了非均匀光栅的振幅分布公式(θi)和光强特性公式I(θi),用Maple程序给出了算例之不规则光栅衍射光强I(θi)随sinθi变化曲线,得到了非均匀光栅的衍射特性。一维透射平面光栅的振幅分布(θ)和光强分布I(θ)不仅与非均匀光栅的平均光栅常量有关,还与每个单元单缝的缝宽a有关。这一特性,补充完善了平面光栅衍射性质,同时,也为通过调整光栅空间结构,设计、研制、测试非线性光栅提供了理论依据。     

用广角纪尼叶单色聚焦相机精确测量钆镓石榴石的点阵常数

文献[1]对德拜一谢乐照相中精确测定点阵常数的方法进行了研究.用衍射仪精确测量多晶点阵常数的方法,在文献[2]中作了归纳总结.本文简要介绍用广角纪尼叶(Guinier)相机精确测定钆镓石榴石(GGG)和掺杂钆镓石榴石点阵常数的方法和结果. 一、广角纪尼叶单色聚焦相机的特点 广角纪尼叶相机与纪尼叶四重聚焦粉末相机的基本原理相同[3].广角纪尼叶相机的主要特点是,可收集到角度很广(1—89°)的衍射线和可得到严格的单色入射辐射.我们使用的Huber广角纪尼叶相机,通过适当的调节可获得严格的Ka1;辐射. 众所周知,点阵常数测量的精度,取决于衍射线…     

同步辐射X射线衍射技术

 X射线跟我们眼睛感觉到的可见光一样都是电磁波,但X射线的波长要小得多.我们常说的X射线的波长在0.1埃至10埃之间。而物质的原子或分子的空间排列也在这个尺度范围中.每个原子或分子是一个对波的散射体,根据波的衍射原理,如果物质的原子或分子的空间排列有一定的周期性,则X射线会在物质中产生衍射现象.如果我们收集衍射信号并加予分析,就可以揭示晶体内的原子和分子的空间排列状况.X射线衍射技术正是这样一门科学技术,它在物理学、材料科学、化学、生物学等众多的领域中有着广泛的应用.     

晶体结构的X射线粉末衍射法测定──纪念X射线发现100周年

晶体结构是了解固体材料性质的重要基础。广泛应用的测定晶体结构的有效方法是ｘ射线单晶结构分析。然而许多固态材料不可能获得满足单晶结构分析所需要的尺寸和质量，在这种情况下，实质上有关结构的信息是来自粉末衍射数据。文章综述了根据粉末衍射数据，应用单晶结构分析方法测定晶体结构的进展。同时着重讨论了粉末衍射重叠峰的分离方法。