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本工作用劳埃法对分布于三十二炉的四百多个碳化硅单晶进行了类型分布、连生规律和结构完整性等的分析。大量的观察表明,碳化硅片状晶体中的共轴平行连生是一种普遍的现象,二种以上类型的连生占晶体总数的三分之二。文中列出了各种连生类型的统计。系统地报导了SiC晶体连生状况的X射线法实验结果。对各炉晶体所作的类型分布的分析表明,不同的制备条件下影响较大的是颜色和结构完整度。类型分布的规律性并不明显,邻近的晶体类型可以完全相异。用实验数据分析了类型、颜色和蚀坑间的关系。对碳化硅多型体产生的机理作了讨论。 相似文献
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本文提出一种比较简便且适用性强的用电子计算机进行单斜晶系化合物衍射图指标化的解析法。根据各衍射线对晶面间距倒数平方值Q之差δ值的重复数m(δ-m图)及其比例关系确定晶胞参数b。经退化步骤将各倒易阵点投影到a*c*平面上,每三个倒易阵点组合可求出一对倒易矢量间的夹角。根据夹角重复数M(β-M图)确定β角。从而可求出晶胞参数a,c。最后用叠代修正逼近指标化方法进行全衍射图的指标化。给出了计算机程序流程图。用四水醋酸镍和钨酸钾等作为实例,证明了本指标化方法是适用的。
关键词: 相似文献
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研究固体微结构的X射线粉末衍射全谱图拟合方法 总被引:3,自引:0,他引:3
X射线粉末衍射全谱图拟合的Rietveld方法是一种有效的晶体结构和微结构的分析方法。本文介绍了X射线粉末衍射全谱图拟合的Rietveld方法的基本原理,综述了该方法中的线形分析、校正及其在晶体结构分析、微结构分析、相定量分析和衍射图谱指标化等方面应用的最新进展。文章最后介绍了在实验方案选取方面的新概念 相似文献
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用衍射仪和Guinier聚焦相机收集了含秘层状结构铁电体PbBi_4Ti_4O_(15)SrBi_4Ti_4O_(15)的X射线粉末衍射图谱(Cu Ka),给出了d值大1.13A的88和76条衍射线的衍射数据和指标。它们都属正交晶系,空间群Bb2_1m(C_2v~(12)),点阵常数和X射线理论密度为 PbBi_4Ti_4O_(15)α=5.431A,b=5.459A,c=41.36A;z=4;D_x=7.986g/cm~3. SrBi_4Ti_4O_(15):α=5.428A,b=5.438A,c=40.94A;Z=4;D_x=7.447g/cm~3. 相似文献
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用X射线多晶衍射的方法精密测定晶胞参数时,通常要求用精密的实验方法绝对测得每条衍射线的衍射角θ值[1].这一般要有精密的衍射仪或粉末照相设备,并要对它们作严格的调节和校正.因为绝对测定θ角首先要有精确的角度零点位置作标准,并需根据衍射线形或强度分布严格地判断真正的 相似文献
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