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| X射线双晶衍射技术 | |
| 引用本文： | 徐景阳,谭淞生,许顺生.X射线双晶衍射技术[J].物理,1988(1). |
| 作者姓名： | 徐景阳 谭淞生 许顺生 |
| 作者单位： | 中国科学院上海冶金研究所 (徐景阳，谭淞生)，中国科学院上海冶金研究所(许顺生) |
| 摘 要： | 一、双晶衍射仪的原理 当一束入射X射线射入第一晶体A后,从A晶体出来的衍射线,又作为第二晶体B的入射线,从B晶体出来的衍射线用计数管或底片接收进行分析.双晶衍射仪中两个晶体通常处于(n,-n)平行衍射位置.仪罩工作时,第二晶体的转角θ稍微转动,用来记录它的摆动曲线(积分曲线),以测量试样表面层的微量应变或点阵常数的微小变化. 二、仪器的理论精度 分析了W.L.Bond1]设计的多用途双晶X射线测角仪,就可绘出双晶衍射仪的衍射几何. 测量双晶衍射仪精度的方法,是用铜Ka1辐射作硅(111)面的摆动曲线,测量半峰高宽度(简称半峰宽),再和理论计… |
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