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高温高压下CeTbO3合成过程中电阻的动态测试研究 总被引:1,自引:1,他引:0
在0.5 GPa、4.0 GPa的压力下,从室温到800 ℃的温度范围内测量了氧化物CeTbO3、单稀土氧化物Tb4O7、CeO2和摩尔比维4∶1配比的混合物CeO2+Tb4O7等的电阻随温度变化关系。对这四种物质均反映出电阻随温度增加而减小的半导体特征。在压力维0.5 GPa,温度高于600 ℃时发现了混合物CeO2+Tb4O7、氧化物Tb4O7中电阻变化的起伏。X射线衍射谱表明,对应这一电阻变化,在结构上出现了变化。结果分析表明,这一变化与Tb4+→Tb3+的价态变化密切相联。 相似文献
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采用金刚石压砧高压装置,研究了双钙态矿结构化合物Sr2FeNbO6及其掺杂物Sr2FeMo0.3Nb0.7O6在室温下,20 GPa内电阻和电容随压力的变化,并发现Sr2FeNbO6在7.5 GPa左右压力下发生了相变,而Sr2FeMo0.3Nb0.7O6的相变发生在2.8 GPa左右。并结合这两个样品的高压下的同步辐射能散X射线衍射实验,进一步证明了这两种相变是电子结构相变引起的。 相似文献
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非线性光学晶体CsLiB6O10谐波产生的允许参量分析 总被引:2,自引:2,他引:0
根据波耦合中的能量动量守恒和色散方程,数值模拟计算了CsLiB6O10晶体在II类相位匹配下的倍频和混频产生的允许参量理论曲线.通过与β-BaB2O4晶体的比较,得到了CsLiB6O10晶体的谐波具有走离角小、允许参量范围宽的结果. 相似文献
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在金刚石压砧装置上,采用电阻和电容测量方法研究了Cd1-xZnxTe(x=0.04)在室温下、17 GPa内的电阻、电容与压力的关系。实验结果表明,它在3.1 GPa左右和5 GPa左右发生了两次电子结构相变,而在3.1 GPa以上和5.7 GPa左右发生了两次晶体结构相变。同时,还在活塞-圆筒测量装置上研究了Cd1-xZnxTe(x=0.04)在室温下、4.5 GPa内的p-V关系。实验结果表明它在3.8 GPa左右发生了相变。本工作还给出了它在相变前后的状态方程,以及它的Grüneisen参数γ0、体弹模量B0 与B0 的压力导数B0′。 相似文献
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以反滴共沉定法制备了NiFe2O4纳米微粉,并在不同压力下将其压制成纳成米固体,然后用XRD谱和ESR谱研究了NiFe2O4纳米固体结构和界百状态随压制压力的变化。实验结果表明,NiFe2O4纳米固体的结构在高压下没有明显的变化,但其ESR谱的共振线宽和g因子值随着压力升高均表示出先逐渐增大至最大值,然手缓慢下降的规律。这种变化可以归因于纳米固体内部界面离子间的磁相互作用在压力的下所发生和变化。这引起实验结果境示,对于NiFe2O4纳米固体而言,最佳的成型压力是4.5 GPa,在此压力下,NiFe2O4纳米粒子既可以被压制成致密的纳米固体,又能够保留下它们的纳米结构和纳米性质。 相似文献
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本文应用DTA及X射线衍射法在常压及高压下对一种含SiO2的锂离子导体玻璃0.3Li2O-0.67SiO2-0.03V2O5加热时的晶化行为进行了研究。该氧化物玻璃的晶化过程分两个阶段。在常压下,第一晶化过程发生在560 ℃附近,析出相为Li2O·2SiO2。对应的晶化温度Tx1随压力的升高发生了急剧的变化。从常压到0.3 GPa,Tx1从560 ℃升高到620 ℃;继续升压时Tx1突然下降,并在0.4 GPa处跌到528 ℃,呈现一个陡峭的峰值。0.4 GPa以上,Tx1随压力的变化则呈常规行为,比较平稳地,大致线性地升高,一直到最高测定压力2 GPa。 本文最后对这些行为的可能原因进行了讨论。 相似文献
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本文研究了Pd40Ni40P20块状非晶在4 GPa及常压下的晶化过程。得到了时间-温度转变图。结果表明:高压下样品的晶化温度明显升高,压力对原子的长程扩散及相分离熔体的粘性流动均有抑制作用。在接近熔点进行高压退火时,获得了单相过饱和固溶体。其晶体结构为面心立方。 相似文献
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以化学水解法合成的β-FeOOH纳米微粉(平均粒径在12 nm左右)为原料,分别在0.0~4.5 GPa和200~350 ℃的压力和温度范围进行冷压和热压处理。实验结果表明,冷压对β-FeOOH纳米固体的结构没有明显影响,但却使它的热致相变(从β-FeOOH相到α-Fe2O3相)温度从常压下的203.8 ℃提高到4.5 GPa压力下的274 ℃,接近常规体相材料的相变温度。而在一定的热压条件处理下,首次发现了从β-FeOOH相到α-FeOOH相的结构转变,并在4.5 GPa、200 ℃的热压条件下得到了转变过程中的一个新的亚稳相。从压力和温度对纳米微粒的作用角度,对上述实验结果进行了讨论。 相似文献
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在5~7 GPa,600~1 800 ℃的压力-温度范围内对组份为氧化硅-稀土氧化物微粉混合物(3α-Si3N4+0.5La2O3+0.5Pr6O11(mol.%))的烧结产物进行了研究。所得结果表明其成相规律与Sialon体系在高温高压下烧结时不同。在直到5 GPa的高压下,α-Si3N4表现出相当高的稳定性,并不转变成β相。当烧结温度低于1 600 ℃时,烧结体仍然由以α-Si3N4为基础的固溶体及稀土氧化物组成,而后者则表现出一系列相变化。当压力超过6 GPa、温度高于1 600 ℃时,物料烧结成一个新的单相高压结构ReSi3O2N4。其衍射数据可以用一个正交点阵来拟合。其晶格参数为:a=1.298 3 nm,b=0.814 0 nm,c=0.428 5 nm。 相似文献