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1.
 本文报导了一种外加热型金刚石对顶压砧装置的高温高压技术,装置的压力可达20 GPa,温度可达350 ℃。采用本装置对六角结构的α-LiIO3进行了高温高压X射线衍射实验,获得的四方结构高压相与用淬火卸压所得的ε相结构一致;建立了高温下的红宝石测试技术。发现可以根据由此法测定的Δγp-T曲线初步判别样品是否存在伴随有体积变化的结构相变,并可估计出该相变的压力、温度范围及相变造成的压力下降值。  相似文献   
2.
 采用同步辐射X光源和能散法,对CsBr粉末样品进行高压原位X光衍射实验。由金刚石对顶压砧高压装置(DAC)产生高压,用已知状态方程的Pt粉末作内标,由Pt的衍射数据确定样品压力,最高压力达64.4 GPa。实验结果表明:室温常压下原始CsBr样品是具有简单立方结构的晶体,其晶格常数α=0.428 5 nm。高压下CsBr的结构有所变化,在51.3~58.4 GPa的压力范围内,(110)线和(211)线发生劈裂,从而形成了四方相。  相似文献   
3.
 我们用金刚石压砧装置(DAC)高压X射线粉末衍射照相方法,研究了β-BaB2O4晶体的相变。压力从0.1 MPa逐步加至17.6 GPa,发现BBO由室温下的六方相经历了若干次相变后,当压力加至11.5 GPa时,转变为无定形相。在11.5 GPa压力前的相变是可逆的,一旦进入无定形相,则相变是不可逆的。  相似文献   
4.
杠杆式金刚石对顶砧高压装置的压力校正   总被引:1,自引:0,他引:1  
一、前 言 早在三十年代,已经有人开始进行高压下X射线衍射技术的研究[1].随着高压技术的不断发展,实验方法也不断更新,压力范围不断扩大.六十年代初,人们开始应用金刚石对顶砧进行X射线衍射实验[2,3].到了七十年代,这方面的技术有很大的发展,压力可达几十万大气压[4,5]。 对金刚石对顶砧超高压装置进行压力标定,是个普遍关心的问题.在这方面,国际上已进行了许多工作.Decker[6]研究的 NaCl状态方程,作为一种校压基准,已普遍应用于高压下的X射线衍射实验中;七十年代,Barnett[7]等人发现红宝石荧光光谱随着压力升高有线性红移现象,这种现象…  相似文献   
5.
对离子注N的GaAs样品作了77K的静压光致荧光研究。观察到了N陷阱中心元胞势束缚激子Nx的发光光谱及畸变势束缚激子NT的发光峰。测量NX能级的压力系数为2.8meV/kbar,常压下N的共振态高于导带边179meV。讨论了N等电子陷阱的电声子耦合强度及有效束缚激子半径随压力的变化关系。 关键词:  相似文献   
6.
用金刚石压砧高压X射线衍射技术研究了α-LilO3在室温高压下的压缩行为,压力达23.0GPa。观察到晶格压缩的各向异性,其c/a轴比以-6.187×10-3/GPa的速率减小。得到其常压下的体弹模量B0=39.2GPa,体弹模量对压力的一阶导数B'0=3.787。α-LiIO3在高温高压下转变成四方结构,与淬火卸压所得的ε-LiIO3结构一致。 关键词:  相似文献   
7.
用金刚石压砧高压x 射线衍射技术研究了_LiIO_3 在室温高压下的压缩行为, 压力达23.0GPa. 观察到晶格压缩的各向异性, 其c/a 轴比以-6.187 * l0**3 /GPa的速率减小. 得到其常压下的体弹模量B。= 3 9.2 G Pa, 体弹模量对压力的一阶导数B。=3.7 8 7. _LiIO_3在高温高压下转变成四方结构, 与淬火卸压所得的“_LiIO_3, 结构一致. 关键词:  相似文献   
8.
高压下的同步辐射能量色散粉末衍射   总被引:15,自引:6,他引:9       下载免费PDF全文
 同步辐射已经成为高压研究的一个非常理想的光源。在北京同步辐射装置(BSRF)上、结合金刚石对顶砧超高压实验技术建立起来的能量色散X射线粉末衍射系统,已用于物质状态方程和结构相变的研究。介绍了能量色散衍射方法,以及同步辐射原位测试过程。  相似文献   
9.
高压衍射实验中的同步辐射光束的定位   总被引:1,自引:1,他引:0       下载免费PDF全文
 应用同步辐射光源进行高温高压原位能量色散X射线衍射实验,入射X射线光束定位是关键。北京同步辐射实验室高压衍射站引入四刀光阑扫描系统,实现调光定位自动化,简化调光手续,提高实验效率,为高压衍射实验站的用户进行实验提供了方便。  相似文献   
10.
高压及热处理对氮碳薄膜激光诱导荧光效率的影响   总被引:1,自引:1,他引:0       下载免费PDF全文
 应用激光激发荧光光谱实验对经热处理后及高压条件下的氮碳薄膜荧光光谱进行了测量分析。实验显示,热处理效应和高压效应均导致薄膜荧光效率降低,前者表现为不可恢复,后者为可恢复即卸压后荧光效率的恢复,表明导致荧光光谱效率降低的微观机制不同,为氮碳薄膜荧光模型提供了新的实验证据。  相似文献   
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