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1.
We report the simulation results on the thickness uniformity of optical coatings deposited on spherical substrates by optimizing the geometric configuration parameters, such as tilting angle of the substrate holder and position of the evaporation source in a 1 000-mm-diameter planetary rotation stage (PRS). We reveal that good film uniformity on convex spherical surfaces or flat substrates, as well as concave surfaces with weak to moderate curvatures can be obtained through appropriate tilting of the substrate holder. For 300-mm-diameter substrates with clear aperture to radius of curvature (CA/RoC) between 0.3 and 0.7, the achievable film uniformity is above 99%. The source position is optimized to achieve good film uniformity.  相似文献   
2.
高丽峰  熊胜明  黄伟  孔明东 《光学学报》2008,28(s1):151-154
根据光腔衰荡光谱技术(CRDS)原理,使用中红外光参变振荡器(OPO)为光源建立了直腔与折叠腔相结合的中红外波段3.6 μm 反射率测量实验装置,用于研究中红外波段的高反射膜反射率,测试精度为10-4。使用直型衰荡光腔测试了三对不同薄膜材料设计镀制的高反射腔镜的反射率,并选择了一对腔镜用于实验装置中。采用该装置精确测试了不同薄膜材料镀制的高反射膜的反射率,包括YbF3/ZnS,YbF3 /ZnSe多层膜,以及由银加保护膜镀制的反射镜。研究表明,中红外波段介质膜的反射率可达到R>0.9990,其中由YbF3/ZnSe镀制在硅基底上的多层介质膜3.6 μm反射率可达到99.96%。  相似文献   
3.
An approach for determining the optical constants of the weakly absorbing substrate is developed and applied to obtain the parameters of CaF2 and fused silica substrates in deep ultraviolet (DUV) and vacuum ultraviolet (VUV) range. A method for extracting the optical constants of thin films deposited on strongly absorbing substrate, which is based on the reflectance spectra measured at different angles of incidence, is also presented. The optical constants are determined by fitting the measured spectra to the theoretical models. The proposed method is applied to determine the refractive index and extinction coefficient (n, k) of MgF2 film deposited on silicon substrate by electron beam evaporation with substrate temperature 300 ℃ and deposition rate 0.2 nm/s. The determined n, k values at 193 nm are 1.433 and 9.1×10-4, respectively.  相似文献   
4.
光学平板偏振分光镜对称膜系的优化设计   总被引:3,自引:1,他引:2  
 提出一种新算法,用于优化设计对称膜系光学偏振膜。所设计膜系能保证在较宽的工作带宽内有高的消光比(>1000); 而且膜系结构简单,设计灵活,镀制该偏振膜容易实现。  相似文献   
5.
波长1064nm脉冲激光高阈值反射膜的研制   总被引:1,自引:1,他引:0  
 研究HfO2/SiO2高反射膜的制备工艺及其激光诱导损伤阈值的比较测试,分别采用了反应蒸镀HfO2、反应离子辅助蒸镀HfO2、反应离子辅助蒸镀金属Hf的源材料形成HfO2薄膜。采用这三种工艺制备了HfO2/SiO2高反射膜,在中心波长1064nm处,反射率 R≥99.5%,其中反应蒸镀HfO2/SiO2高反射膜损伤阈值最高,可达60J/cm2(1064nm,5ns)。  相似文献   
6.
波长1O64nm脉冲激光高阈值反射膜的研制   总被引:7,自引:4,他引:3       下载免费PDF全文
研究 Hf O2/ Si O2 高反射膜的制备工艺及其激光诱导损伤阈值的比较测试,分别采用了反应蒸镀 Hf O2、反应离子辅助蒸镀 Hf O2、反应离子辅助蒸镀金属 Hf 的源材料形成 Hf O2 薄膜。采用这三种工艺制备了 Hf O2 / Si O2 高反射膜,在中心波长 1064nm 处,反射率 R≥99.5% ,其中反应蒸镀 Hf O2 / Si O2 高反射膜损伤阈值最高,可达 60 J/cm 2(1064nm ,5ns)。  相似文献   
7.
等离子体辅助沉积HfO_2/SiO_2减反、高反光学薄膜   总被引:2,自引:0,他引:2  
本文报导了用等离子体辅助(Plasma-IAD)沉积技术沉积HfO2/SiO2减反及高反光学薄膜。在波长1064nm处,HfO2/SiO2减反膜透过率大于99.5%,HfO2/SiO2高反膜反射率大于99.5%。  相似文献   
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