Application of step-scan FTIR to the research of quantum cascade lasers

Fourier transform infrared (FTIR) spectroscopy has moreadvantages over many other techniques for high resolu-tion studies in the mid-infrared and far-infrared spectralranges. In addition to the high frequency resolution, itexhibits a high signal-to-noise ratio (SNR), high through-put, and broad band range. There are two ways forthe spectrometer to implement the scan process, i.e.,the rapid-scan (continuous-scan) mode and the step-scan mode. Although many relatively simple rapid-scanFTIRs h…     

低温等离子体原子荧光光谱法直接测定固体样品中的汞

建立了低温等离子体(LTP)与原子荧光光谱仪(AFS)联用直接检测ABS固体样品中Hg的方法.实验采用介质阻挡放电(DBD)方式产生低温等离子体,剥蚀固体样品后产生的元素蒸气引入到原子荧光光谱仪进行检测.优化的实验条件为:DBD外接电源的放电功率为16～18 W,放电气体流速为400 mL/min;采样距离为1～5 mm;原子荧光光谱仪的原子化器高度为10 mm.本系统测定Hg的检出限为0.91 mg/kg,线性范围为91.5～1096 mg/kg;精密度(RSD,n=7)为1.9％～2.3％,并对标准样品以及实际样品进行测定,测定结果与标准值与ICPMS及CVG-AFS一致,表明本方法可作为直接检测固体样品的新型元素分析技术.     

低温等离子体剥蚀-电感耦合等离子体质谱联用对电路板镀层的深度分析

建立了基于低温等离子体(Low temperature plasma)剥蚀系统将固体样品直接引入电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)并用于电路板镀层中Au,Ni和Cu的深度分析.此实验中采用介质阻挡放电(DBD)方式产生低温等离子体探针,逐层剥蚀样品表面,由ICPMS检测元素信号.对DBD所用放电气体种类、外加电场功率、放电气体流速和采样深度等实验条件进行优化.在优化条件下,应用LTP-ICPMS在30 s内完成电路板镀层(20 μm Au/10 μm Ni/Cu基底)的逐层剥蚀和深度分析,元素种类和分层顺序与X射线光电子能谱(XpS)相吻合,镀层的分辨率可拓展至微米水平,表明此技术可直接用于固体样品的深度分析.     

碳纳米材料分析方法的研究进展

随着碳纳米材料的大量生产和应用,对不同介质中碳纳米材料的检测和表征方法显得尤为重要。本文综述了碳纳米材料常用的表征和检测技术。首先介绍了碳纳米材料的分离富集技术,包括萃取分离、分级分离以及多种分离方式结合的样品前处理技术,然后综述了电子显微镜、光谱、热分析、电化学分析、同位素标记和成像等表征技术,以及荧光光谱、激光诱导击穿光谱、质谱、扫描拉曼显微镜以及多种技术联用的定量分析方法,并对一些新兴的碳纳米材料以及一些特殊的表征检测方法进行了介绍。最后,对碳纳米材料的未来发展趋势和前景进行了展望。     

DBD在原子光谱领域内的应用进展

介质阻挡放电因其体积小、结构简单、能耗低、工作温度低、样品解离/激发能力强等显著特点,特别适合于分析仪器的微型化和便携化。目前,基于介质阻挡放电的原子化器或激发光源已成功应用于原子吸收光谱仪、原子荧光光谱仪和原子发射光谱仪中,促进了小型化原子光谱仪器的发展。总结了介质阻挡放电技术在原子光谱领域内的研究进展,着重阐述了介质阻挡放电-原子发射光谱系统在不同进样方式下的应用情况,分析了每种进样方式的优缺点。本文还对介质阻挡放电技术在诱导蒸气发生、固体直接进样方面的新应用方向进行了评述。虽然介质阻挡放电技术已在原子光谱领域内得到广泛的应用,但其反应机理仍然不明确,制约了其后续的拓展研究。