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设=2 N,一实值函数μ:→[0,1]称为统计测度.如果若A,B∈,A∩B=,则μ(A∪B)=μ(A)+μ(B)且μ(k)=0.本文得到了统计测度的表示定理及统计测度在概率空间的应用. 相似文献
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利用水热合成法,以三乙烯四胺(TETA)为模板剂,正硅酸乙酯、磷酸、氢氧化铝及乙酸钴为原料,合成了CoSAPO-34分子筛。通过扫描电子显微镜(SEM)、粉末X射线衍射(XRD)、热重(TG)、N2吸附-脱附和紫外-可见漫反射光谱(UV-Vis DRS)等方法对合成的分子筛进行表征。以吡啶-正辛烷体系为模拟油品对分子筛催化剂的脱氮效果进行评价,考察了样品的用量、光催化时间及循环催化次数对其脱氮性能的影响。结果表明:当合成原料的物质的量之比为n_(P_2O_5)∶n_(Al_2O_3)∶n_(SiO_2)∶n_(Co)∶n_(TETA)=1∶0.82∶0.26∶0.81∶2.05,在200℃晶化24 h,合成得到粒径约为50μm、仍保持了SAPO-34分子筛的骨架结构、形貌为立方体的Co SAPO-34分子筛,而且该分子筛具有较好的热稳定性。在500 W氙灯光照条件下反应150 min,样品对质量分数为100μg·g-1模拟油品的脱除率达到70%,循环3次光催化脱氮活性基本保持不变。 相似文献
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本文采用反应磁控溅射法制备p型二元铜氧化物半导体薄膜,通过氧气流量调节实现Cu2O、CuO和Cu4O3薄膜的可控生长。所制备薄膜的形貌与结构分别利用扫描电子显微镜、X射线衍射仪以及拉曼光谱进行表征。经紫外可见分光光度计测量可知,Cu2O、CuO和Cu4O3薄膜的带隙分别为2.89 eV、1.55 eV和2.74 eV。为进一步研究Cu2O、CuO和Cu4O3薄膜的表面物理性质,基于Kelvin探针力显微镜(KPFM)技术直接测量了薄膜样品与探针尖端间的接触电位差(VCPD),结果表明Cu2O、CuO和Cu4O3薄膜的表面功函数都随着温度的升高而呈现逐渐减小的趋势。 相似文献
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改进Heittokangas等最近获得的涉及亚纯函数与其平移函数唯一性的一个结果[J.Heit-tokangas,R.Korhonen,I.Laine,J.Rieppo and J.Zhang,Value sharing results for shifts of mero-morphic function and sufficient conditions for periodicity,J.Math.Anal.Appl.,355(2009):352-363]. 相似文献
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k半层空间是层空间与N空间的共同推广,本文综述k半层空间的研究进展,介绍k半层空间的刻画、性质及其推广,给出一些相关问题,供进一步研究. 相似文献
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本文以1961年Alexandroff提出的映射与空间相互关系的思想为线索,有选择地介绍一些关于度量空间映像研究的新老问题及其结果,主要围绕序列覆盖映射的引入及其作用展开讨论,介绍某些弱第一可数空间类,如序列空间、Frechet空间、强Frechet空间、严格Frechet及其双序列空间等与度量空间的映射联系,阐述用映射刻画空间的精髓,彰显布拉格拓扑学会议的持久魅力. 相似文献
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