光纤CAN总线接口设计

基于CAN控制器SJAl000提出了光纤CAN(Fiber—CAN)总线网络的设计方案。采用光纤作为传输介质提高电动汽车CAN通信网抗干扰能力。详细分析了双绞线CAN(Wire—CAN)总线的接口协议，设计了基于此协议的Fiber—CAN总线接口电路和相应的接口驱动，以及光纤CAN总线和双绞线CAN总线间转换接口。通过3个节点的Fiber-CAN总线组网，验证了接口协议和接口电路设计的正确性。     

一个求解一类投影问题的总体线性收敛的迭代法

所求的解就是c在p上的投影。 对于问题(1.1),He基于求解线性互补问题的投影收缩(PC)法,把投影问题转化为等价的广义线性互补问题,提出了一个求解这类问题的迭代方法。 原始的PC方法只能证明迭代是全局收敛的,而无法估计其收敛速度。为此,[4]和[5]对原始的PC方法作了改进,提出了固定步长的PC法并证明了其收敛速度是线性的。但在实际应用中,固定步长的PC法比原始的PC法慢的多,而且在求步长时,还要估计约束矩阵范数的大小。 本文基于[5]的思想,对于(1.1)提出了一个新的PC方法,该方法是全局线性收敛的。 本文中用到的符号说明如下:x_i表示x的第i个分量。如果u∈(?)且Ω(?)(?)为凸闭集,则P_Ω[u]定义为u到Ω上的投影。特别地,u_+定义为u到非负卦限(?)上的投影,对于一个正定矩阵G,范数||u++G表示(u~TGu)(?)。     

Ce:BaTiO3晶体中两个深陷阱能级引起的光折变光栅暗衰减特性

对Ce:BaTiO3晶体中光折变光栅的暗衰减特性进行了实验研究，观测到了晶体禁带中的Fe离子和Ce离子两个深陷阱能级同时参与了光折变过程。在单深能级模型和浅－深能级模型的基础上，提出了简化的双深能级模型，并根据该模型定量地分析了Fe离子和Ce离子每个深陷阱能级在不同光栅波矢、不同光栅写入光强时对总空间电场以及光折变光栅的贡献。     

内腔级联拉曼光纤激光器输出特性的实验研究

采用标准单模石英光纤作为拉曼增益介质，光纤布拉格光栅作为谐振腔镜，研制了一台内腔级联拉曼光纤激光器。利用掺Yb双包层光纤激光器作为抽运源，实现了二级拉曼转换，在波长1176.8nm获得了309mW的最大输出功率，斜率效率接近51.5％。在小抽运功率下，发现拉曼光纤激光器的输出中存在重复周期约为2.9μs的脉冲序列；当抽运功率大于某一值时，上述脉冲消失，获得了十分稳定的连续输出。     

基于动力系统的线性不等式组的解法

本文提出了一种新的求解线性不等式组可行解的方法-基于动力系统的方法．假设线性不等式组的可行域为非空,在可行域的相对内域上建立一个非线性关系表达式,进而得到一个结构简单的动力系统模型．同时,定义了穿越方向。文章最后的数值实验结果表明此算法是有效的．     

用三坐标测量机调整掠入射光栅谱仪

用三坐标测量机调整掠入射光栅谱仪是我们在研制掠入射光栅谱仪中采用的新方法．我们用这种方法研制了一台曲率半径为１ｍ的光栅谱仪，在２—３２ｎｍ波段范围内，谱线分辨达０．００５ｎｍ，与通常采用的用光源摄谱调整光栅谱仪的方法相比，节省了人力、物力，缩短了研制周期．     

光纤型偏振器消光比测试方法研究

介绍了单模光纤偏振器和保偏光纤偏振器 (包括研磨型保偏光纤偏振器和线圈型保偏光纤偏振器 )消光比的基本测试方法。单模光纤偏振器的基本测试方法有偏振控制器法和旋转波片法 ;研磨型保偏光纤偏振器的基本测试方法有起偏器 45°法和消偏法 ;线圈型保偏光纤偏振器的基本测试方法有偏振控制器法和消偏法。对每种方法的优点和缺点以及在测试过程中可能会出现的问题进行了详细分析 ,并通过实验进行了验证     

拟线性滞后型微分方程正解的存在性

本文研究了下面这种拟线性滞后型微分方程(g(u′)′+a(t) f (ut) =0 ,　　 0 1 ,满足非线性边界条件 .并且通过应用锥不动定理与阿尔采拉 -阿斯卡里定理 ,证明了上述方程至少存在一个正解 .     

一般生长曲线模型的GME及其稳健性

本文考虑协差阵V_2(?)V_1≥0时,生长曲线模型中未知参数阵B的线性可估函数KBL的估计问题,给出了KBL的形如V_2(?)V_1>0时的GME,讨论了GM性与SD性的关系,给出了设计阵、散布阵发生偏离时保持GME不变的条件。     

双狭缝透射光栅软X光时空分辨谱仪

 利用双狭缝、透射光栅配亚仟X光条纹相机做了具有一维空间、时间和能谱分辨的三维软X光测量仪器(双狭缝透射光栅软X光时空分辨谱仪), 并成功地获得了金盘靶的N带X光(中心波长1.7nm)时空分辨图象 。该仪器空间分辨可达23μm, 时间分辨可达003ns, 能谱分辨(当源大小为100～300μm时对波长1.7nm的X光)可达0.4～ 0.7nm, 只需稍加改动, 即可用于其它波段的X光测量。