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用三坐标测量机调整掠入射光栅谱仪是我们在研制掠入射光栅谱仪中采用的新方法.我们用这种方法研制了一台曲率半径为1m的光栅谱仪,在2—32nm波段范围内,谱线分辨达0.005nm,与通常采用的用光源摄谱调整光栅谱仪的方法相比,节省了人力、物力,缩短了研制周期. 相似文献
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Cu等离子体X射线脉冲光源 总被引:1,自引:1,他引:0
介绍了1.06μm激光加热Cu靶发射的1.2keV能区X射线转换效率和强度的测量方法和实验结果。结果表明,Cu等离子体是一种在1.2keV能区的x射线强脉冲光源。 相似文献
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用henke X光源标定Kodak SWR底片的响应曲线 总被引:2,自引:0,他引:2
利用Henke X光源,通过电子激发方式,获得了C的K_a线(277eV)和Mo的L线(193eV),通过X光激发方式,获得了Al的K_a线(1.5keV)和Ti的K_a线(4.5keV)。利用流气式正比计数管监测X射线强度,测得了Kodak SWR底片对以上四种能量的X光的响应曲线。 相似文献
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在神光(1012W)装置上,用1.06μm激光加热片状锗靶,用袖珍式掠入射光栅谱仪测量了类氖锗离子的3S—3P激光跃迁线的增益系数和X射线激光的传输特性,得到的结果为:波长为19.638,23.224,23.627,24.743和28.643nm的5条激光跃迁线的增益系数分别为3.06,3.99,3.72,2.36和4.59cm-1;当等离子体长度为18mm时,相应的X射线激光的发散角约为12mrad,发射X射线激光的等离子体厚度约为200μm,X射线激光峰值强
关键词: 相似文献
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测量了激光加热块状银靶产生的等离子体XUV光谱.计算了T_e分别为65eV,86eV和130eV时,AgXIX4s-4P,4P-4d,4d-4f7条谱线在不同电子密度时的强度.根据AgXIX4d~2D_(s/2~-)4f~2F_(r/2)和4P~2P_(3/2)-4d~2D_(s/2)两条谱线的强度比,推导了激光银等离子体电子密度.当入射激光功率密度W为6×10~(12)W/cm~2时,银等离子体电子密度N_e=1×10~(20)/cm~3.
关键词: 相似文献
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类锂铝10.57和15.47纳米X光激光增益研究 总被引:2,自引:0,他引:2
在LF-11(10^(11)W)激光装置上,开展了类锂铝(Al^(10+))的X光激光实验研究。实验中,激光器运行在线聚焦工作状态,波长1.06μm,脉冲宽度约为200ps,能量约20J。线聚焦长12mm,宽约100μm。实验中使用了厚铝靶(1.2μm)和薄膜铝靶(60和94.7nm),用时间积分掠入射光栅谱仪测量线状等离子体轴向XUV谱,用针孔照相机监视线聚焦状态。结果表明,Al^(10+)离子的10.57(3d-5f)和15.47(3d-4f)nm线的强度随等离子体的长度呈现明显的非线性增长。这两条激光跃迁线,用60nm铝靶时,增益系数分别为3.18和2.26cm^(-1);用1.2μm铝靶时,增益系数分别为1.67和0.91cm^(-1);用94.7nm铝靶时,波长为10.57nm线的增益系数为1.78cm^(-1)。说明厚度合适的薄膜靶能获得较高的增益。 相似文献