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11.
CaoYun ZhaoHongwei MaLei ZhangZimin 《近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报》2003,(1):154-154
High quality ion beams are required by IMP cyclotron and atomic physics research, so it is important to research and measure beam emitt ance of ECR ion source. Intense beams extracted from ECR ion source usually have low energy, so it is suitable to use Electric-Sweep Scanner to measure the emittance. This kind of measurement is popularly used at ECR ion source, and it has some prominent merits such as high accuracy, very short time of data processing and easy expressing of the emittance pattern. So we designed and built this emittance scanner to measure emittance of the ion beams produced by LECR3 ion source. The structure of the ESS is shown in Fig.l, and the photo of the ESS is shown in Fig.2. 相似文献
12.
本文用准平衡模型分析讨论了线性电压扫描下MIS器件的I/V瞬态.文中除了给出一般的处理方法以外,还给出了几种不同电压扫描率下I/Y特性的计算结果,并与已往的模型作了比较. 相似文献
13.
14.
杨青 《高校应用数学学报(A辑)》2002,17(3):353-362
热传导型半导体器件的瞬时状态由四个方程的非线性偏微分方程组的初边值问题所决定,其中电子位势方程是椭圆型的,电子和空穴浓度方程是对流扩散型的,温度方程为热传导型的。本文提出解这类问题的特征变网格有限元法,并进行了理论分析,在一定条件下,得到了某种意义下的最佳L^2误差估计结果。 相似文献
15.
16.
17.
将DLTS用于对InAs/GaAsQD结构样品的测量,测定了QD能级发射载流子的热激活能;获得了QD能级俘获电子过程伴随有多声子发射(MPE)、QD能级存在一定程度的展宽、以及在某些特定的生长条件下,存在亚稳生长构形的实验证据.结果表明:DLTS在QD体系的研究中有其特有的功能 相似文献
18.
本文提出了用准直孔结合调节束流导引磁场获得较好品质强流电子束的方法,运用该方法在1.5MeV直线感应加速器(LIA)进行了试验,结果准直束流前后沿明显减小,束亮度提高几倍;同时,用此方法测出了束密度及束亮度的径向分布. 相似文献
19.
实验结果表明改进的实验室EXAFS谱仪测试Ni箔的K吸收得到的EXAFS谱与同步辐射上测量Ni箔得到的EXAFS谱相近,利用实验室EXAFS方法也可开展较好的结果测量研究,在SiO2粉末载体上Ni负载量变化的EXAFS结果表明,随着Ni负载量的降低,Ni的径向结构函数主配位峰的位置R=0.220nm保持不变,但振幅强度逐渐降低。负载量从Ni箔到2.5%Ni/SiO2,无序度因子σ由0.0068nm 相似文献
20.