SiC多型体X射线定量分析的Rietveld方法

鉴于ＳｉＣ多型体的主要衍射线完全重叠，用常规Ｘ射线粉末衍射方法确定ＳｉＣ陶瓷材料中多型体含量的分布是非常困难的，提出以Ｘ射线粉末衍射全谱拟合的Ｒｉｅｔｖｌｄ方法进行ＳｉＣ多型体定量分析，阐述了原理及方法，对含３Ｃ，４Ｈ，６Ｈ和１５Ｒ４种多型体衍射数据的定量分析结果表明，Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法可对ＳｉＣ材料中常见多型体的定量分析给出准确的结果，还给出了各自的标准偏差，并估计了该方法对各多型体能给出精确     

若干图的点强全染色(英文)

对图G及正整数k，映射f：满足：（1）任意e1，e3，如果e1，e2是相邻或相关联的，则有；（2）对u，v，w（G）有，则称f为G的一个k-点强全染色，并且K|G的社点强全染色称为G的点强全色数．本文讨论了一些特殊困的点强全色数，并提出了一个猜想：若G为每一分图的阶数不小于6的图，则（G），其中（G）为本文中定义的一新参数．     

高维铁磁链系统与p—调和映射

研究了与ｐ－Ｌａｐｌａｃｅ算子对映的铁磁甸系统的Ｌａｎｄａｕ－Ｌｉｆｓｈｉｔｚ方程，证明了该方程的从ｍ（ｍ≥３）维紧流形Ｍ（不带边界）映射到Ｒ＾３中的单位球面Ｓ＾２上的整体弱解的存性；建立了ｐ调和映射理论与该方程的联系。     

Bernstein-Fan插值算子的逼近阶估计及其算法程序

本文研究了具有三角形波基函数的Bernstein-Fan值算子的收敛定理和逼近阶估计，并给出了它的算法程序。     

逆（反）对策问题与“奇门遁甲”预测理论（术）

本文首先提出逆（反）对策这一新问题，给出了数学模型；探讨了“奇门遁甲”预测理论（术）中的数学问题；通过系统分析“专门遁甲”预测过程，可知它的预测过程隐含着一个特殊的逆（反）对策问题；最后指出逆（反）对策问题的广泛存在并给出案例分析．     

一个强极限定理

设是可列非齐次马氏链，本文通过利用［１］中提出的在Ｗｉｅｎｅｒ概率空间的一种实现，而给出了一个对任意可列非齐次马氏链普遍成立的强极限定理。     

广义集值强非线性拟变分不等式

本文引入并研究一类新的广义集值强非线性拟变分不等式,讨论这类广义集值强非线性拟变分不等式解的存在性以及由算法所构造的迭代序列的收敛性.我们的结果改进和发展了Noor,Siddiqi和Ansari等人近期的一些主要结果.     

OU型Markov过程的不变测度及弱对偶性

本文研究ＯＵ型Ｍａｒｋｏｖ过程的不变测度、参考测度和弱对偶半群的存在性问题，并得出了不变测度的唯一性。     

Banach空间中一类非线性算子Ishikawa迭代序列收敛定理

在一般的Banach空间中,研究了Ishikawa迭代序列收敛问题,去掉了通常文献中关于空间X的一致光滑或S-一致光滑的严格要求,此外,还去掉或减弱了其它某些条件。因而本质地改进了近期文献的一系列相应定理。