首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   52593篇
  免费   9308篇
  国内免费   6903篇
化学   37864篇
晶体学   622篇
力学   3431篇
综合类   593篇
数学   6253篇
物理学   20041篇
  2024年   99篇
  2023年   1080篇
  2022年   1176篇
  2021年   1714篇
  2020年   2204篇
  2019年   2059篇
  2018年   1748篇
  2017年   1653篇
  2016年   2457篇
  2015年   2470篇
  2014年   2943篇
  2013年   3827篇
  2012年   4729篇
  2011年   5033篇
  2010年   3459篇
  2009年   3304篇
  2008年   3649篇
  2007年   3366篇
  2006年   3076篇
  2005年   2639篇
  2004年   2017篇
  2003年   1660篇
  2002年   1612篇
  2001年   1304篇
  2000年   1138篇
  1999年   1195篇
  1998年   968篇
  1997年   954篇
  1996年   822篇
  1995年   734篇
  1994年   683篇
  1993年   546篇
  1992年   416篇
  1991年   426篇
  1990年   372篇
  1989年   245篇
  1988年   209篇
  1987年   200篇
  1986年   144篇
  1985年   113篇
  1984年   93篇
  1983年   62篇
  1982年   64篇
  1981年   46篇
  1980年   32篇
  1979年   9篇
  1976年   7篇
  1975年   11篇
  1959年   5篇
  1957年   9篇
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 0 毫秒
91.
The oxidation of SiGe film epitaxial grown on top of SOI wafers has been studied. These SiGe/SOI samples were oxidized at 700, 900, 1100 °C. Germanium atoms were rejected from SiGe film to SOI layer. A new Si1−xGex (x is minimal) layer formed at SiGe/Si interface. As the germanium atoms diffused, the new Si1−xGex (x is minimal) layer moved to Si/SiO2 interface. Propagation of threading dislocation in SiGe film to SOI substrate was hindered by the new SiGe/Si interface. Strain in SOI substrate transferred from SiGe film was released through dislocation nucleation and propagation inner. The relaxation of SiGe film could be described as: strain relaxed through strain equalization and transfer process between SiGe film and SOI substrates. Raman spectroscopy was used to characterize the strain of SiGe film. Microstructure of SiGe/SOI was observed by transmission electron microscope (TEM).  相似文献   
92.
本文在假设被终止或取消的风险与重大信息导致的标的资产价格跳跃的风险为非系统风险的情况下,应用无套利资本资产定价,推导出了标的的资产的价格服从跳-扩散过程具有随机寿命的未定权益满足的偏微分方程,然后应用Feynman-kac公式获得了未定权益的定价公式.  相似文献   
93.
利用振幅调制器进行光电负反馈抑制激光强度噪声   总被引:2,自引:1,他引:1  
采用振幅调制器作为抑制激光强度噪声的元件,首先对光电负反馈回路进行了简要的理论分析,然后利用该光电负反馈进行抑制激光二极管抽运全固化单频环形Nd:YVO4红外激光器强度噪声的实验。结果表明,在0-1MHz的低频段,强度噪声大幅度降低,最大降低约15dB。  相似文献   
94.
高速双边缘光纤光栅波长解调技术   总被引:4,自引:0,他引:4  
范典  姜德生  梅加纯 《光子学报》2006,35(1):118-121
提出一种双边缘结构对光纤光栅传感进行波长解调的方案,利用被测光谱通过不同光谱特性的滤波器时输出不同光强的比值确定被测光的波长.该系统在解调时不存在任何机械移动部分,比扫描式的解调方法测量速度更快,运行时更稳定、更精确.  相似文献   
95.
Ce3+对Er3+/Yb3+共掺氟磷酸盐玻璃光谱性质的影响   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
研究了能量接受离子Ce3+对Er3+上转换发光强度以及Er3+在1.5 μm附近波段发光性能参数的影响,并从能量匹配及能级结构角度出发对Er3+/Ce3+间的能量转移机制进行了分析.分析认为,4 I11/2能级的Er3+通过无辐射能量转移把能量传递给2F5/2能级的Ce3+激发其跃迁至2F7/2能级,而4I11/2能级上的Er3+则无辐射弛豫至4I13/2能级,从而有效降低氟磷酸盐玻璃中Er3+的上转换发光.当Er3+浓度为1.11×1020 cm-3时,Ce3+的最佳掺杂浓度为2.22×1020 cm-3,此时Ce3+的引入不仅可以降低上转换发光,而且有助于提高Er3+在1.5 μm附近波段的荧光强度、发射截面以及4I13/2能级荧光寿命.  相似文献   
96.
Reissner-Nordstr(o)m de Sitter黑洞的量子隧穿效应   总被引:2,自引:1,他引:1       下载免费PDF全文
运用Parikh的量子隧穿模型,研究了Reissner-Nordstr(o)m de Sitter黑洞的量子隧穿效应.结果表明,在能量守恒的条件下,黑洞外视界和宇宙视界处的粒子出射率与Bekenstein-Hawking熵有关,辐射谱不再是严格的纯热谱.  相似文献   
97.
The timing relationship between a synchronously pumped mode-locked dye laser and its pump laser is explored experimentally and theoretically. The experimental data is in quantitative agreement with numerical solutions of a semiclassical model that includes no free parameters. The data also agrees qualitatively with an approximate, analytic distillation of this model which is presented here for the first time. Our study has a direct bearing on the jitter and the long term stability of these important ultrashort pulse lasers.  相似文献   
98.
以液态金属镓为媒介,利用热蒸发法合成大量非晶SiOx纳米管,这些纳米管管径均匀分布,平均约80 nm,长度大于10μm,且管内外径比例较小.分析发现,在实验过程中,熔入金属镓液滴中的硅元素和氧元素结合并从液滴的表面饱和析出,形成以镓为中心的非晶SiOx纳米管状结构.在室温中,利用260 nm的激发光源激发SiOx纳米管,发现在蓝光波段附近发出强而稳定的PL谱线,这可能与样品中的氧缺陷和空位有关.  相似文献   
99.
提高微晶硅薄膜太阳电池效率的研究   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
采用甚高频等离子体增强化学气相沉积技术制备了系列微晶硅薄膜太阳电池,指出了气体总流量和背反射电极的类型对电池性能参数的影响.电池的I-V测试结果表明:随反应气体总流量的增加,对应电池的短路电流密度、开路电压和填充因子都有很大程度的提高,结果使得电池的光电转换效率得以提高.另外,ZnO/Ag/Al背反射电极能明显提高电池的短路电流密度,进而也提高了电池的光电转换效率.对气体总流量和背反射电极类型影响电池效率的原因进行了分析. 关键词: 微晶硅薄膜太阳电池 气体流量 ZnO/Ag/Al背反射电极  相似文献   
100.
This paper reports that the m-plane GaN layer is grown on (200)-plane LiAlO2 substrate by metal-organic chemical wpour deposition (MOCVD) method. Tetragonal-shaped crystallites appear at the smooth surface. Raman measurement illuminates the compressive stress in the layer which is released with increasing the layer's thickness. The high transmittance (80%), sharp band edge and excitonic absorption peak show that the GaN layer has good optical quality. The donor acceptor pair emission peak located at -3.41 eV with full-width at half maximum of 120 meV and no yellow peaks in the photoluminescence spectra partially show that no Li incorporated into GaN layer from the LiAlO2 substrate.  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号