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采用卢瑟福背散射方法,测得了每质子能量为650 keV的H+2,H+3团簇离子在Si晶体<100>和<110>沟道条件下的质子背散射能谱.结果发现,由于H+2 ,H+3团簇在晶体中的库仑爆炸和团簇效应,H+2的背散射质子产额大于H +的背散射产额,而H+<
关键词:
团簇
沟道效应
库仑爆炸
背散射 相似文献
3.
测量了动能为2.0–6.0 MeV的高电荷态离子152Eu20+ 入射Au表面产生的特征X射线谱, 结果表明, 相互作用不仅激发出了Au的 Mζ, Mα和Mδ特征X射线, 还激发出了Eu的Mα X射线, 且X射线总产额随入射离子动能的增加而增加. 计算了Au的M壳层总的X射线产生截面, 并与理论模型的计算结果做了比较分析.
关键词:
高电荷态离子
X射线
产额
截面 相似文献
4.
在中国科学院近代物理研究所兰州重离子加速器国家实验室测量了能量范围为50~250 keV 的质子入射碳化硅靶和硅靶表面的电子发射产额。实验结果发现,两种半导体靶材的电子发射产额随质子入射能量变化趋势均与作用过程中电子能损随质子入射能量的变化趋势相似。通过分析电子发射的能量来源,发现实验中电子发射产额主要由动能电子发射产额贡献,势能电子发射产额可以忽略不计。两种靶材的电子发射产额均近似地正比于质子入射靶材过程中的电子能损,比例系数B随入射能量略有变化。 相似文献
5.
利用变温7LiNMR实验对Li-电池正极材料LiMn2O4和LiCoO2中Li+的运动特性进行了研究,结果表明,随实验温度的提高,LiMn2O4的7LiNMR谱线窄化,表明其中Li+迁移能力增加,而LiCoO2的谱线无变化.此外随温度提高,LiMn2O4的7Li的T1变短,而LiCoO2的T1变长,产生这种不同变化趋势的原因在于LiMn2O4和LiCoO2晶相结构的差异造成其中Li+迁移能力的差别,它们各自的相关时间τc使7Li核的T1分别位于T1-τc曲线极小点两侧. 相似文献
6.
本文报道了含分散第二相粒子的离子导体LiCl(或LiI)中7Li核磁共振的观测结果,测量了7Li核磁共振吸收谱线的线宽和自旋-晶格弛豫时间(T1)。实验发现,在LiCl(Al2O3)中,7Li的核磁共振吸收谱线上叠加了一小峰,且随第二相粒子的类型、含量和温度而变化。7Li核磁共振信号的信噪比显著提高,自旋-晶格弛豫时间变短,且也随第二相粒子的类型、含量和温度而变化。结果表明,离子电导率的提高和附加小峰的出现都是由第二相粒子引起的,从而提出:靠近第二相粒子的LiCl界面附近的空间电荷区中高的离子传导是离子电导率提高和附加小峰出现的可能机理。
关键词: 相似文献
7.
利用分子动力学模拟方法详细研究了低能Pt原子与Pt(111)表面的相互作用所导致的表面吸附原子、溅射原子、表面空位的产生及分布规律,给出了表面吸附原子产额、溅射原子产额和表面空位产额随入射Pt原子能量的变化关系.模拟结果显示:溅射产额、表面吸附原子产额和表面空位产额随入射原子的能量的增加而增加,溅射原子、表面吸附原子的分布花样呈3度旋转对称性质;当入射粒子能量高于溅射阈值时,表面吸附原子主要是基体最表面原子的贡献,入射粒子直接成为表面吸附原子的概率很小.其主要原因是:当入射粒子能量高于溅射能量阈值时,入射
关键词:
分子动力学
低能粒子
表面原子产额
空位缺陷
溅射 相似文献
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本文报道了非晶态离子导体Li2B2O4的7Li核磁共振研究。测量了7Li核磁共振谱与温度的关系。实验中发现,Li2B2O4的晶态、非晶态和部分晶化样品的7Li核磁共振谱有很大的不同,且在部分晶化样品的7Li核磁共振谱上有附加的小峰,它与LiCl(Al2O3)的7Li核磁共振谱上附加的小峰相类似。我们也对非晶态离子导体B2O3-0.7Li2O-0.7LiCl进行了7Li核磁共振研究,其结果与上面的类似。研究结果表明,它们都起因于非晶母体与微晶的界面效应。
关键词: 相似文献
10.
在150—573K温度范围内,研究了固溶体Li3VO4-Li4TO4(T=Ge,Si)系统不同成分的7Li的NMR谱。发现γII相固溶体室温7Li的NMR线宽和自旋晶格弛豫时间T1的值都比Li4GeO4,Li4SiO4和Li3VO4小约一个数量级。这表明在γII相固溶体离子导体中,Li+离子运动有可能比固溶前有数量级增长。同时还发现7Li的电四极分裂伴线数随成分和温度而异,以及伴线强度百分比依赖于温度。这反映γII相的不同成分中,间隙Li+离子占有的不等价位置个数不同,而Li+离子在每个不等价位置上的占有率又随温度而变化。
关键词: 相似文献
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采用卢瑟福背散射方法,测得了每质子能量为650 keV的H+2,H+3团簇离子在Si晶体<100>和<110>沟道条件下的质子背散射能谱.结果发现,由于H+2,H+3团簇在晶体中的库仑爆炸和团簇效应,H+2的背散射质子产额大于H+的背散射产额,而H+3的背散射质子产额又大于H+2的背散射质子产额.通过计算,分别得到了H+2,H+3在<100>和<110>沟道方向的背散射质子产额相对于随机方向背散射产额之比随深度的分布. 相似文献
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27keV Ar+离子束沿法向分别入射在BaF2单晶(111),(100)和(110)的晶面上,用捕获器方法和Rutherford背散射分析法测定了Ba原子的溅射角分布和溅射产额。结果发现不同取向的晶体表面,它们的溅射产额有明显差异。当用剂量为5×1017ion/cm2的Ar+离子分别轰击这三种晶面时,其溅射产额的顺序Y100>y111>y110.对已被上述剂量辐照过的晶面再作相同剂量轰击时,测得的溅射产额明显增大。这些结果被认为是由于在离子辐照过程中表面晶格受损逐步增大所致。
关键词: 相似文献
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使用分子动力学模拟方法研究了入射能量对C+离子与Be样品表面相互作用的影响。模拟结果表明,随着C+离子的入射能量增大,C+离子注入深度也增加,Be原子的溅射产额近似线性增加,而滞留在样品中的C原子数量变化不大,在C+离子轰击Be样品的初始阶段,样品中Be原子的溅射产额较大,而随着C+离子注入剂量的增加,Be原子的溅射产额逐渐减小并趋于稳定。在此作用过程中,在样品表面形成一个富C层,减缓了样品中Be原子的溅射速率,起到了保护Be样品的作用。 相似文献
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通过分子动力学模拟了入射能量对H原子与晶Si表面相互作用的影响. 通过模拟数据与实验数据的比较, 得到H原子吸附率随入射量的增加 呈先增加后趋于平衡的趋势. 沉积的H原子在Si表面形成一层氢化非晶硅薄膜, 刻蚀产物(H2, SiH2, SiH3和SiH4)对H原子吸附率趋于平衡有重要影响, 并且也决定了样品的表面粗糙度. 当入射能量为1 eV时, 样品表面粗糙度最小. 随着入射能量的增加, 氢化非晶硅薄膜中各成分(SiH, SiH2, SiH3)的量以及分布均有所变化.
关键词:
分子动力学
吸附率
表面粗糙度
氢化非晶硅薄膜 相似文献
17.
本文中,我们研究了砷化镓中质子注入及退火恢复过程。实验用晶向<100>偏1—3°,掺Sn 5×1017-1×1018cm-3的单晶,室温下质子注入,注入能量E约8×104—2×106eV,用A-B腐蚀剂对注入质子样品的解理面显结,测得质子注入高阻层的纵向深度xj和径向扩展xL与注入能量E的定量关系。然后,对注入质子样品,在150—800℃下退火5分钟,用双晶衍射仪研究了样品的应变恢复过程,在静电计上测量了高阻阻值随退火温度的变化。根据实验结果,讨论了砷化镓中质子注入的射程Rp,电子阻止本领Sn(E)和核阻止本领Se(E),以及质子注入形成高阻和退火恢复的机理。
关键词: 相似文献
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1.D?+的新衰变道.第一次观测到D?+→ηρ+,η1ρ+,确定了D?+→φρ+.这些衰变方式的分支比,比D?+→φπ+要大.(CLEO collaboration,No.9)2.新的质子放射同位素.用300MeV的53Ni离子轰击106Cd靶,经质量分离而得最重的放射质子同位素160Re与156Ta.测到放出质子的能量、总寿命和质子分支比,对160Re是1261±6KeV、790±160μs和(91±10)%,对156Ta是1022±13KeV、165-55+165ms和~100%.(R.D.Page et al.,No.9)3.飞秒激光产生MeV级能量的X射线0.5TW、120fs Ti:兰宝石激光照射到固体靶上,当聚焦达1018W/cm2时,产生的等离子体会放出能量超过1MeV的X射线.产额随入射激光功率的3/2而上升.40mJ激光打靶,X射线能量在20Key以上的能量转换达0.3%,X射线的能谱符合1/E分布. 相似文献
19.
报道了利用兰州重离子加速器国家实验室ECR源引出的高电荷态离子207Pbq+(24≤q≤36)入射到Si(110)表面产生的电子发射的实验测量结果.结果表明,高电荷态离子与固体表面相互作用产生的电子发射产额Y与入射离子的电荷态q、入射角度ψ和入射能量E都有很强的关联.首次发现,电子发射产额Y与入射角度ψ间有接近1/tanψ的关系.理论分析认为,这些过程与基于经典过垒模型的势能电子发射过程密切相关.
关键词:
高电荷态离子
经典过垒模型
电子发射产额 相似文献