激光等离子体电子温度的时间分辨诊断

本文描述在LF-11激光装置上进行的线状锗等离子体电子温度时间分辨诊断的实验。在实验中利用时间分辨X射线晶体谱仪测量了线状锗等离子体X射线的时间分辨谱,并借助碰撞辐射模型(CR模型),由类Ne锗L线特征线相对强度比确定出锗等离子体的电子温度及其时间演化过程。并与用部分局部热平衡模型(PLTE)得出的结果做了比较。     

X射线荧光光谱中散射效应对荧光强度的贡献研究

采用理论计算和实验测定的方法研究了在纯元素样品、BaB二元样品及熔融片样品中三种散射效应对荧光强度的贡献(包括相干散射X射线激发的荧光强度、非相干散射X射线激发的荧光强度以及其他方向的一次荧光X射线被散射进探测方向的强度)大小及其变化规律。研究结果表明,三种散射效应对荧光强度的贡献大小与所研究元素原子特征谱线的能量及样品的基体有关,元素原子的特征谱线能量越高,散射效应对荧光强度的贡献越大;轻基体样品中散射效应对荧光的贡献比重基体样品大。实验证明,将散射效应包括在基本参数法的理论计算中可以有效地提高理论计算的准确度。     

能量色散X荧光分析中元素间效应的蒙特卡罗模拟

针对能量色散X荧光分析(EDXRF)技术中元素间效应实验研究的难点问题,采用蒙特卡罗方法对基于Si（PIN）探测器的EDXRF系统建立模拟模型,并对模拟微束软X射线注量谱建立了高斯展宽算法。对Fe-Ni样品进行模拟计算,表明经该算法展宽后的注量谱与实测K系特征X射线谱吻合度较高,并得到了各元素特征X射线归一计数与元素含量关系曲线,结果表明该方法可自行校正EDXRF中元素间效应,获得准确的元素K系特征X射线谱理论强度。     

含轻元素二元合金成分的无标样X光能谱定量分析

本文对利用试样中不同元素X光强度相对比值分析成分的无标样定量分析方法提出了改进。首先对电子散射的“完全扩散”模型进行适当的修正和简化,得到标识X光的台阶状深度分布曲线,从而得到试样成分和标识X光强度的定量关系。对Cu-Si,FeS₂,NaCl和GaAs等二元合金的成分分析得到比较满意的结果。本文比较了用此法和Russ法(利用计算得到的纯元素标识X光强度因子并且经ZAF修正分析成分)得到的结果,表明用我们的方法分析的结果有所改善,计算程序也更简单。 关键词：     

线状锗等离子体X射线线谱的时间分辨测量

用自行研制的X射线条纹晶体谱仪首次测量了线状锗等离子体的X射线时间分辨谱。给出了类Ne-锗L线共振线的时间演化过程,并用类Ne-锗L线共振线与其双电子俘获伴线的相对强度比粗估了锗等离子体的电子温度及其随时间的变化,实验给出了X光激光增益区介质的电子温度为400～760eV,同时给出了电子温度保持相对恒定的时间不小于90ps(电子温度变化小于2％)。     

利用实验I(L)/I(K)比值改进薄膜无标样定量分析

利用透射扫描电子显微镜和X射线能谱仪,在入射电压V₀为40,80,100,120,160和200kV下,测定了从Ge到Sn八种元素薄膜的标识X射线强度比值I(L)/I(K),并结合Cliff-Lorimerk_XSi因子和它的内插值,扩充了目前仅有的少数几个L系的Cliff-Lorimer因子。为了确定哪个电离截面Q公式最好,比较了利用九种不同Q公式计算出的I(L)/I(K)和我们的实验值I(L)/I(K)。发现两者之间存在着很大的差别。进一步考虑计算强度公式中各物理参量引起的误差后,我们认为上述差别主要来源于不准确的Q公式,而且和实验值符合最好的Fabredela Ripelle的电离截面也需要进行修正。利用我们修正后的Q公式,在V₀为100和200kV下,分析了几种已知成分的样品并和EDAX的分析结果进行了比较。结果表明:在不同电压下,利用不同线系K—K,K—L,我们分析结果的误差有显著的降低。 关键词：     

X射线荧光分析中X射线管原级能谱分布的测定

确切知道X射线管激发的原级能谱分布是X射线荧光分析中的一个重要前提,所用能谱分布函数的准确度大大影响了最终的测量结果。提出利用间接测量法,选用合适的参量模型来描述X射线的原级能谱分布。依靠实验测得的厚靶纯元素样品的荧光强度,利用已知的理论公式,建立非线性方程,优化得到参量模型中的参量值。通过比较实验测得的元素的荧光强度值和利用得到的能谱分布函数计算的理论值,证明此种方法是可行的。     

原位能量色散X射线荧光分析中岩样基体效应及其修正研究

原位能量色散X射线荧光现场分析岩样矿物成分时,岩样基体效应会对测量结果产生影响。本文以Cu元素作为待测元素,研究了17种不同岩样基体对原位能量色散X射线荧光分析Cu元素特征X射线强度的影响及其修正方法。采用蒙特卡罗方法模拟获得了Cu元素含量相同的17种不同岩样测量谱线,综合各类岩石元素构成的相似性,并依据模拟谱线Cu元素Kα射线强度与谱线参数之间的相关性,反映了原位能量色散X射线荧光分析岩样Cu元素的基体效应并不完全受岩体元素构成或岩石分类的控制,需要依据岩石样分析谱线参数的相关性进行归类讨论。针对基体影响Cu元素特征射线强度相似的15种岩样进一步研究,并对Cu元素特征X射线与谱线主要参数的主成分进行分析,发现散射本底、X光管靶材料特征X射线及其非相干散射峰强度能够很好的描述Cu元素特征X射线强度受岩样基体影响的变化,据此可以对基体效应影响相似的岩体进行Cu元素测量结果修正。采用本文方法同样也能为不同岩性岩体其他待测元素基体效应的修正提供参考。     

基于联合分离原子模型的电离理论

采用微扰静态(PSS)模型近似处理极化和结合能效应，并引入了相对论效应、能量损失效应和库仑偏转效应修正的ECPSSR理论是描述直接库仑电离过程最成功的理论，但对于低能离子入射时， 其结果明显低于实验值. 采用联合分离原子(USA)模型替代ECPSSR中的PSS模型，考虑分子轨道效应得到了基于USA模型的电离理论——MECUSAR理论. 对部分碰撞系统进行了计算，得到的碰撞截面与实验结果基本符合. 结合OBKN(Oppenheimer-Brinkman-Kramers formulas of Nikolae 关键词： X射线产生截面 离子-原子碰撞 电子俘获     

光谱学 其他

O434.1 2006042934X射线荧光分析中X射线管原级能谱分布的测定=Deter-mination of pri mary energy spectrum distribution of X-raytube in X-ray fluorescence analysis[刊,中]/纪新明(上海复旦大学微电子系.上海(200433)) ,王建业…∥光学学报.—2006 ,26(4) .—634-638提出利用间接测量法,选用合适的参量模型来描述X射线的原级能谱分布。依据实验测得的厚靶纯元素样品的荧光强度,利用已知的理论公式,建立非线性方程,优化得到参量模型中的参量值,通过比较实验测得的元素的荧光强度值和利用得到的能谱分布函数计算的理论值,证明此种方…     

二元合金成份的无标样X光能谱定量分析

一般用电子探针对合金成份进行定量分析时都用标样进行对比。本文提出了一个不用标样的二元合金成份的定量分析方法。利用扫描电子显微镜-X光能谱分析装置同时测定二元合金(Cu-Ga,GaAs)中二元素的K_a光子数比值后,由简化的入射电子能量损失公式和X光激发截面公式并考虑了二次荧光效应后,可计算出二元合金的成份。当入射电子的过电压保持在2—3时,得到和实际成份一致的结果。利用上述简化模型对文献中不同纯元素特征X光的“仪器灵敏度”进行了计算和讨论。 关键词：     

锗硅量子阱中近带边光跃迁的理论和实验研究

本文研究了SiGe/Si量子阱中近带边光跃迁的产生机制,对由杂质无规分布引起的近带边光跃迁给出了一个物理模型。用此模型计算了光跃迁偶极矩,给出了跃迁偶极矩的上限。提出了未掺杂SiGe/Si量子阱中近带边光跃迁的一种跃迁机制,认为是Ge原子周围波函数畸变的集体行为。用MBE方法生长了掺杂SiGe/Si量子阱材料,在低温下观测到近带边光跃迁。     

急冷Al-lat%Ge过饱和固溶体合金的正常-超导转变特性

本文研究了急冷Al-1at%Ge过饱和固溶体合金的结构和正常-超导转变特性。X射线结构分析表明,样品为单一的过饱和α-Al(Ge)固溶体。电阻-温度测量指出,急冷过饱和α-Al(Ge)合金的T_c≈1.44K,高于纯Al的T_c。 关键词：     

The levels of144Pr from the decay of144Ce

The level scheme of¹⁴⁴Pr has been studied from the decay of¹⁴⁴Ce. The intensities and energies of gamma rays have been determined with a X-ray Ge(Li) detector. TheK-shell internal conversion coefficients for γ-rays have been measured with theK X-ray/γ-ray ratio method using NaI(Tl)—X-ray Ge(Li) coincidence techniques.     

Search for weak transitions in the decay of125Sb and accurate gamma intensities

The weak transitions in the decay of¹²⁵Sb have been investigated through gamma ray measurements with high resolution X-ray and with large volume Ge(Li) detectors. The 172.6, 178.8 and 198.5 keV gamma rays are confirmed, while others previously reported were not. Accurate intensities were obtained for the stronger transitions. The weighted averages of these intensities which cover the range of 116 to 670 keV are useful for calibration of Ge(Li) systems.     

The decay of Ho and Ho

The disintegration characteristics of ^164mHo and ^164gHo have been studied using a high-resolution Ge(Li) spectrometer. Radioactive samples of ^164mHo and ^164gHo were obtained through the (n, 2n) reaction on spectroscopically pure holmium oxide with 14 MeV neutrons. The isomeric cross-section ratio for the yields of the ground and metastable states has been estimated to be 1.0±0.25. Gamma rays of 37.7 and 56.1 keV energy have been assigned to the decay of ^164mHo and 73.4 and 91.5 keV γ-rays are attributed to the decay of ^164gHo by electron capture and negaton emission, respectively. The branching ratio for the electron capture decay of ^164gHo to the levels in ¹⁶⁴Dy has been estimated accurately from the analysis of X-ray intensities. The results have been incorporated into a decay scheme.     

用X射线荧光光谱法非破坏测定多元合金薄膜的组分和厚度

本文用X射线荧光光谱法,不破坏样品,测定三元合金薄膜的组份。此法无需制备任何相似的固体标样或纯元素的块状标样,而是利用含已知组份的滤纸片作为标样。滤纸片标样制作简便、快速,并且能长期稳定。由薄膜中元素所发出的特征X射线强度与其面密度之间的一组联立方程解出薄膜成份,利用衬底中元素的特征X射线强度随膜厚增大而衰减的定量关系确定膜厚。利用本文的方法可以同时测定薄膜的成分和厚度。 关键词：     

Measurement of muonic X-ray intensities and Coulomb capture ratios in chlorides

Muonic X-ray spectra of 32 chlorides have been measured with Ge detectors. Coulomb capture ratios and Lyman X-ray intensities were determined, and correlations to target data established. The experimental capture ratios agree well with the values from a recently proposed formula.