分子筛和担体中主含量元素和杂质元素的同时测定

本文研究了用微波消化试样，ICP－AES法同时测定分子筛及担体中的主含量元素Si、Al和杂质元素Fe、Na、Ca、Mg的方法。相对标准偏差：Si、Al＜2％，Fe、Na、Ca、Mg≤4％，杂质元素回收率为97％－107％。方法快速，简便、准确，可靠。     

ICP-AES测定Nd-Pr合金中的杂质元素

用ICP－AES同时测定了Nd-Pr合金中的Dy、Gd、La、Sm、Ce等5种稀土杂质元素，并研究了基体元素Nd及主量元素Pr对杂质元素的光谱干扰，选择了合适的分析线，用基体匹配法对存在的背景干扰进行了校正。方法的检出限为0．009－0．044μg/mL；回收率为90％－103％。该方法准确可靠、简便快速。     

ICP-AES法同时测定氯化锂和氢氧化锂中七种杂质元素

本文报导了用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定ＬｉＣｌ和ＬｉＯＨ·Ｈ２Ｏ中７种杂质元素Ａｌ、Ｂａ、Ｃａ、Ｆｅ、Ｍｇ、Ｓｉ、Ｚｎ的分析方法。研究了基体元素锂对被测元素的基体效应，采用基体匹配法与背景扣除法进行校正。被测元素的检出限为０．１－９．４ｎｇ／ｍＬ，加标试验回收率为９２％－１０９％，当杂质元素含量为０．０００１％－０．０２８％时，相对标准偏差小于７％。方法简便、快速、准确，用于样品分析，取得了满意的结果。     

ICP－AES法同时测定磷铁中的主含量元素和杂质

本文研究用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定磷铁的主含量元素Ｐ和杂质元素Ｓｉ、Ｍｎ、Ｔｉ、Ｖ、Ｃｒ的方法。采用碱熔酸化分解试样，选Ｂ为测Ｐ的内标元素，回收率为９６％－１０２％，最大相对标准偏差为８．６０％，大多数结果的相对标准偏差小于５％。     

ICP—AES法测定铂催化网中的次成分及杂质元素

本文采用ＩＣＰ－ＡＥＳ内标法，对硝酸生产用铂催化剂的次成分Ｐｄ和Ｒｈ，以及十一个杂质元素，进行直接快速测定。部分受于扰的元素，采用扣除其相应等效强度的方法进行校正。本方法的回收率和相对标准偏差，对于次成分分别为：９９．１～１００％和０．１６～０．３１％，对于杂质元素分别为：９５～１１４％和０．８３～１３％。     

ICP－AES法测定铂催化网中的次成分及杂质元素

本文采用ＩＣＰ－ＡＥＳ内标法，对硝酸生产用铂催化剂的次成分Ｐｄ和Ｒｈ，以及十一个杂质元素，进行直接快速测定。部分受干扰的元素，采用扣除其相应等效强度的方法进行校正。本方法的回收率和相对标准偏差，对于次成分分别为：９９．１～１００％和０．１６～０．３１％；对于杂质元素分别为：９５～１１４％和０．８３～１３％。     

ICP-AES测定高纯氧化钽中13种杂质元素

本文提出了基体匹配校准曲线，ICP－AES法直接测定高纯氧化钽中13种杂质元素的分析方法，并考察了光谱干扰以及基体效应的影响，确定了仪器最佳工作条件。结果表明：各元素的测定下限分别小于或等于0．0005％；相对标准偏差为1．8％－11．3％；回收率为92％－108％。     

AB5型储氢合金及混合稀土的ICP—AES分析

对于制备镍氢电池负极材料的AB5型储氢合金，制备储氢合金的原材料混合稀土主体元素和杂质元素的分析方法进行了较为详尽的研究。利用仪器的功能软件初步选出各分析元素的多条谱线，通过综合考察各干扰元素对分析元素波长的干扰系数，确定出各元素的最佳分析波长，部分受干扰的元素用干扰系数校正法进行了校正。本法应用于实际产品分析，分析精密度为0．12％1．32％，回收率在94％－106％之间。     

三乙基铟中杂质元素的ICP─AES测定

研究了基体铟对１５种杂质分析元素谱线的背景影响和光谱谱线干扰，采用基体匹配－电感耦合等离子体发射光谱法测定了三乙基铟中的１５种杂质元素。样品分析方法的检出限大部分低于１μｇ／ｇ，相对标准偏差均小于２％。     

ICP-AES法测定铁钕合金中主量元素钕及7种杂质元素的研究

用ICP－AES法同时测定了铁钕合金中主量元素钕及Al、Si、Mn、Cr、Mg、Zr、Ca等7种杂质元素。研究了基体元素铁、主量元素钕对杂质元素的光谱干扰,选择了合适的分析线和内标线,测定了分析方法的检出限,回收率为87％－113％。方法准确、快速、简便,结果令人满意。     

ICP-AES法测定高纯氧化铕中微量稀土和非稀土杂质时光谱干扰的消除及分析条件的优化

本文提出了ＩＣＰ－ＡＥＳ直接同时测定高纯氧化铕中１４个稀土和２０个非稀土杂质元素的分析方法。着重考察了铕基体对分析元素的基体效应，谱线干扰及背景影响等情况。用标准加入法测出氧化铕基准中的微量杂质元素，消除了由于忽略基准中的杂质元素的含量给分析测定带来的误差。同时对仪器的工作条件进行了优化。     

电感耦合等离子体法测定高纯氧化铕中14个稀土和20个非稀土杂质

本文提出了用ICP-AES直接同时测定高纯氧化铕中14个稀土和20个非稀土杂质元素的分析方法。着重考察了铕基体对分析元素的基体效应,谱线干扰及背景影响等情况,同时对仪器的工作条件进行了优化。在标准溶液中改变了以往对高纯物质进行分析时常常忽略基准物质中的含量,而用标准加入法测出氧化铕基准中的各稀土微量杂质元素的含量作为低标值,有效的消除了由于忽略基准中的杂质元素的含量给分析测定带来的误差。在本工作所选定的条件下,各稀土元素、非稀土元素的回收率在90％-112％之间,稀土元素的精密度实验显示相对标准偏差为1.12％-9.5％。对不同稀土分离厂家的样品进行了检测,结果令人满意。     

ICP-AES测定铁钕合金中Ho、Er、Tb、Tm、Cu、Mo、Nb等7种杂质元素

采用ICP－AES法同时测定了铁钕合金中Ho、Er、Tb、Tm、Cu、Mo、Nb等7种杂质元素。研究了基体元素铁、主量元素钕、镝、钴、硼对杂质元素的光谱干扰情况；选择了合适的分析线；测定了分析方法的检出限。加入回收率为90．0％－108．0％。方法准确、快速、简便。     

等离子体发射光谱法测定铝合金中的杂质元素

本文利用高频电感耦合等离子体光谱仪直接测定铝合金中的Fe,Zn,Mg,Mn,Ti,Cr和Cu杂质元素。选择了合适的实验条件,采用背景扣除法进行校正。方法简便、快速,可靠,具有良好的精密度和准确度。相对标准偏差为1．7％－6．3％,回收率为94％－105％。     

ICP-AES测定高纯碲中11种杂质元素

电感耦合等离子体原子发射光谱法 (ICP- AES)同时测定高纯碲中 11种杂质元素。用离峰扣背景法消除背景干扰 ,检出限能满足高纯碲中杂质元素的测定要求 ,加标回收率在 94 .0 %— 10 8%之间。     

电感耦合等离子体质谱法测定高钝镉中的杂质元素

采用电感耦合等离子体质谱光测定离纯镉中的杂质元素。讨论了镉基体的谱线干扰,比较了镉基体产生的多原子离子的干扰程度,该干扰按ＣｄＨ、ＣｄＯ、ＣｄＯ２、ＣｄＡｒ、ＣｄＯＨ和ＣｄＯＨ２顺序递减。研究了不同浓度镉基体对分析物信号的抑制或增强效应,镉的浓度大于０．２５ｇ·Ｌ＾－１时,对质量数小于１００的分析物的信号强度产生抑制,而以质量数大于１５０的分析的信号强度产生增强,采用＾８９Ｙ和＾２０９Ｂｉ作内标分     

ICP-MS法测定食品级壳聚糖中的微量杂质元素

建立了电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法直接测定食品级壳聚糖中杂质元素的分析方法。壳聚糖用3%的柠檬酸溶解并加入低浓度盐酸后,采用ICP-MS法直接测定其中的Be,Na,Mg,K,Ca,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Cd,Sn,Sb,Hg,Pb等20种杂质元素。盐酸的使用有效地改善了元素的稳定性,尤其是Hg和Sn。选择动态反应池(DRC)技术消除了氯离子干扰以及其他质谱干扰,采用基体匹配法并通过加入Sc,Y,In,Bi内标元素混合溶液补偿了样品传输效率的差异以及有机溶剂蒸发速率的影响。在选定的工作条件下,20种元素的标准曲线方程具有良好的线性关系,线性相关系数不小于0.999 7,各元素的检出限在0.64～19.01 ng·L-1之间,加标回收率在89.50%～109.00%之间,相对标准偏差(RSD)在1.17%～4.05%之间,实际样品分析结果显示,食品级壳聚糖中杂质元素的含量较低,其中重金属元素的含量很低,食用安全。该方法能简便、灵敏、准确地测定食品级壳聚糖中的20种杂质元素。