用网格衰减膜相对标定SIOFM─5FW软X光底片

点聚焦激光等离子体发出的Ｘ射线经晶体色散形成均匀的单色Ｘ射线源，在此基础上，用单层网格作为衰减膜，得到未经衰减和经过衰减的Ｘ射线谱，对无保护膜ＳＩＯＦＭ５ＦＷ软Ｘ光底片作了试验性的相对标定，得到了０．９１ｎｍ波长的特性曲线     

X射线荧光光谱分析的现状和进展

本文综述了常规Ｘ射线荧光（ＸＲＦ）、同步辐射ＸＲＦ，全反射ＸＲＦ和其他ＸＲＦ等四个方面的ＸＲＦ光谱分析的现状和进展。     

用平场光栅谱仪现场标定5FW X光底片

采用像散模式的平场光栅谱仪作为分光元件，点状镁激光等离子体Ｘ射线源为原始光源，获得均匀线性单色较Ｘ射线再生源，在此基础上，用多阶梯衰减膜为相对曝光强度标尺，现场标定了上海感光胶片厂生产的５ＦＷ无保护膜Ｘ光底片，给出了５．０ｎｍ～８．０ｎｍ间的底片响应特性。     

一种可用于测量薄膜材料的实验室EXAFS方法

本文介绍了利用从薄膜衬底反射的Ｘ射线，在常规实验室条件下实现了对薄膜材料的ＥＸＡＦＳ测量．我们用该方法在 Ｄ／ｍａｘ－ｒＢ１２ｋＷ转靶Ｘ射线衍射仪上得到的纯 Ｃｕ薄膜的 ＥＸＡＦＳ测量结果和常规透射法的测量结果一致．这表明该方法是可靠的．     

X射线皮秒分幅相机在强X射线情况下的应用研究

扫描型变象管Ｘ射线皮秒分幅相机在强Ｘ射线情况下，由于空间电荷效应，像质变坏，甚至无法工作。本文简述了ＭｇＦ光阴极材料的性能。首次在Ｘ射线皮秒变象管分幅相机上的应用结果：降低了强Ｘ射线源情况下分幅管内空间电荷效应的影响，并获得了清晰的物理图像。     

X射线荧光光谱分析氟化铈晶体中掺杂元素钕

本文提出了用Ｘ射线荧光光谱定量分析氟化铈晶体中掺杂元素钕方法，对用ＸＲＦＳ进行晶体样品分析时的制样方法作了比较，并且对用ＸＲＦＳ非破坏分析晶体中的掺杂元素的方法进行了探讨。     

遗传算法在EXAFS谱图解析中的应用

扩展Ｘ射线吸收精细结构（ＥＸＡＦＳ）谱是研究物质原子近邻结构和表面结构的有力工具。ＥＸＡＦＳ谱的解析通常采用标准样品比较法或最小二乘曲线拟合方法。但前者对标样的要求很高，而后者则参数初值难以确定，且结果有时不唯一。本文提出一种ＥＸＡＦＳ曲线拟合的新方法一遗传算法，并对单配位层Ｃｕ样品的ＥＸＡＦＳ谱图进行了解析，取得满意的结果。     

Fe掺杂的LaBa2Cu3O7的晶体微结构

本文应用Ｒｉｅｔｖｅｌｄ精修方法对高浓度Ｆｅ掺杂的ＬａＢａ２Ｃｕ３Ｏｄ（ＬＢＣＯ）超导体的Ｘ射线衍射谱进行了仔细的分析，得到了各掺杂样品的品格参数和原子结构参数，结果表明，Ｆｅ掺杂诱导了ＬＢＣＯ晶格的结构相变，随着Ｆｅ浓度的增加，出现了从正交到四方再到正交的结构震荡。     

BaFBr，BaFBr：Eu~（2＋）和BaFBr：Ce~（3＋）晶体在X射线辐照和光激励过程中发光和光电导的实时原位测量

在自建的多功能实时原位测量发光特性和光电导的实验装置上，测量了ＢａＦＢｒ，ＢａＦＢｒ：Ｅｕ２＋和ＢａＦＢｒ：Ｃｅ３＋单晶在Ｘ射线辐照和光激励过程中的发光强度和光电导。首次从光电导的角度测量到Ｘ射线辐照时，Ｅｕ２＋并没有被离化，而Ｃｅ３＋被离化，离化电子经导带被Ｆ＋心俘获；明确证实了光激励过程中Ｆ心电子的隧穿效应。     

石棉红花岗石与芝麻白花岗石的光谱的研究

本文用电感耦合等离子体原子发射光谱法，Ｘ射线荧光光谱法、红外光谱以及Ｘ射线衍射谱测定了石棉红花岗石和芝麻白花岗石的成分和光谱、根据石棉红岗石和芝麻白花岗石的Ｘ射线衍射谱，用计算机检索它们的组成，对计算机检索的结果进行对比得出，石棉红花岗石的红色是由于它含有Ｆｅ的红色矿物而产生的。     

北京同步辐射装置软X射线光学实验站进展

简单介绍了ＢＳＲＦ软Ｘ射光学实验反射率计装置，并给出了近年来本组在软Ｘ射线多层膜方面的研究结果。     

5F软X光胶片响应特性研究

提出了５Ｆ软Ｘ光胶片对低能Ｘ射线结响应的数学模型，模型中部份参数由厂家提供，其余参数由在１８３ｅＶ和９３３ｅＶ两能点实验标定的胶片响应曲线确定，数学模型及参数有有效性用２８２ｅＶ能点处５Ｆ软Ｘ胶片的实验响应曲线进行了初步检验。     

HIREFS谱仪在在类氖钛软X射线激光中的应用

介绍了掠入射高焦场ＨＩＲＥＦＳ谱仪的主要结构和性能，采用预脉冲实验技术，使用该谱仪对线聚焦条件下钛靶的轴向空间分辨谱进行了研究，得到了类氖钛３２．６ｎｍ软Ｘ射线激光强线的空间分布信息。     

衬底温度对CaS：TbF3薄膜电致发光亮度的影响

利用Ｘ射线衍射和扫描电子显微镜地不同衬底温度下电子束蒸发的ＣａＳ：ＴｂＦ３电致发光薄膜的结晶性和表面形貌进行了研究，通过对薄膜的透射率和慢反射率的测量研究了薄 致密性，Ｘ射线衍射表明衬底温度在２２０到５８０℃范围之间，电子束蒸发的ＣａＳ：ＴｂＦ３电致发光薄膜为多晶立方晶相，随着衬底温度的提高，ＣａＳ：ＴｂＦ３薄厝的表面形貌发生显著的变化，薄膜的致密性增另，从而增中了电致发光亮度。     

γ—Fe2O3磁粉微结构的X射线衍射研究

本文通过分析由Ｘ射线衍射和透射电子显微镜所得到的粒子大小和ＢＥＴ法测量的比表面积的关系，研究了有代表性的几中商用γ－Ｆｅ２Ｏ３磁粉粒子的微结构。Ｘ射线衍射线加宽法测得的氧离子亚晶格畴尺寸反映了组成针状态粒子的微晶或嵌镶晶块的大小。对于微孔型多晶粒子，准球状微晶链合形成球链状结构；对于微缝型单晶粒子，取向准桎状晶块链合成形成竹节状结构。     

用X射线衍射法研究铁基非晶材料的结构

本文用Ｘ射线衍射法针对铁基非晶材料，研究了析出晶粒的结晶度、析出α－Ｆｅ微晶尺寸、高频损耗等参数与退火温度之间的关系，得到了使铁基非晶材料高频损耗达最小值的重要结构参数范围，为机制研究和工艺控制提供了十分有用的信息．     

衬底温度对CaS∶TbF_3薄膜电致发光亮度的影响

利用Ｘ射线衍射和扫描电子显微镜对不同衬底温度下电子束蒸发的ＣａＳ∶ＴｂＦ３电致发光薄膜的结晶性和表面形貌进行了研究．通过对薄膜的透射率和漫反射率的测量研究了薄膜的致密性．Ｘ射线衍射表明衬底温度在２２０到５８０℃范围之间，电子束蒸发的ＣａＳ∶ＴｂＦ３电致发光薄膜为多晶立方晶相．随着衬底温度的提高，ＣａＳ∶ＴｂＦ３薄膜的表面形貌发生显著的变化，薄膜的致密性增加，从而增加了电致发光亮度．     

线状等离子体测量中的晶体谱仪及其在X射线激光实验中的应用

本文讨论了两种适用于Ｘ射线激光实验的聚焦型弯晶谱仪和针孔晶体谱仪。给出了弯晶谱仪的设计参数，以及针孔晶体谱仪在实验中摄得的线状Ｍｇ和ＣａＦ２等离子体空间分辨谱；分析了晶体谱仪在Ｘ射线激光实验中的应用。     

表面改性医用橡胶的光谱研究

本文用衰减全反射傅里叶红外光谱和Ｘ射线光电子能谱对两种表面改性的耐药性能优良的医用橡胶样品进行了研究,结果表明两种样品表面层和体相组成完全不同,其表面层为氟化聚合物,体相为丁基橡胶。样品Ⅱ表面层氟的相对含量高于样品Ⅰ表面,县以ＣＦ２为主;在相同条件下进行氩离子刻蚀,样品Ⅱ表面层样品Ⅰ表面层不同深度的Ｆ／Ｃ原子比的变化相对小。     

激光产生等离子体辐射X射线特性研究

本文报导激光等离子体辐射Ｘ射线的测量方法和结果。在“星光”装置上,用１．６μｍ激光辐照Ｎａ／Ｆ和铜靶。用平晶谱仪测量等离子体辐射Ｘ射线绝对强度,并研究了辐射Ｘ射线强度与入射激光功率密度的关系,测量了靶前后辐射强度之比,为光电离机制的Ｘ光激光研究提供了较重要的数据。