水平式电感耦合高频等离子体光源的研制

所谓水平式ICP光源,是相对于竖直式而言的。竖直式ICP光源是指等离子体炬管及产生的等离子体焰的轴心与摄谱仪的光轴垂直。目前国内外所应用的ICP光源都是这种型式。水平式ICP光源系指等离子炬管及产生的等离子体焰的轴心与摄谱仪的光轴在一直线上。有关水平式ICP光源的报导很少,仅将该问题作为“展望”提了出来,国外近年来也偶见有关报导,谓之“端视法”。我们于1979年完成了该项研究,并开始应用于生产。实践证明,水平式ICP光源性能较为稳定,降低了光谱背景,有效地降低了元素的检出限。     

ICP-AES法用于低合金钢中多元素的同时测定——内标应用的初探

钢铁中多元素同时测定以往多采用块状样品,以火花、电弧光源激发或用直流电弧粉末法进行分析。这些方法用的标准样品制备不易,干扰复杂。应用 ICP-AES 法则可溶解屑状钢铁样品,制成溶液用于分析。ICP 光谱法具有标准样品制备简便;一套标准样品可适应不同钢种的多元素分析;对分析样品的重量、物理状态、均匀性等无严格要求;对样品溶液     

电感耦合等离子体光源中去溶效应的探讨

本文报导了ICP光源中的去溶效应。通过对杂质元素在去溶装置(加热室和冷凝器)中损失量的直接测定,统计观察了十三种杂质元素的去溶损失率与去溶温度,溶液介质,酸度以及与溶液中基体物质的关系,得出了相应的结论。     

ICP-AES测定镁合金中的痕量Zr、Fe、Ni

用ICP－AES同时测定了镁合金中痕量Zr,Fe,Ni等杂质元素，不采用基体匹配法，研究了基体元素和共存元素对分析元素的光谱干扰，并进行了加入回收试验，精密度试验和方法检出限的测定。方法准确可靠，简便快速。     

电感耦合等离子体(ICP)发射光谱法测定岩石中钙、镁、铝、铁、锰、钛

一、前言电感耦合等离子体(ICP)光谱分析是七十年代初引进我国的新技术,它具有检出限低、重现性好、基体影响小、能同时测定多种元素等优点,近年来已在冶金、地质、生物和环境保护等领域中得到了广泛的应用。岩石中钙、镁、铝、铁、锰、钛造岩元素的分析,目前通常是采用容量法、比色法等,这些方法准确度高、精密度好,但是测定速度慢,劳动强度大,成本高。本法引入ICP光源,用仪器分析代替繁琐的化学手工操作。样品经简单化学处理后,一次摄谱同时测     

ICP-AES法测定铁钕合金中主量元素钕及7种杂质元素的研究

用ICP－AES法同时测定了铁钕合金中主量元素钕及Al、Si、Mn、Cr、Mg、Zr、Ca等7种杂质元素。研究了基体元素铁、主量元素钕对杂质元素的光谱干扰,选择了合适的分析线和内标线,测定了分析方法的检出限,回收率为87％－113％。方法准确、快速、简便,结果令人满意。     

摄谱比较法测定钢中杂质铬、镍

目前机械工厂在分析钢中杂质 Cr、Ni 时,大部分采用摄谱测量法、看谱法或化学法。本文提出的摄谱比较法是综合了摄谱测量法和看谱法的优点,即利用在中型摄谱仪上以交流电弧作光源摄谱分析钢中其它合金元素时同时摄下杂质 Cr、Ni 分析线组,然后进行强度评     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯铼酸铵中Ca、Cd、Mn、Fe、Mg、Al、Cu、Co、Mo、Pb、Sn和Ni

本文介绍了电感耦合等离子体发射光谱法（ICP－AES）测定高纯铼酸铵中12个杂质元素的方法。采用挥发健康基体，探讨了高铼酸铵基体的干扰及其消除办法。ICP－AES测定结果的准确度和精密度均能满足分析要求。     

正丁醇对电感耦合等离子体发射光谱的增敏作用

研究了ICP光源中正丁醇对水样品溶液物理性质(表面张力、粘度)及雾化特性的影响,观测了元素Fe、Si、V和Sr的发射强度和信背比,并且用ICP发射光谱法测定了自来水中痕量元素Pb和Cd.结果表明,有机溶剂正丁醇能够改变试液物理性质,提高雾化效率,增强光源辐射强度;元素Pb和Cd的RSD分别为5.84%和7.41%,回收率分别为94.3%和92.7%.     

ICP-AES测定铁钕合金中Ho、Er、Tb、Tm、Cu、Mo、Nb等7种杂质元素

采用ICP－AES法同时测定了铁钕合金中Ho、Er、Tb、Tm、Cu、Mo、Nb等7种杂质元素。研究了基体元素铁、主量元素钕、镝、钴、硼对杂质元素的光谱干扰情况；选择了合适的分析线；测定了分析方法的检出限。加入回收率为90．0％－108．0％。方法准确、快速、简便。     

ICP-AES测定Nd-Pr合金中的杂质元素

用ICP－AES同时测定了Nd-Pr合金中的Dy、Gd、La、Sm、Ce等5种稀土杂质元素，并研究了基体元素Nd及主量元素Pr对杂质元素的光谱干扰，选择了合适的分析线，用基体匹配法对存在的背景干扰进行了校正。方法的检出限为0．009－0．044μg/mL；回收率为90％－103％。该方法准确可靠、简便快速。     

ICP-AES法测定金属钙中多种杂质元素的含量

本文叙述了一种适合于较浓溶液的进样——去溶装置,考察了ICP光源主要工作参数对谱线黑度差的影响,观察了ICP光源中的基体效应和共存元素的干扰,为金属钙中杂质元素的测定选择了折衷工作条件。钙无需分离,方法简便、快速。方法的检测范围对Mg:50—5000ppm;Al:30—3000ppm;Na:16—1600ppm;Si、Fe、Cr、Ni:10—1000ppm;Cu、Mn:3—300ppm,方法的相对标准偏差为4—10％,回收率为92—104％。     

高纯La-Ni-Al合金成分及杂质元素的分析方法研究

叙述了镧－镍－铝（La-Ni-Al)合金分镍、铝及微量杂质元素锌、铁、锰、镁、硅、铜和钙的ICP－AES测定方法。样品以HNO3（1＋1）溶解,稀释后直接测定主量元素镍和铝;用基体匹配法补偿基体效应测定其他杂质元素。各元素回收率在95％－106％,相对标准偏差优于5％。     

分子筛和担体中主含量元素和杂质元素的同时测定

本文研究了用微波消化试样，ICP－AES法同时测定分子筛及担体中的主含量元素Si、Al和杂质元素Fe、Na、Ca、Mg的方法。相对标准偏差：Si、Al＜2％，Fe、Na、Ca、Mg≤4％，杂质元素回收率为97％－107％。方法快速，简便、准确，可靠。     

ICP-AES测定铝合金中Mg、Be、Mn、Mo、Fe、Ti、Si和Zn

采用ICP-AES同时测定铝合金中合金元素和杂质元素,优化ICP光谱仪的工作条件,测定回收率96%—106%,RSD0.28%—6.26%,结果令人满意。     

ICP-D型高频等离子体光源

ICP光源,具有检出限低、精密度好、抗干扰能力强、动态范围宽、基体效应小及不用电极避免污染等优点。从而得到了国内外光谱分析工作者广泛重视。近几年来,国内广大光谱分析工作者在ICP—摄谱法上作了大量工作,同时也感到从国外引进的等离子体直读光谱仪中的光源,稳定性和直观性方面优于国内的等离子体光源。很希望国内的ICP光源提高稳定性。为此,我们于八○年开始进行了ICP-D型高     

端视ICP-AES测定铀化合物中的40种微量杂质元素

本文叙述一种用TEHP(磷酸三辛酯)—Kel-F(聚三氟氯乙烯粉)反相分配色层使铀与微量杂质元素分离,用端视ICP—AES测定多种铀化合物中共计40种微量杂质元素的分析方法。该方法,在取样200mg和选定的端视ICP条件下,能一次同时测定40个元素。在重加回收中,除Ta和Mo的回收率稍差外,其余元素的回收率是84—118%,大多数元素的测定精密度(RSD)<±10%,考核结果令人满意,实际样品分析与其它方法分析结果基本相符。并作了Fe、Na、Ca的干扰实验。     

ICP-AES在高纯稀土氧化物分析中应用的研究Ⅶ——ICAP9000多道光谱仪用于15个稀土杂质元素同时测定的评价

前言ICP光量计(多道光谱仪)在高纯稀土氧化物分析中的应用的报导还较少,本文将在以前摄谱分析法工作的基础上,对ICAP9000型多道光谱仪的稀土通道用于La_2O_3、CeO_2、Pr_6O_(11)、Nd_2O_3、Sm_2O_3、Y_2O_3等高纯稀土氧化物或它们的杂质富集物中15个稀土杂质元素同时测定的能力(主要是校正光谱干扰效应的能力及对各稀土杂质元素的检出能力)进行评价。     

ICP-AES测定高纯氧化钽中13种杂质元素

本文提出了基体匹配校准曲线，ICP－AES法直接测定高纯氧化钽中13种杂质元素的分析方法，并考察了光谱干扰以及基体效应的影响，确定了仪器最佳工作条件。结果表明：各元素的测定下限分别小于或等于0．0005％；相对标准偏差为1．8％－11．3％；回收率为92％－108％。     

高纯氧化钆中非稀土元素的发射光谱测定

随着科学技术的发展,高纯稀土的应用日益广泛。氧化钆作为固体发光材料的基质,含有微量杂质元素则明显影响其发光性能,有些元素甚至使荧光猝灭。因此检测高纯氧化钆中的微量杂质元素含量是很有实际意义的。国内外对于氧化钆中非稀土元素的光谱法测定的研究工作不多。В.И.Кочина等报导以Ga_2O_3为载体测定了Gd_2O_3中11个微量元素。本文是用原子发射光谱法测