高纯氧化钆中非稀土元素的发射光谱测定

随着科学技术的发展,高纯稀土的应用日益广泛。氧化钆作为固体发光材料的基质,含有微量杂质元素则明显影响其发光性能,有些元素甚至使荧光猝灭。因此检测高纯氧化钆中的微量杂质元素含量是很有实际意义的。国内外对于氧化钆中非稀土元素的光谱法测定的研究工作不多。В.И.Кочина等报导以Ga_2O_3为载体测定了Gd_2O_3中11个微量元素。本文是用原子发射光谱法测     

高纯氧化镧中稀土杂质的化学光谱分析

采用pH5.0和浓度为0.28M的α-羟基异丁酸为淋洗剂,强酸性阳离子交换色层法,分难富集高纯氧化镧中的14个稀土杂质元素。分离可在11小时内完成。稀土杂质富集物用复合载体 CsCl-聚氯乙烯碳粉吸附,发射光谱分析。加入回收实验的平均回收率为86～119％。此法可用于纯度为99.9995％的高纯氧化镧分析。     

高纯氧化镨中非稀土元素的原子发射光谱测定

本文以NaCl为载体,In为内标直流电弧激发直接光谱法测定高纯氧化镨中Sn、B、Cr、Sb、Bi、Mn、Co和Pb等,比较了在不同气氛中载体对上述杂质元素测定的影响。各元素的最低测定浓度为5×10~(-5)％～5×10~(-4)％。     

微量稀土元素光谱分析的载体研究——钡化合物载体作用

用发射光谱分析高纯稀土氧化物,因直接光谱法的灵敏度较低,或者因基体稀土元素的谱线复杂,干扰严重,需要用化学方法分离基体元素,然后将稀土杂质富集物用碳粉吸附进行光谱分析。在用发射光谱分析植物中的微量稀土元素也往往预先经炭化处理。因此较系统     

载体对氧化钇中微量非稀土元素谱线强度的影响

本文研究了14种载体对高纯Y_2O_3中12个非稀土杂质元素的谱线强度的影响。结果是有碳粉存在时,载体效应不明显;无碳粉存在时_载体效应显著,载体能使杂质元素的谱线强度大大增强,其中以LiCl、BaCl_2、AgCl的效果较好。以LiCl为载体时杂质元素的检出限在0.06—8.5ppm范围内。     

ICP—AES摄谱法测定纯氧化铽中的稀土杂质

本实验建立了以国产ICP-AES摄谱仪测定高纯氧化铽中十个稀土杂质氧化物的分析方法,其测定下限总浓度为0.145%,回收率为89～107%,对国内稀土产品分析及控制具有实用意义。     

微量稀土元素光谱测定的研究

近年来,由于高纯稀土氧化物在发光材料、磁性材料等方面的应用和研究工作逐渐增多,因而不仅对稀土氧化物纯度分析提出了很高的要求,而且要求分析的杂质元素的数目也不断增多。对于纯度高于99.99％的稀土氧化物中稀土杂质的测定,或者对于纯度在9.99-99.99％左右的谱线复杂的稀土氧化物分析,直接光谱就难以满足要求,而需要籍助化学富集和分离。为了提高分析灵敏度及准确度,许多作者进行载体作用等方面的研究。Y.Osumi在测定Eu_2O_3Y_2O_3和Nd_2O_3中的稀土杂质分析时,对载体的选择和使用进行了许多工作。研究了NaCl作载体时,对稀土元素谱线强度的影响并对其机理进行了探讨。为了配合氧化镧化学光谱分析,本文对分离了基体前后,微量稀土元素光谱测定中第三元素的影响,基体效应以及载体的使用等方面进行了初步研究。     

溴化物载体对碳粉中痕量稀土元素谱线强度的影响

在稀土元素光谱分析中,常应用载体来提高检出能力和准确度。Y.Osumi以AgF～Ga_2O_3、CsCl-石墨粉为载体,分别测定了氧化钇、氧化铕和氧化钕中的痕量稀土,并对其作用机理作了详细的研究。实验结果表明,载体使稀土元素的谱线强度增强,其原因是载体提高了稀土杂质的蒸发速率;同时使弧焰温度下降,因而减小弧焰中质点扩散速度,延长其停留时间,总结果是等离子区中稀土杂质的浓度增加。研究了以NaCl为载体,对碳粉富集物中稀土的谱线强度影响,也得出