探讨稳态法实验中的绝热问题

本文利用付立叶导热方程式 ,分析了导热系数测定仪在绝热问题上出现的漏洞与在制造上存在的缺陷 ,由此提出被测样品的侧面必须经过绝热处理 ,才能提高测量精确度的结论     

细截面金属丝的线胀系数的测定

各种材料的金属丝在市场上容易购得，所以本线胀系数测定实验采用细截面金属丝．实验装置如图１所示．在待测金属丝上用刀刃压出两个痕迹，测量出两压痕间距ｌ，然后该金属丝的一端固定在玻璃管下端橡胶塞上，另一端穿过玻璃管，玻璃导管和滑轮与砝码相连．砝码的作用是使玻璃管内的金属丝保持直线状态，因此砝码的重力尽可能小一些为宜，所加砝码量能使金属丝保持直线即可．在未通恒温水时，用温度计测出玻璃管内的温度Ｔ１，用移测显微镜测量两压痕位置Ａ１，Ｂ１．然后接通恒温水，待温度稳定后测出玻璃管内的温度Ｔ２和两压痕的位置Ａ２…     

比重瓶测固体密度影响实验结果的因素

本主要介绍了在用比重瓶测定不规则小粒固体密度时,影响实验结果的几个因素,并分析和讨论了诸因素对实验结果产生的误差大小。     

纳米TiO_2薄膜的带宽研究(英文)

利用磁控溅射方法制备了纳米TiO2 薄膜,通过Raman光谱和UV Vis光谱讨论了TiO2 薄膜的带宽随着厚度变化的规律。随着薄膜厚度的增加,TiO2 薄膜的带宽变窄,这是由于纳米薄膜的纳米效应所致     

金刚石对顶砧中触点位置误差对样品电阻率测量精度的影响

利用有限元分析方法,研究了金刚石对顶砧中电极与样品接触点位置变化对范德堡法测量样品电阻率精度的影响.结果表明:当电极中心与样品边缘的间距b≤d/9(d为样品直径)时能得到精确的电阻率测量结果;当电极位置远离样品边缘而逐渐接近样品中心时,其位置变化对电阻率测量精度的影响迅速增大;相同的电极位置变化对具有较大电阻率的半导体样品电阻率测量精度的影响更明显. 关键词： 电阻率 有限元方法 金刚石对顶砧     

Field Emission Characteristics of BN Films Treated with H2 and O2 Plasma

BN films were synthesized on the (100)-oriented surface of n-Si (0.008-0.02Ωm) by rf magnetron sputtering physical vapor deposition (PVD). A BN film was first treated with H2 plasma for 60 rain and then the H2 treated sample was treated with O2 plasma for 15rain. The films were characterizes by using Fourier transform infrared spectra (FTIR) and atomic force microscopy (AFM). The field emission characteristics of BN films were measured in an ultrahigh vacuum system. A turn-on electric field of 8 V/μm and a current of 400μA/cm^2 were obtained for the BN film treated with H2 plasma. The results show that the surface plasma treatment makes no apparent influence on the surface morphology of the BN films. The transformations of the sample emission characteristics have to do with the surface negative electron affinity (NEA) of the films possibly. The turn-on electric field of the BN film treated with H2 plasma is lower than that without treatment, which possibly attributes to the surface NEA effect. The surface NEA of the H2 treated BN film is lost after O2 plasma treatment.     

两条互靠直导线间的磁场力测定

两条互靠直导线间距微小，不易测准，本文介绍了一种用衍射法测定两条互靠长直导线间距的方法，并由此求出它们之间的磁场力大小。     

变焦距镜头最佳像面位移的调整

通过移动变倍组和补偿组，在保证所要求的变焦倍率的同时，考虑高级像差对最佳像面的影响，调整各组之间的间隔，使之尽量符合各焦距最佳像面的位移变化，最终达到在各种焦距位置时对高斯像面的严格一致。     

用干涉条纹重迭法测量晶体双折射率差

本介绍用干涉条纹的重叠法测量晶体双折射的过程。此方法是在D．F．Heller先生的基础上，用干涉条纹取代光机的Tallbot像，主要优点是条纹的对比度好。