用XRF微探针研究掺杂元素锗在单晶硅中的分布

用同步辐射及Ｘ光管激发Ｘ射线荧光微区分析技术研究了单晶硅中掺杂元素Ｇｅ的定性分布，为半导体材料中掺杂元素行为的研究提供了一种新的方法。     

关于X射线荧光光谱中MnKβ1,3谱线位移的探讨

本文研究了带有3d电子的过渡元素锰Kβ1.3发射谱线。采用PW1400型X射线荧光光谱仪测量金属锰及其化合物中MnKβ1,3的谱线相对位置。用简单的分子轨道理论解释了谱线位移的大小和方向。谱线位移与化学键及价态有关,根据谱线位移可以进行价态分析。     

基本参数法和经验系数法相结合的软件开发及其应用

本文概要叙述了对引进的美国海军研究实验室X射线荧光分析程序(称NRLXRF程序)的开发和应用情况。本工作对该程序的基本结构、主要功能、调用方法及进行未知试样分析时的主要步骤等,作了探讨性的开发,並在此基础上将其应用于超导薄膜、高温合金膜、高温合金钢、钛白等试样的分析,效装较好,可满足工艺分析的要求。对多元复杂体系的稀土、水泥试样作了较广泛的分析对照,为实现单标样或少标样进行X射线荧光分析,开辟了一个很好的途径。     

X射线荧光光谱分析中经验系数的求取及其在镍矿贫矿分析中的应用

本文编制的XRFB-15计算程序。是采用BASIC语言设计的。其中存放九种模式的校正元素间影响的方法,有利于进行比较。并能按照不同的情况选择其中最为适宜的一种模式。同时提出了一个新的强度型有色数模。     

国外X射线光谱分析近况

X光谱法如今已成为一种很重要的仪器分析法。近年来文献俱增,应用范围不断扩大。自70年代以来,其进展大致归纳如下几点。首先波长色散X光谱法在仪器分析中占有了一个重要的位置。包括吸收增强效应,粒度效应以及表面结构效应在内的基体影响,大部分可用各种数学校正的办法得到解决。各种间接的分析方法把X光谱法的适用范围几乎扩大到整个周期表。新颖的多道X光谱仪在1～2分钟内可同时测量30个元素,还能对多达60个样品有条不紊地进行自动分析。     

第三届全国X射线荧光光谱分析学术报告会在黄山市召开

由中国地质学会和中国光谱学会共同举办的第三届全国XRFA学术报告会于1988年10月17日至22日在安徽黄山市举行。会议收到论文69篇,大会交流的论文共有52篇。到会代表共86人。会议分大会报告和分组报告进行,论文的质量从深度和广度方面都有所进展,水平有所提高。大会报告反映了近两年来我国X射线荧光光谱分析的进展;概况地介绍了第37届丹佛