基本参数法和经验系数法相结合的软件开发及其应用

本文概要叙述了对引进的美国海军研究实验室X射线荧光分析程序(称NRLXRF程序)的开发和应用情况。本工作对该程序的基本结构、主要功能、调用方法及进行未知试样分析时的主要步骤等,作了探讨性的开发,並在此基础上将其应用于超导薄膜、高温合金膜、高温合金钢、钛白等试样的分析,效装较好,可满足工艺分析的要求。对多元复杂体系的稀土、水泥试样作了较广泛的分析对照,为实现单标样或少标样进行X射线荧光分析,开辟了一个很好的途径。     

离子交换纸搜集-X射线荧光光谱法测定高纯氧化铕中的轻稀土元素

X射线荧光光谱法不仅是测定常量稀土元素分量的一种行之有效的手段,而且对微量以至痕量稀土元素的测定也是可能的,尤其是测定轻稀土元素更为有效。若与化学分离相结合,其应用范围更加扩大,测定下限一般在ppm级,已有这方面的报导。本文以高纯氧化铕为分析对象,经离子交换分离后的轻稀土元素富集液,采用国产离子交换纸搜集制样,分别进行X射线荧光光谱测定,取得了良好的效果。     

X射线荧光光谱法在稀土元素分析中的应用

本文研究了Ｘ射线荧光光谱在混合稀土氧化物和高纯稀土氧化物分析中的应用，并探讨了在常量分析中影响分析准确度和精密度的主要因素；样品及标样制备，基体效应校正方法在痕量分析中降低检测限的方法，选择最佳测量条件，降低背景，与分离富集手段相结合，取得满意的结果。     

白银制品中银含量的能量色散X射线荧光光谱无损检测

用放射性同位素源激发小型能量色散Ｘ射线荧光；光谱仪对银饰品、餐具、摆件中的银含量进行无损快速宣测定，在银含量为１０．００％～９９．９％扣范围内，测定精度和准确度均能满足实际检测误差要求。测定结果与大型的波长色散型Ｘ射线荧光光谱仪一致。     

高纯Eu2O3中稀土杂质的化学—X射线荧光光谱法测定

采用锌粉还原-P507萃淋树脂分离和富集高纯Eu_2O_3中的稀土杂质,用盐酸洗脱,NH_4OH沉淀、过滤制片后,用X射线荧光光谱法测定试样中14个稀土杂质。选择了该法制片和测定的各项条件。研究表明该法用基体铕作载体,省去了外加载体并简化了氧化物灼烧过程,且该法大部分稀土元素的测定下限为1μg,回收率为80～120％,变异系数优于14％。     

X-荧光α系数法测定稀土氧化物中15个稀土元素

采用粉末稀释直接压片,在PW1400顺序式X-荧光光谱仪上测定了 15个稀土元素。通过电子计算机采用干扰系数扣除严重的谱线干扰,应用α系数校正复杂的基体效应,取得满意的结果。本文研究重点是选择了最佳仪器测量条件;测量出元素间的干扰系数及校正了背景影响;比较了三种基体校正数学模型的效果。分析精度:当含量小于2％时,优于 5％;含量大于2％时,优于?2％。分析速度较文献[5]提高三倍。