掺杂的Bi4Ge3O12晶体的近红外发光性能

生长了Mg、Ca离子掺杂(提拉法)和Cl离子掺杂(坩埚下降法)的Bi₄Ge₃O₁₂(BGO)晶体,测试了晶体样品的吸收谱、光致发光谱和发光衰减时间等。这些掺杂的BGO晶体的可见光发光比纯BGO有所减弱,但在808 nm和980 nm激光二极管(LD)激发下出现了纯BGO几乎没有的近红外发光,归因于改变了能级的Bi离子或可能出现的低价态Bi离子。掺杂对近红外发光的影响跟掺杂离子价态有关,同价态的掺杂离子对近红外发光的影响相差不大。     

退火处理对W:Bi4Ge3O12和Bi12GeO20晶体发光性能的影响

通过提拉法制备了W:Bi4 Ge3 O12和Bi12GeO20晶体,测试了晶体的吸收光谱、光致发光谱和发光衰减时间等.W:Bi4 Ge3 O12的可见光发光强度比纯Bi4 Ge3 O12有所增强,而且N2中退火处理对W:Bi4Ge3O12发光有进一步增强作用.Bi12GeO20在N2中退火处理后在745 nm附近有发光...     

电子束辐照诱导Bi:α-BaB2O4 单晶近红外宽带发光的研究

用提拉法技术生长出了Bi:α-BaB₂O₄单晶,并进行电子束辐照.测定了电子束辐照前后的吸收谱和荧光发射谱.在808 nm波长激光二极管的激发下,电子束辐照后的Bi:α-BaB₂O₄单晶中观测到了中心波长在1135 nm附近、半高宽为52 nm左右的近红外宽带发光现象.近红外宽带发光的发光中心是Bi⁺离子.电子束射线起到了将Bi³⁺和Bi²⁺还原至一价态 关键词： 近红外宽带发光 2O₄单晶')" href="#">α-BaB₂O₄单晶 电子束辐照     

红色Bi4 Ge3 O12晶体在低温下的发光性能

用下降法制备了Bi₄Ge₃O₁₂晶体,发现生长出来的圆柱状晶体外侧呈现淡红色。对红色Bi₄Ge₃O₁₂晶体进行了低温(至8 K)下的近红外发射光谱及衰减寿命等测试分析。发现低温时(200 K以下)红色Bi₄Ge₃O₁₂在1 150 nm等波长处有较强的发射峰,强度随温度降低而增强,衰减时间为几百μs。