非静水压下HMX炸药晶体的高压相变

HMX是一种性能优良的高能炸药,在武器工业中广泛使用。目前,HMX在高压下特别是非静水压下的相变规律仍存在争议。为此,采用不同的传压介质,开展了非静水压下HMX晶体的高压拉曼实验研究。结果表明,HMX晶体分别在4.9、13.9和17.5 GPa发生了结构相变。在13.9 GPa下,HMX开始发生相Ⅱ→相Ⅲ的相变,并在一定的压力范围内两相共存;当压力为17.5 GPa时,出现另一个新相(相Ⅳ),在17.5～23.6 GPa的压力范围内出现相Ⅱ、相Ⅲ和相Ⅳ三相共存现象。HMX晶体在非静水压下的相变路径与准静水压下的相变路径完全不同,非静水压环境下的压力梯度是造成该差异的原因。     

第2届全国大学生物理实验竞赛试题的解答与考试评析(续)

<正>3综合性、研究性试题的解答与评析第二届全国大学生物理实验竞赛的综合性、研究性试题为"磁光效应的研究"和"磁流体性质的研究"两题.目的是综合考察考生对不同物理实验手段的理解、掌握水平和综合分析应用能力.各代表队由2人合作完成,时限8h.3.1试题1磁光效应的研究(时限4h)3.1.1引言磁流体是指磁性纳米颗粒在表面活性剂进行包覆或改性后,均匀分散到载液中,形成稳定的胶体溶液.外加磁场时,磁流体中的磁性微粒会顺     

单银基低辐射玻璃的光热性能

介绍了单银基低辐射玻璃的镀膜方式与结构,并研究了样品的光热性能.结果表明:低辐射玻璃在可见光波段透射率较高;在中远红外波段反射率较高,有效阻止了热量的透过.因此低辐射玻璃既可以保证采光,又可以阻止热量透过,起到了节约能源的效果.     

Temperature Dependence of Luminescence of CdS：Mn/ZnS Core-Shell Quantum Dots

Luminescence intensity of CdS：Mn/ZnS core-shell quantum dots （QDs） can be strongly enhanced in comparison with bulk CdS：Mn and nanoparticles, while the luminescence due to the surface state is greatly suppressed by a capping ZnS shell We find that with the increasing temperature, the peak position of CdS：Mn/ZnS core-shell QDs blue shifts due to the reduction of phonon coupling. Unlike the bulk CdS：Mn, the luminescence of the core-shell QDs is less sensitive to thermal quenching.     

基于NaYF_4:Yb~(3+),Er~(3+)上转换发光材料的色彩设计

采用共沉淀法制备β-NaYF4:Yb3+,Er3+。X射线衍射图谱结果表明退火有利于β相生长。样品在970nm处有一强烈吸收峰,利用980nm激光激发样品,实现红、绿、蓝三色上转换发光;其中蓝光相对较弱,红、绿光的发射峰分别为521,539,659nm。速率方程表明红、绿发射对应跃迁均是双光子过程,实验结果与理论分析相符。此外,对红、绿发射带面积比的研究表明激发功率和Yb3+掺杂量影响发光颜色;进而可实现简便的色彩设计。     

高温高压下高能钝感炸药TATB物性及相关实验技术研究进展

1,3,5-三氨基-2,4,6-三硝基苯(TATB)作为典型的高能钝感炸药之一,在民用、军工等领域具有重要的研究价值。基于科学挑战专题,分别从实验技术和实验成果两方面详细概述了极端条件下TATB的物性研究进展,系统介绍了课题组自主设计和搭建的光谱测试系统和高温高压仪器装置,以及TATB在高压下的光吸收和结构演化规律。另外,还对低温环境下炸药的结构稳定性、高温环境下炸药的热稳定性以及压力参量对样品化学分解进程和热分解机制的影响进行了阐述和讨论。     

Thickness dependence of the optical constants of oxidized copper thin films based on ellipsometry and transmittance

Thin oxidized copper films in various thickness values are deposited onto quartz glass substrates by electron beam evaporation. The ellipsometry parameters and transmittance in a wavelength range of 300 nm–1000 nm are collected by a spectroscopic ellipsometer and a spectrophotometer respectively. The effective thickness and optical constants, i.e.,refractive index n and extinction coefficient k, are accurately determined by using newly developed ellipsometry combined with transmittance iteration method. It is found that the effective thickness determined by this method is close to the physical thickness and has obvious difference from the mass thickness for very thin film due to variable density of film.Furthermore, the thickness dependence of optical constants of thin oxidized Cu films is analyzed.