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2.
在密度泛函理论的框架下,采用广义梯度近似(GGA)研究了KB_n(n=1-9)团簇的基态几何结构,系统计算了平均结合能Eb、二阶能量差分△2E、劈裂能D(n,n-1)、最高占据轨道(HOMO)与最低未占据轨道(LUMO)之间的能隙,研究表明:KB_n(n=1-9)团簇,随着团簇尺寸的变化,其稳定性逐渐增强,其中KB_3和KB_5为幻数团簇;KB_n(n=1-9)团簇的能隙随团簇总原子数的增加呈现振荡变化,态密度分析得到能隙振荡变化的原因是团簇带隙的差异. 相似文献
3.
4.
A new Eu(Ⅲ) complex, {[Eu(tta)2(C2H5OH)(NO3)]2(bmp)}·bmp(tta = 2-thenoyltrifluoro- acetonate, bmp = 2,2'-bipyrimidine), has been synthesized and characterized by elemental analysis, IR, luminescence and single-crystal X-ray diffraction analysis. The complex crystallizes in the monoclinic P21/n space group, with a = 11.894(6), b = 14.235(8), c = 19.078(10) , β = 103.423(9)o, V = 3142(3) 3, Z = 2, Mr = 1721.10, Dc = 1.819 g/cm3, F(000) = 1696, the final R = 0.0452 and wR = 0.1398 for 5375 observed reflections with I 2σ(I). In the complex, each Eu(Ⅲ) ion is coordinated with four oxygen atoms from two tta ligands and two nitrogen atoms from a bmp ligand, three oxygen atoms from one NO3- anion and one ethanol molecule, forming a distorted tricapped trigonal prism geometry. Luminescence measurement indicates that the europium complex is a strong red emitter in the solid state at room temperature. 相似文献
5.
本文采用离子束溅射Bi/Te和Sb/Te二元复合靶,直接制备n型Bi2Te3热电薄膜和p型Sb2Te3热电薄膜.在退火时间同为1 h的条件下,对所制备的Bi2Te3薄膜和Sb2Te3薄膜进行不同温度的退火处理,并对其热电性能进行表征.结果表明,在退火温度为150 ℃时,制备的n型Bi2Te3关键词:
薄膜温差电池
2Te3薄膜')" href="#">Sb2Te3薄膜
2Te3薄膜')" href="#">Bi2Te3薄膜
离子束溅射 相似文献
6.
直接以氯金酸作为主盐、 羟基乙叉二膦酸(HEDP)作为镀液稳定剂和镀层细化剂、 结合添加剂, 组成亚硫酸盐无氰镀金新工艺; 研究镀液稳定性、 镀层形态及金电沉积机制。结果表明, HEDP可明显提升镀液稳定性;不含HEDP的亚硫酸盐镀金液中, 镀层呈棒状晶粒并随沉积时间延长而逐渐生长,导致镀层外观随镀层厚度增加由金黄色转变为红棕色。镀液含有HEDP时, 金晶粒形态由棒状转变为棱锥状, 且棱锥状晶粒随沉积时间延长生长速率较小, 镀层厚度为1 μm时仍呈现金外观。电化学实验表明金电沉积不经历成核过程。 相似文献
7.
8.
采用密度泛函理论B3LYP方法研究了单重态GeH2与HNCO的反应机理。在B3LYP/6-311++G**水平上对反应物,中间体,过渡态进行了全几何参数优化,通过频率分析和IRC确定中间体和过渡态,用QCISD(T)/6-311++G**方法计算了各个驻点的单点能。计算表明单重态的锗烯与异氰酸的反应有抽提氧、插入N-H键、抽提亚氨基的共七条反应路径。采用经Winger校正的Eyring过渡态理论分别计算了1个大气压、不同温度下反应势垒较低通道的热力学及动力学性质,结果表明插入N-H键反应(GeH2+HNCO→IM7→TS6→P2)通道在温度400K~1400K内,有较高的平衡常数和反应速率常数,为主反应通道,主产物为GeH3NCO。 相似文献
9.
采用离子束溅射技术制备了单层和双层Ge量子点, 通过原子力显微镜对比了不同Si隔离层厚度和不同掩埋量子点密度情况下表层量子点的尺寸和形貌差异, 系统研究了掩埋Ge量子点产生的应变对表层量子点的浸润层及形核的影响, 并用埋置应变模型对其进行解释. 实验结果表明, 覆盖Ge量子点的Si隔离层中分布着的应变场, 导致表层量子点浸润层厚度的降低, 从而增大点的体积; 应变强度随隔离层厚度的减小而增加, 造成表层量子点形状和尺寸的变化; 此外, 应变还调控了表层量子点的空间分布.
关键词:
Ge量子点
埋层应变
离子束溅射 相似文献
10.