硅酸盐类地质试样中少量、微量元素的X射线荧光光谱测定

近年来,国内外又有不少资料报导地质试样中少量、微量元素的X荧光光谱测定方法。本文在岩石中11个主元素测定方法的基础上,用同一熔融片进行微量元素的测定,避免了重新制备试样。另外还采用粉末压片以满足不需做主元素时对部分少量、微量元素的测定要求,降低了制样的成本。本文着重介绍适应PW1400软件功能的谱线迭次干扰校正和基体效应校正,制定了用两种制样方式,均能满足硅酸盐类地质试样中少量及微量铌、锆、钇、锶、铷、锌、铜、镍、钴、锰、铬、钒、钛、钡等测定要求的方法。     

X射线荧光光谱薄膜法测定多金属矿样中常量Pb,Zn,Cu,Fe,Mn

本文拟定了一个Ｘ射线荧光光谱薄膜测定常见铅、锌、铜、锰矿中０．２～ｘｘ％Ｐｂ、Ｚｎ、Ｃｕ、Ｆｅ、Ｍｎ的方法。实验考察了制片重现性和样品分解可靠性对本法结果的关键性影响，采用酸溶、钒作内标、Ｍｙｌａｒ膜制片测量。手续简便、方法精密度和准确性符合有色地质分析质量要求。