硅酸盐类地质试样中少量、微量元素的X射线荧光光谱测定 |
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引用本文: | 郑厚琳,靳新娣.硅酸盐类地质试样中少量、微量元素的X射线荧光光谱测定[J].分析试验室,1985(5). |
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作者姓名: | 郑厚琳 靳新娣 |
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作者单位: | 冶金部北京冶金地质研究所
(郑厚琳),冶金部北京冶金地质研究所(靳新娣) |
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摘 要: | 近年来,国内外又有不少资料报导地质试样中少量、微量元素的X荧光光谱测定方法。本文在岩石中11个主元素测定方法的基础上,用同一熔融片进行微量元素的测定,避免了重新制备试样。另外还采用粉末压片以满足不需做主元素时对部分少量、微量元素的测定要求,降低了制样的成本。本文着重介绍适应PW1400软件功能的谱线迭次干扰校正和基体效应校正,制定了用两种制样方式,均能满足硅酸盐类地质试样中少量及微量铌、锆、钇、锶、铷、锌、铜、镍、钴、锰、铬、钒、钛、钡等测定要求的方法。
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