| X射线荧光光谱薄膜法测定多金属矿样中常量Pb,Zn,Cu,Fe,Mn |
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| 引用本文： | 郑厚琳,吴名剑.X射线荧光光谱薄膜法测定多金属矿样中常量Pb,Zn,Cu,Fe,Mn[J].分析试验室,1994,13(1):74-77. |
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| 作者姓名： | 郑厚琳 吴名剑 |
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| 作者单位： | 中国有色金属工业总公司北京矿产地质研究所，中南工业大学化学系 |
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| 摘 要： | 本文拟定了一个Ｘ射线荧光光谱薄膜测定常见铅、锌、铜、锰矿中０．２～ｘｘ％Ｐｂ、Ｚｎ、Ｃｕ、Ｆｅ、Ｍｎ的方法。实验考察了制片重现性和样品分解可靠性对本法结果的关键性影响，采用酸溶、钒作内标、Ｍｙｌａｒ膜制片测量。手续简便、方法精密度和准确性符合有色地质分析质量要求。
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| 关 键 词： | XRFA 钒内标 多金属矿 矿样 铅 锌 |
Determination of Pb, Zn, Cu, Fe and Mn in Ores byThin Film X-Rau Fluorescence Spectrometry |
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| Zheng Houlin.Determination of Pb, Zn, Cu, Fe and Mn in Ores byThin Film X-Rau Fluorescence Spectrometry[J].Chinese Journal of Analysis Laboratory,1994,13(1):74-77. |
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| Authors: | Zheng Houlin |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | XRFA Mylar film Pb Zn Cu Fe and Mn determination |
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