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微分电位溶出分析法应用于金膜电极的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
本文介绍将微分电位溶出分析法应用于金膜电极,建立了相应的理论体系和应用条件。可使用的金膜厚度在1.8×10~(-7)~4.3×10~(-7)cm范围。检测限较原法降低近两个数量极。用本法测定花生乳中的铜,回收率在94~102%间。 相似文献
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本文提出电位溶出法作为一种测定金属在汞中的扩散系数的新方法。建立了该法的理论基础, 并用该法测定了10种金属在单一汞齐中的扩散系数和锌、镉在多元复合汞齐中的扩散系数。 相似文献
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本文以CysH为络合吸附剂,对Cu(Ⅱ)、Sn(Ⅳ)进行吸附电位溶出分析,获得了较高的灵敏度。着重研究了该体系的吸附性质、反应机理;进一步分析了几个体系的电位溶出行为,对吸附机理作了初步探讨。在此基础上提出了吸附电位溶出分析的必要条件,拟定了用电位溶出法测定半胱氨酸的新方法。 相似文献
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电位溶出分析法近年来有迅速的发展和广泛的应用,八十年代初开始的该法理论研究的进展不仅定量解释了实验事实,而且开拓了该法应用的新领域,本文报告悬汞电极电位溶出分析法的理论研究结果。 相似文献
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假定静止溶出过程受氧化剂在电极表面的极限流量控制,在静止30s以上的条件下,本文推导出悬汞电极静止电位溶出分析法理论公式,理论计算与实验结果基本相符。 相似文献
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