X-射线荧光光谱测定氧化铍中杂质元素

拟定了ＢｅＯ中１２种痕量杂质元素的Ｘ－射线荧光光谱测定方法,采用光谱纯试剂人工合成校准标样,粉末压块法制备分析样片。考虑到ＢｅＯ对Ｘ射线的透明性,在样片与样品盒支架之间垫置钼片消除试样盒发射线的干扰并产生附加激发以提高灵敏度。本文分析结果与等离子民发射和原子吸收光谱对照相吻合。     

X-射线荧光分析散射幂函数法原理及其应用I·RhKα相干散射平方法

本文发现6~40号元素对能量为20keV的X_射线的质量吸收系数和质量相干散射系数之间呈二次幂函数关系,并据此提出了X_射线荧光定量分析校正基体效应的新方法——RhKa相干散射平方法.用国家标准物质GBW对该原理进行了验证.本法用于硅酸盐地质样品中微量元素的测定取得令人满意的结果.     

SEM实验室局域网构建及数据的安全传输

针对扫描电子显微镜（SEM）实验室数据传输的问题,将局域网运用到SEM实验室中,对实验室现有设备进行局域网的组建,组建的局域网具有方便、快捷、提高工作效率且便于规范统一管理流程的优点．提出的方案可以应用于其它分析实验室多台仪器设备数据的传输．     

X7R型MLCC流延瓷膜显微结构的AFM研究

片式电容是由电介质陶瓷薄膜和内电极相互重叠而成的多层独石结构,又称多层陶瓷电容器(mul-tilayer ceram ic capacitors,简称MLCC)。具有体积小、内部电感低、绝缘电阻高及漏电流小、介质损耗低、价廉等优点,被广泛应用于各种电子整机中的振荡、耦合、滤波和旁路电路,尤其是高     

X—射线荧光光谱测定甜饮料中微量元素

本文提出了低温蒸干和炭化制样Ｘ－射线荧光分析甜饮料中１６种微量元素的方法，试样在电热板上经低温蒸干，于马旨炉中３００℃炭化３０ｍｉｎ，在液压样品成形机上压制成样片进行测定，所测元素不需用任何基体校正，由微机从校正曲线查得含量，榈分析结果与ＩＣＰ－ＡＥＳ和ＡＡＳ法相吻合。     

基于SEM的MLCC端电极焊接失效分析

针对多层陶瓷电容器端电极锡镀层的可焊性失效问题,运用扫描电子显微镜(SEM)分析了锡镀层的微观结构,并用能谱仪对其进行成分分析,找出了失效的主要原因:可焊性变差样品的端电极表面锡镀层出现因氧化产生的异常区域,以至于器件的可焊性变差.并通过后期的可焊性实验验证了分析的结果,找出了端电极焊接失效的原因,并提出了应对端电极氧化问题的改进措施.根据分析提出了改进意见,较好地解决了器件的焊接失效问题.     

X—射线荧光光谱测定甜瓜中矿质元素

报道了日本理学３０８０Ｅ３型Ｘ－射线荧光光谱仪在测定甜瓜样品旧和微量矿质元素中的的应用。以国家植物标准参考物质（ＧＢＷ）为校准标样，采用真空加热干燥法制备甜瓜样品，所得分析结果与ＩＣＰ－ＡＥＳ对照相吻合。     

X射线荧光光谱分析检出限计算公式

本文根据测量的统计误差理论,对XRFS分析中不同背景和基体校正方式下的检出限述一进行讨论并导出了相应的计算公式,所得结论可作为选择微量元素XRFS分析的背景和基体校正方法以及拟定最佳实验条件以获得最低检出限的理论依据。     

X-射线荧光光谱背景和基体效应综合校正公式

本文根据散射内标和公共背景法的有关理论,导出了两个X-射线荧光光谱分析校正方程,将背景、基体吸收和重叠干扰校正,以及校正曲线定量分析等多种运算合并进行,因而应用起来十分简便,两个方程在数学形式上与目前使用的X-射线光谱仪计算机程序中通用的数学模型相似,便于推广应用。