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1.
用新型氢化物发生喇叭口Ⅱ型同心雾化器替代Meinhard同心雾化器,溶液雾化为气溶胶和氢化物发生反应生成氢化物气体就可以在雾化系统中同时进行,选用L-巯基丙氨酸(L-cysteine)和硫脲(thiourea)作为基体铜的掩蔽剂,无需分离基体铜,实现了电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)同时测定纯铜样品中氢化物和非氢化物形成元素的目的。研究了酸度、NaBH4的浓度、载气流速及清洗时间对氢化物形成元素的影响,考察了铜基体对氢化物形成元素的化学干扰情况。用本方法测定了纯铜标准样品(NIST SRM400),结果令人满意。在1000mg/L纯铜样品溶液中,其氢化物形成元素As、Bi、Sb、Sn、Se和Te的检出限分别为0.08、0.15、0.10、0.17、0.21和0.23μg/L。 相似文献
2.
ICP—AES中内标法的应用研究:Ⅲ.用内标法校正基体干扰 总被引:13,自引:0,他引:13
通过观测基体对分析元素发射强度的干扰情况,分析了扰机制,从而确定用来正基体干扰的内村元素与分析元素的匹配条件。实验结果表明,只要选择合适的内标元素,可以校正基体干扰。 相似文献
3.
ICP-AES中内标法的应用研究 Ⅲ.用内标法校正基体干扰 总被引:1,自引:0,他引:1
通过观测基体对分析元素发射强度的干扰情况,分析干扰机制,从而确定用来校正基体干扰的内标元素与分析元素的匹配条件。实验结果表明,只要选择合适的内标元素,可以校正基体干扰。 相似文献
4.
采用回流冷凝技术,将电子电气产品中铝合金样品用稀盐酸加热溶解后,用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)同时测定电子电气产品铝合金中铅、镉、铬和汞,方法的检出限为0.001 8~0.019 mg.L-1,方法的回收率和精密度分别为92.3%~96.1%和0.16%~3.71%。 相似文献
6.
为评估食品接触用塑料中添加剂的迁移风险,采用超高效液相色谱-四极杆飞行时间质谱(UPLC-QTOF MS)建立了同时测定食品接触用塑料中50种添加剂迁移量的方法。以甲醇和0.01%(体积分数)甲酸-5 mmol/L乙酸铵溶液为流动相进行洗脱,采用目标离子采集(Target MS/MS)模式对目标物的一级离子与二级离子进行监测。结果表明,各物质在0.02~5 mg/L质量浓度范围内线性关系良好,方法检出限为0.01~0.1 mg/kg,加标回收率为92.6%~104%,相对标准偏差(RSD)为0.60%~8.4%。在20款实际样品中有12个样品检出塑料添加剂,其中2个样品检出壬基酚,迁移量为0.033~0.071 mg/kg;6个样品检出抗氧化剂1076和抗氧化剂168,迁移量为0.12~3.3 mg/kg;4个样品检出光引发剂369、光引发剂ITX和光引发剂TPO,迁移量为0.054~4.0 mg/kg。该方法简单、灵敏、准确,适用于食品接触用塑料中50种添加剂迁移量的检测。 相似文献
7.
8.
基于流体体积分数的混合型多流体数值模型,将Piecewise Parabolic Method(PPM)方法应用于可压缩多流体流动的数值模拟,采用双波近似求解多流体van der Waals状态方程的Riemann问题.模拟高密度比且含有激波的可压缩多流体流动,典型的纯界面平移问题模拟结果表明,在接触间断的界面附近,压力和速度没有任何的振荡且界面数值耗散都被控制在2—3个网格之内;一维和二维算例表明,该数值方法可以有效地处理接触间断、激波和多维滑移线等物理问题,并能够比其它多流体数值方法更精细地模拟多流体交界面. 相似文献
9.
建立了微波萃取/GC-MS法检测电子电气产品中多氯萘的方法。将破碎后的样品以甲苯为溶剂进行微波萃取,萃取液经硅胶小柱净化、平行蒸发定量浓缩后采用气相色谱-质谱法测定多氯萘的含量,外标法定量。优化了样品前处理条件,包括前处理方式、微波萃取溶剂、萃取时间,以及净化小柱的选择。对于8种含不同氯原子数的多氯萘,在1~50 mg/L范围内,线性关系良好,相关系数均大于0.995;方法定量下限为0.2~1.0 mg/kg,相对标准偏差为2.7%~7.2%,回收率为77%~112%。该法操作简便、分析迅速、结果准确,可以满足对电子电气产品中多氯萘的定性确证和定量分析。 相似文献
10.
本文讨论用MonteCarlo方法模拟ICP-AES中蒸发过程的理论依据和基本思想,得到了与发射强度密切相关的有用质量传输速率。 相似文献