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1.
本文用密度泛函理论(DFT)的总能计算研究了一氧化碳和氢原子在Ni(111)表面上p(2×2)共吸附系统的原子结构和电子态,结果表明CO和H原子分别被吸附于两个对角p(1×1)元胞的hcp和fcc位置.以氢分子和CO分子作为能量参考点,总吸附能为2.81 eV,相应的共吸附表面功函数φ为6.28 eV.计算得到的C—O,C—Ni和H—Ni的键长分别是1.19?, 1.96?和 1.71?,并且CO分子以C原子处于hcp的谷位与金属衬底原子结合.衬底Ni(111)的最外两层的晶面间距在吸附后的相对变化分别是 关键词: Fisher-Tropsch反应 催化作用 Ni(111) p(2×2)/(CO+H) 共吸附  相似文献   
2.
特别约定:满足1/a^2+1/b^2=1的椭圆x^2/a^2+y^2/b^2=1称为标准椭圆.以标准椭圆的中心为圆心的圆x^2+y^2=r^2称为标准椭圆的同心圆.  相似文献   
3.
本文并从磁通守恒方程出发,详细求导了Slab样品(厚度为d)交流磁化率的测量方程,并以MgB2为例,测量了在不同外场H和交流信号的频率γ交流磁化率,求得Ueff和J的关系实际上是满足Zeldov关系,实验结果和理论假设完全自洽.  相似文献   
4.
统一混沌系统的控制   总被引:31,自引:2,他引:29       下载免费PDF全文
陶朝海  陆君安 《物理学报》2003,52(2):281-284
对统一混沌系统建立了自反馈控制、错位反馈控制和自适应控制方法,在理论上给予严格证明,数值仿真表明这些方法是很有效的.还纠正了文献[10]的某些不足. 关键词: 统一混沌系统 反馈 自适应 控制 Routh-Hurwitz定理  相似文献   
5.
6.
Patterned silicon nanocrystallite (SINC) films were fabricated on (100) orientation p-type boron-doped sificon wafer by the hydrogen ion implantation technique and the anodic etching method. The efficient field emission with low turn-on field of about 3.5V/μm at current density of 0.1μA/cm^2 was obtained. The emission current density from the SiNC films reached 1mA/cm^2 under a bias field of about 9.1V/μm. The experimental results demonstrate that there are great potential applications of the SiNC films for fiat panel displays. A surface treatment with hydrogen plasma was performed on the SiNC films and a significant improvement of emission properties was achieved.  相似文献   
7.
带干扰的Erlang(2)风险模型的不破产概率   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文讨论了带干扰的Erlang(2)风险模型,通过构造一个延迟更新过程,我们得到了不破产概率满足的积分-微分方程,进而得到了不破产概率的明确表达式.  相似文献   
8.
讨论Lipschitz区域上Schrodinger方程的不连续边界值问题及其研究进展,给出Lp(p>1)边值问题和Hp(p<1)边值问题的位势理论.同时指出Besov-Sobolev边值、Orlicz边值等需要进一步研究的问题.  相似文献   
9.
在变缓冲层高迁移率晶体管(MM_HEMT)器件中,二维电子气的输运性质对器件性能起着决定作用.通过低温下二维电子气横向电阻的量子振荡现象,结合变温度的Hall测量,系统研究了不同In组分沟道MM_HEMT器件中子带电子迁移率和浓度随温度的变化关系.结果表明,沟道中In组分为0.65的样品,材料电学性能最好,In组分高于0.65的样品,严重的晶格失配将产生位错,引起迁移率下降,大大影响材料和器件的性能. 关键词: 变缓冲层高迁移率晶体管 Shubnikov_de Hass 振荡  相似文献   
10.
讨论Lipschitz区域上Schr dinger方程的不连续边界值问题及其研究进展 ,给出Lp(p >1)边值问题和Hp(p <1)边值问题的位势理论 .同时指出Besov Sobolev边值、Orlicz边值等需要进一步研究的问题 .  相似文献   
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